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X-熒光分析的固體材料的樣品制備
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本文由 北京博力飛科技發(fā)展有限公司 整理匯編
2007-07-27 00:00 232閱讀次數(shù)
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X-熒光分析的固體材料的樣品制備
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- 從大塊固體到高分子材料徠卡為您提供**的電鏡制樣方案伴隨著材料科學(xué)與生物技術(shù)的迅速發(fā)展,對樣品進(jìn)行微觀結(jié)構(gòu)的電子顯微學(xué)觀察逐漸成為科學(xué)研究的必備手段。為了獲得理想的電鏡觀察結(jié)果,制備優(yōu)良的掃描電鏡、透射電鏡的試樣成為至關(guān)重要的前提。徠卡顯微系統(tǒng)(LeicaMicrosystem)為廣大研究者提供了Z全面、應(yīng)用Z廣泛的電鏡樣品制備設(shè)備。較之于傳統(tǒng)的電鏡樣品制備方法,徠卡制樣系列具有效率高,智能化,易操作和多功能的特點(diǎn),能夠滿足現(xiàn)代科學(xué)研究在省時省力,經(jīng)濟(jì)實(shí)惠方面的要求。詳情請來電咨詢:0371-63879113,或hnrccn#126.com。[詳細(xì)]
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