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單顆粒ICP-MS測定鐵納米粒子:利用通用池技術(shù)消除光譜干擾

本文由 上海科學(xué)儀器有限公司 整理匯編

2018-08-17 10:00 464閱讀次數(shù)

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隨著納米顆粒興趣的增加,各種測試方法正被應(yīng)用。采用單顆粒模式電感耦合等離子體質(zhì)譜法(SP-ICP-MS)分析金屬納米粒子成為Z有前途的技術(shù)之一。由于其高靈敏度、易用性和分析速度快等特點,ICP-MS是一種理想的技術(shù),用于檢測納米顆粒的特性:無機(jī)成分、濃度、尺寸大小、粒度分布和聚集等。ICP-MS分析挑戰(zhàn)之一為干擾導(dǎo)致錯誤的分析結(jié)果。然而,這并非是一個問題,因為迄今為止大多數(shù)SP-ICP-MS應(yīng)用均沒有涉及到基體干擾或常規(guī)光譜干擾問題。例如,金和銀納米粒子在工業(yè)中應(yīng)用較廣,未受到常規(guī)干擾。另外,大多數(shù)納米顆粒存在簡單基體中,該基體幾乎不產(chǎn)生干擾。隨著納米技術(shù)領(lǐng)域的拓展,分析需求增加,尤其是需要測定納米顆粒中受干擾的元素,如擴(kuò)展為其它受干擾的金屬納米粒子,如鈦,鉻,鋅或硅。例如,由于零價鐵納米(ZVI)顆粒具有獨(dú)特的化學(xué)特性和相對大的比表面積,使之更廣泛應(yīng)用于環(huán)境修復(fù)項目中。由于他們獨(dú)特的性質(zhì),ZVI納米粒子具有以下作用:去除有機(jī)溶劑中氯,轉(zhuǎn)化肥料中有害化合物,降解殺蟲劑和固定金屬。然而,為監(jiān)測ZVI顆粒,鐵需被測定,因為存在基于等離子體產(chǎn)生的信號ArO+對同樣質(zhì)量數(shù)(56)鐵的Z高豐度同位素(56Fe+豐度91.72%)形成嚴(yán)重干擾。消除這種干擾的Z有效方式是采用氨氣作為反應(yīng)氣的反應(yīng)模式ICP-MS。至今為止,已有的大多數(shù)SP-ICP-MS報道聚焦于無干擾的納米粒子,而這種反應(yīng)模式SP-ICP-MS還未被廣泛使用。本工作將專注于證明在反應(yīng)模式SP-ICP-MS下,NexION通用池技術(shù)應(yīng)用于測定納米粒子。

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