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資料庫(kù)
炭黑外表面積測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)
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本文由 北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司 整理匯編
2024-09-24 23:07 218閱讀次數(shù)
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炭黑外表面積測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)
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炭黑外表面積測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)- 炭黑外表面積測(cè)試儀產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
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2024-09-24 23:07
應(yīng)用文章
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- 氮吸附法炭黑總表面積及外表面積的測(cè)定
- 比表面積測(cè)試儀F-Sorb2400是目前國(guó)內(nèi)**完全自動(dòng)化,智能化的BET法比表面積測(cè)量?jī)x器,2008年國(guó)內(nèi)市場(chǎng)銷量**,眾多科研院所及500強(qiáng)企業(yè)應(yīng)用案例,由金埃譜科技與兵器系統(tǒng)合作研發(fā),秉承兵器行業(yè)高標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)要求的技術(shù)宗旨,依據(jù)國(guó)際經(jīng)典比表面積測(cè)試?yán)碚摵驮?采用國(guó)內(nèi)外通用比表面積測(cè)試方法,符合國(guó)際比表面積測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),顯著提高產(chǎn)品穩(wěn)定性和使用壽命,測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確,操作簡(jiǎn)單快捷,大大降低測(cè)試人員工作量。金埃譜科技是國(guó)內(nèi)Z早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機(jī)構(gòu),測(cè)試結(jié)果與國(guó)外數(shù)據(jù)可比性平行性**,并**獲取上海計(jì)量院檢測(cè)證書,同時(shí)金埃譜科技也是國(guó)內(nèi)同行業(yè)中**一家注冊(cè)資本超百萬(wàn)的生產(chǎn)企業(yè),讓您選購(gòu)的產(chǎn)品無(wú)后顧之憂!比表面積是指每克物質(zhì)中所有顆?？偼獗砻娣e之和，國(guó)際單位是：m2/g，比表面積是衡量物質(zhì)特性的重要參量，其大小與顆粒的粒徑、形狀、表面缺陷及孔結(jié)構(gòu)密切相關(guān)；同時(shí)，比表面積大小對(duì)物質(zhì)其它的許多物理及化學(xué)性能會(huì)產(chǎn)生很大影響，特別是隨著顆粒粒徑的變小，比表面積成為了衡量物質(zhì)性能的一項(xiàng)非常重要參量，如目前廣泛應(yīng)用的納米材料。比表面積大小性能檢測(cè)在許多的行業(yè)應(yīng)用中是必須的，如電池材料，催化劑，橡膠中碳黑補(bǔ)強(qiáng)劑，納米材料等。比表面積研究和相關(guān)數(shù)據(jù)報(bào)告中，只有采用BET方法檢測(cè)出來(lái)的結(jié)果才是真實(shí)可靠的，因?yàn)閲?guó)內(nèi)外制定出來(lái)的比表面積標(biāo)準(zhǔn)都是以BET測(cè)試方法為基礎(chǔ)的。（GB.T19587-2004）-氣體吸附BET原理測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積的方法，國(guó)內(nèi)比較成熟的是動(dòng)態(tài)氮吸附法，現(xiàn)有國(guó)產(chǎn)儀器中大多數(shù)還只能進(jìn)行直接對(duì)比法的，北京金埃譜科技公司的F-Sorb2400新型比表面積測(cè)試儀是真正能夠?qū)崿F(xiàn)BET法檢測(cè)功能的儀器（兼?zhèn)渲苯訉?duì)比法），更重要的北京金埃譜科技公司的F-Sorb2400比表面積測(cè)試儀是迄今為止國(guó)內(nèi)**完全自動(dòng)化智能化的比表面積檢測(cè)設(shè)備，其測(cè)試結(jié)果與國(guó)際一致性很高，穩(wěn)定性也很好，同時(shí)減少人為誤差，提高測(cè)試結(jié)果極ng確性。[詳細(xì)]
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2018-08-17 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 炭黑_總表面積和外表面積的測(cè)定氮吸附法
- 炭黑_總表面積和外表面積的測(cè)定氮吸附法[詳細(xì)]
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2008-08-07 00:00
安裝說(shuō)明
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- GBT 10722-2014 炭黑 總表面積和外表面積的測(cè)定 氮吸附法
- GBT 10722-2014 炭黑 總表面積和外表面積的測(cè)定 氮吸附法[詳細(xì)]
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2024-08-06 10:28
應(yīng)用文章
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- 多點(diǎn)氮吸附法測(cè)定炭黑總比表面積及外表面積
- 多點(diǎn)氮吸附法測(cè)定炭黑總比表面積及外表面積[詳細(xì)]
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2024-09-28 09:18
安裝說(shuō)明
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- 氮吸附法炭黑總表面積及外表面積的測(cè)定GB/T 10722-2003
- 氮吸附法炭黑總表面積及外表面積的測(cè)定GB/T 10722-2003[詳細(xì)]
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2009-11-16 00:00
專利
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- GB/T 10722-2014炭黑 總表面積和外表面積的測(cè)定 氮吸附法
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用Brunauer、Emmett、Teller（B.e.t. NSA）的多分子層吸附理論多點(diǎn)法測(cè)定總表面積，以及用統(tǒng)計(jì)吸附層厚度表面積方法測(cè)定外表面積。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于橡膠用炭黑、色素炭黑、乙炔炭黑和沉淀水合二氧化硅（白炭黑）。[詳細(xì)]
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2024-09-14 19:11
標(biāo)準(zhǔn)
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- DZ3600 炭黑分散度檢測(cè)儀產(chǎn)品樣冊(cè)
- DZ3600 炭黑分散度檢測(cè)儀產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
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2016-10-20 09:24
報(bào)價(jià)單
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- 超大探測(cè)面積 InGaAs光電二極管產(chǎn)品樣冊(cè)
- 超大探測(cè)面積 InGaAs光電二極管產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
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2016-10-19 17:55
選購(gòu)指南
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- 炭黑 比表面積測(cè)試
- 炭黑 比表面積測(cè)試[詳細(xì)]
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2009-07-02 00:00
實(shí)驗(yàn)操作
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- 炭黑分散分析儀
- 為可靠性而建造，為靈活性而設(shè)計(jì)裂強(qiáng)度、抗疲勞性和耐磨性能受分散度的影響。在可控的環(huán)境下，分散度能由門尼粘度，流變學(xué)或動(dòng)態(tài)試驗(yàn)所顯示?？墒?，在實(shí)際的混煉環(huán)境下，這些試驗(yàn)也能顯示混煉變化、聚合物變化、填充劑變化、硫化系統(tǒng)變化和重量變化。只有disperGRADER是直接顯示分散度的**儀器。與其他需化幾小時(shí)的光學(xué)分散度試驗(yàn)方法不同，disperGRADER能快速容易地測(cè)量分散度。利用反射光方法，disperGRADER可在硫化或未硫化樣品上，在幾分鐘內(nèi)得到極ng確和重現(xiàn)性的結(jié)果。disperGRADER應(yīng)用數(shù)字圖象disperGRADER是一臺(tái)測(cè)量填充劑在混煉膠中分散度的現(xiàn)代化儀器?；鞜捘z的許多特性，包括拉伸強(qiáng)度、撕處理技術(shù)來(lái)自動(dòng)測(cè)定分散等級(jí)，填充劑分布和聚集尺寸。[詳細(xì)]
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2018-09-30 10:01
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 炭黑粒徑電位
- 炭黑是一種廣泛應(yīng)用于輪胎、橡膠、涂料和油墨等領(lǐng)域的材料。由于炭黑顆粒大小和分散的穩(wěn)定性都會(huì)影響ZZ產(chǎn)品的性能，所以對(duì)這些參數(shù)的表征極其重要。本文對(duì)分散在不同有機(jī)溶劑中的炭黑進(jìn)行了測(cè)試，考察了不同炭黑分散體系的穩(wěn)定性。[詳細(xì)]
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2024-09-13 04:08
應(yīng)用文章
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- 炭黑漿料測(cè)試報(bào)告
- 本報(bào)告采用安東帕 MCR 102 流變儀對(duì)鋰電池負(fù)極漿料的粘度曲線，粘彈性質(zhì)以及觸變回復(fù)性能進(jìn)行了表征，從而對(duì)漿料的分散結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性以及涂布工藝進(jìn)行指導(dǎo)。[詳細(xì)]
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2024-09-20 13:38
應(yīng)用文章
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- GB3778-炭黑國(guó)標(biāo)
- GB3778-炭黑國(guó)標(biāo)[詳細(xì)]
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2024-10-08 10:47
專利
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- 背照式CCD面積圖像傳感器 S14661-2048產(chǎn)品樣冊(cè)
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光敏區(qū)結(jié)構(gòu)適用于高速型光譜儀
S14651/S14661系列是專為光譜儀設(shè)計(jì)的后變薄CCD圖像傳感器。低噪聲型(S14651系列)和高速型(S14661系列)。S14650/S14660系列提供了從紫外到近紅外區(qū)域的近乎平坦的光譜響應(yīng)特性和高量子效率。熱電冷卻器被放置在封裝內(nèi)，以保持芯片溫度恒定(大約。5°C)在操作期間。
[詳細(xì)]
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2020-03-10 12:37
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 背照式CCD面積圖像傳感器 S14661-1024產(chǎn)品樣冊(cè)
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光敏區(qū)結(jié)構(gòu)適用于高速型光譜儀
S14651/S14661系列是專為光譜儀設(shè)計(jì)的后變薄CCD圖像傳感器。低噪聲型(S14651系列)和高速型(S14661系列)。S14650/S14660系列提供了從紫外到近紅外區(qū)域的近乎平坦的光譜響應(yīng)特性和高量子效率。熱電冷卻器被放置在封裝內(nèi)，以保持芯片溫度恒定(大約。5°C)在操作期間。
[詳細(xì)]
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2020-03-10 12:37
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 背照式CCD面積圖像傳感器 S14660-2048產(chǎn)品樣冊(cè)
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光敏區(qū)結(jié)構(gòu)適用于高速型光譜儀
S14660/S14660系列是專為光譜儀設(shè)計(jì)的后變薄CCD圖像傳感器。低噪聲型(S14660系列)和高速型(S14660系列)。S14660/S14660系列具有從紫外到近紅外區(qū)域的近乎平坦的光譜響應(yīng)特性和高量子效率。
[詳細(xì)]
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2020-03-10 12:37
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 背照式CCD面積圖像傳感器 S14660-1024產(chǎn)品樣冊(cè)
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光敏區(qū)結(jié)構(gòu)適用于高速型光譜儀
S14660/S14660系列是專為光譜儀設(shè)計(jì)的后變薄CCD圖像傳感器。低噪聲型(S14660系列)和高速型(S14660系列)。S14660/S14660系列具有從紫外到近紅外區(qū)域的近乎平坦的光譜響應(yīng)特性和高量子效率。
[詳細(xì)]
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2020-03-10 12:37
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 背照式CCD面積圖像傳感器 S14651-1024產(chǎn)品樣冊(cè)
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光敏區(qū)結(jié)構(gòu)適用于光譜儀，低噪聲型
S14651/S14661系列是專為光譜儀設(shè)計(jì)的后變薄CCD圖像傳感器。低噪聲型(S14651系列)和高速型(S14661系列)。S14650/S14660系列提供了從紫外到近紅外區(qū)域的近乎平坦的光譜響應(yīng)特性和高量子效率。熱電冷卻器被放置在封裝內(nèi)，以保持芯片溫度恒定(大約。5°C)在操作期間。
[詳細(xì)]
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2020-03-10 12:37
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 背照式CCD面積圖像傳感器 S14650-2048產(chǎn)品樣冊(cè)
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光敏區(qū)結(jié)構(gòu)適用于光譜儀，低噪聲型
S14650/S14660系列是專為光譜儀設(shè)計(jì)的后變薄CCD圖像傳感器。低噪聲型(S14650系列)和高速型(S14660系列)。
S14650/S14660系列提供了從紫外到近紅外區(qū)域的近乎平坦的光譜響應(yīng)特性和高量子效率。
[詳細(xì)]
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2020-03-10 12:37
產(chǎn)品樣冊(cè)
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