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金屬導(dǎo)體的電阻率和電導(dǎo)率有什么區(qū)別

芷菲1227 2016-03-28 07:21:14 456  瀏覽
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全部評論(1條)

  • 經(jīng)年囈 2016-03-29 00:00:00
      電阻率描述阻擋電流的能力,電導(dǎo)率描述導(dǎo)通電流的能力,電阻率大的電導(dǎo)率必定小,反之亦反,它們互為倒數(shù)。

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通過試樣的電流會(huì)逐漸減小到一個(gè)穩(wěn)定值,電流隨時(shí)間的減小可能是由于介質(zhì)的極化和載流子遷移到電極所致.對于體積電阻率小于io10n?m的材料,電流通常在1min內(nèi)即可達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài).對于具有更高體積電阻率的材料,電流減小并趨于穩(wěn)定的過程可能會(huì)持續(xù)幾分鐘、幾小時(shí)、幾天甚至幾周。因此,對于這樣的材料,可采用較長的施加電壓時(shí)間。注:當(dāng)電場強(qiáng)度非常高時(shí),一般方法給出了可被普遍用于各類材料的測量方法,對于一個(gè)特定類型的材料,體積電阻和體積電阻率的測量應(yīng)考慮測量電路的特性以及該材料的特有電性能。試驗(yàn)時(shí),所施加的試驗(yàn)電壓很高,應(yīng)注意防止觸電。試驗(yàn)施加電壓所產(chǎn)生的極化效應(yīng)會(huì)影響下一次的測量結(jié)果,因此連續(xù)兩次測量期間應(yīng)保證足夠長的時(shí)間間隔。


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通過試樣的電流會(huì)逐漸減小到一個(gè)穩(wěn)定值,電流隨時(shí)間的減小可能是由于介質(zhì)的極化和載流子遷移到電極所致.對于體積電阻率小于io10n?m的材料,電流通常在1min內(nèi)即可達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài).對于具有更高體積電阻率的材料,電流減小并趨于穩(wěn)定的過程可能會(huì)持續(xù)幾分鐘、幾小時(shí)、幾天甚至幾周。因此,對于這樣的材料,可采用較長的施加電壓時(shí)間。注:當(dāng)電場強(qiáng)度非常高時(shí),一般方法給出了可被普遍用于各類材料的測量方法,對于一個(gè)特定類型的材料,體積電阻和體積電阻率的測量應(yīng)考慮測量電路的特性以及該材料的特有電性能。試驗(yàn)時(shí),所施加的試驗(yàn)電壓很高,應(yīng)注意防止觸電。試驗(yàn)施加電壓所產(chǎn)生的極化效應(yīng)會(huì)影響下一次的測量結(jié)果,因此連續(xù)兩次測量期間應(yīng)保證足夠長的時(shí)間間隔


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在接和未接試樣時(shí)電容的變化量是通過這個(gè)電容器來測得。在測微計(jì)電極中,次要的誤差來源于電容校正時(shí)所包含的電極的邊緣電容,此邊緣電容是由于插入一個(gè)與電極直徑相同的試樣而稍微有所變化,實(shí)際上只要試樣直徑比電極直徑小2倍試樣厚度,就可消除這種誤差。首先將試樣放在測微計(jì)電極間并調(diào)節(jié)測量電路參數(shù)。然后取出試樣,調(diào)節(jié)測微計(jì)電極間距或重新調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)電容器來使電路的總電容回到初始值?!鱃——接入試樣后,(圖1)的兩個(gè)電容讀數(shù)之差。值得注意的是在整個(gè)試驗(yàn)過程中試驗(yàn)頻率應(yīng)保持不變。貼在試樣上的電極的電阻在髙頻下會(huì)變得相當(dāng)大,如果試樣不平整或厚度不均勻,將會(huì)引起試樣損耗因數(shù)的明顯增加。這種變得明顯起來的頻率效應(yīng),取決于試樣表面的平整度。

該頻率也可低到10MHzt因此,必須在ioMHg及更高的頻率下,且沒有貼電極的試樣上做電容的損耗因數(shù)的附加測量,假設(shè)Cw和tan<5w為不貼電極的試樣的電容和損耗因數(shù),Cw-…帶電極的試樣電容。在一個(gè)線路兩點(diǎn)之間的接地屏蔽,可消除這兩點(diǎn)之間的所有的電容,而被這兩個(gè)點(diǎn)的對地電容所代替,因此,導(dǎo)線屏蔽和元件屏蔽可任意運(yùn)用在那些各點(diǎn)對地的電容并不重要的線路中;變壓器電橋和帶有瓦格納接地裝置的西林電橋都是這種類型的電路。從另一方面來說,在采用替代法電橋里,在不管有沒有試樣均保持不變的線路部分是不需要屏蔽的。實(shí)際上,在電路試樣、檢測器和振蕩器的連線屏蔽起來。對于100kHz數(shù)量級或更高的頻率,連線應(yīng)可能短而粗。


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