體積電阻率的計算和體積電阻值、電極尺寸、試樣厚度有關(guān)系，表面電阻率的計算主要和電極尺寸有關(guān)系

體積電阻與表面電阻讀數(shù)取值

體積電阻：

按照國家標(biāo)準(zhǔn)GB1410標(biāo)準(zhǔn)中第11.1說明規(guī)定：在試樣表面加上規(guī)定的直流電壓后開始計時，并在如下每個電化時間做一次測量：1min、2min、5min、10min、50min、100min。如果兩次連續(xù)測量得出同樣的結(jié)果，則可以結(jié)束試驗并用這個電流值來計算體積電阻。

作為驗收試驗，按照有關(guān)規(guī)范的規(guī)定，使用一個固定的電化時間如1min后的電流值來計算體積電阻率。

表面電阻：

按照GB1410標(biāo)準(zhǔn)11.2中規(guī)定：應(yīng)在1min的電化時間后測量電阻，即使在此時間內(nèi)電流還沒有達到穩(wěn)定的狀態(tài)。

 接好電源線和測試線：確保電源為220VAC/50Hz，將測試線(紅線為高壓線接紅接線柱, 屏蔽線接電流輸入端)與待測試器器件連 接好, 根據(jù)不同的測量可使用不同的電極; 連接測試樣品時要關(guān)電源，以防測試電壓電人。

量程置于104檔。 

 選擇合適的測量電壓：電壓選擇開關(guān)在后面板，注意：在測試過程中不要隨意改動測量電壓，可能因電壓的過高或電流過大損壞被測試器件或測試儀器。

 接通電源。

 調(diào)零：主機供電后在不接屏蔽箱前進行調(diào)零，調(diào)零使電流表的顯示為0000。如接在電阻箱或被測量物體上時調(diào)零后測量會產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測試過程中不需再調(diào)零。

 測試：測量時從低檔位逐漸拔往檔位，每撥一次稍停留3～5秒以使觀察顯示數(shù)字，當(dāng)被測電阻大于儀器測量量程時，電阻表顯示“1”，此時應(yīng)繼續(xù)將儀器撥到量程更高的置，當(dāng)測量儀器有顯示值時應(yīng)停下，當(dāng)前的數(shù)字乘以檔次即是被測電阻值。當(dāng)有顯示數(shù)字時不要再往更高次檔撥，否測儀器會過量程，機內(nèi)保護電路開始工作，儀器測量準(zhǔn)確度會下降。

測試完畢將量程拔至“104 ”檔后關(guān)閉電源。每測量一次均應(yīng)將量程開關(guān)撥回到104“調(diào)零”檔或低的量程位置以免開機或測量端短路時而損壞儀器。

 測量電流及1015Ω以上超高電阻的測量應(yīng)用測量電流后用歐姆定律以電壓除以電流計算電阻的方法，詳見本說明中八、測量電流及1015Ω以上超高電阻的測量內(nèi)容。

體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換：在測試過程中，使用屏蔽箱在進行體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換時，必須把電源關(guān)閉后進行檔位轉(zhuǎn)換，否則會導(dǎo)致電壓沖擊到主機無法顯示或損壞。

首先第一步需要測試體積電阻值和表面電阻值，然后根據(jù)試樣的尺寸和電極系數(shù)，根據(jù)計算公式得到體積電阻率和表面電阻率，體積和表面電阻測試時，對電壓試樣的位置不同，從而能夠不同的電阻值

在接和未接試樣時電容的變化量是通過這個電容器來測得。在測微計電極中，次要的誤差來源于電容校正時所包含的電極的邊緣電容，此邊緣電容是由于插入一個與電極直徑相同的試樣而稍微有所變化,實際上只要試樣直徑比電極直徑小2倍試樣厚度，就可消除這種誤差。首先將試樣放在測微計電極間并調(diào)節(jié)測量電路參數(shù)。然后取出試樣，調(diào)節(jié)測微計電極間距或重新調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)電容器來使電路的總電容回到初始值?！鱃——接入試樣后，（圖1）的兩個電容讀數(shù)之差。值得注意的是在整個試驗過程中試驗頻率應(yīng)保持不變。貼在試樣上的電極的電阻在髙頻下會變得相當(dāng)大，如果試樣不平整或厚度不均勻，將會引起試樣損耗因數(shù)的明顯增加。這種變得明顯起來的頻率效應(yīng)，取決于試樣表面的平整度。

該頻率也可低到10MHzt因此，必須在ioMHg及更高的頻率下，且沒有貼電極的試樣上做電容的損耗因數(shù)的附加測量，假設(shè)Cw和tan<5w為不貼電極的試樣的電容和損耗因數(shù)，Cw-…帶電極的試樣電容。在一個線路兩點之間的接地屏蔽，可消除這兩點之間的所有的電容，而被這兩個點的對地電容所代替，因此，導(dǎo)線屏蔽和元件屏蔽可任意運用在那些各點對地的電容并不重要的線路中；變壓器電橋和帶有瓦格納接地裝置的西林電橋都是這種類型的電路。從另一方面來說,在采用替代法電橋里，在不管有沒有試樣均保持不變的線路部分是不需要屏蔽的。實際上，在電路試樣、檢測器和振蕩器的連線屏蔽起來。對于100kHz數(shù)量級或更高的頻率，連線應(yīng)可能短而粗。

體積電阻率測定儀介質(zhì)損耗因數(shù)的定義：

　　介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ只與材料特性有關(guān),與材料的尺寸、體積無關(guān),便于不同設(shè)備之間進行比較。

　　電阻率測定儀應(yīng)用介質(zhì)損耗因素及電阻率測定儀測量介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況是一種傳統(tǒng)的、十分有效的方法。它能反映出絕緣的一系列缺陷,如絕緣受潮,油或浸漬物臟污或劣化變質(zhì),絕緣中有氣隙發(fā)生放電等。這時流過絕緣的電流中有功分量IRX增大了,tgδ也加大。

　　按照電力設(shè)備預(yù)防性試驗規(guī)程的規(guī)定,對多種電力設(shè)備(如電力變壓器、發(fā)電機組、高壓開關(guān)、電壓電流互感器、套管、耦合電容等)都需要做介質(zhì)損耗因素(tgδ)的測量。

　　所以tgδ試驗是一項必不可少而且非常有效的試驗。能較靈敏地反映出設(shè)備絕緣情況,發(fā)現(xiàn)設(shè)備缺陷。

　　電阻率測定儀主要用于測量炭制品和石墨制品以及其它導(dǎo)電棒狀材料在實驗室常溫下的電阻率，包括粉體材料。

使用注意事項

注：高阻測量一定要嚴(yán)格按使用方法步聚進行，否則有可能造成儀器損壞或電人。

7.1、 應(yīng)在“Rx”兩端開路時調(diào)零（主機開機）：如接在電阻箱或被測量物體上時調(diào)零后測量會產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零 后在測試過程中不需再調(diào)零，但改變測量電壓后可能要重新調(diào)零。

7.2、 禁止將“電壓與電流”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊。

7.3、 在測試過程中不要隨意改動測量電壓：隨意改動測量電壓可能因電壓的過高或電流過大損壞被測試器件或測試儀器， 而且有的材料是非線性的，即電壓與電流是不符合歐姆定律，有改變電壓時由 于電流不是線性變化，所以測量的電阻也會變化。

7.4、 測量時從低次檔逐漸拔往高次檔：每撥一次稍停留3～5秒以便觀察顯示數(shù)字，當(dāng)有顯示值時應(yīng)停下，記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測電阻值。若顯示“1”時，表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時為止。當(dāng)有顯示數(shù)字時不能再往高次檔撥，否則有可能損壞儀器(機內(nèi)有過電流保護電路)。除104Ω檔之外，當(dāng)顯示低于1.99，表示過量程應(yīng)換低檔。

7.5、 大部分絕緣材料，特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會有一定變化而引起數(shù)字變化：由于本儀器的分辯率很高，因而會引起顯示值的末尾幾位數(shù)也變化，這不是儀器本身的問題，而是被測量對象的導(dǎo)電機理復(fù)雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。

7.6、 接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分：本儀表有二連根線，高壓線(紅)和微電流測試線。在使用時要注意高壓線，開機后人不能觸及高壓線，以免電人或麻手。

7.7、 測試過程中不能觸摸微電流測試端：微電流測試端最怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開機后和 測試過程中不能與微電流測試端接觸，以免損壞儀表。

7.8、 在測量高阻時，應(yīng)采用屏蔽盒將被測物體屏蔽：在測量大于1010Ω以上時，為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。                                                               

7.9、 每次測量完時應(yīng)將量程開關(guān)撥回“104 ”檔再進行下次測試

7.10、 在測量時應(yīng)逐漸將量程開關(guān)撥到高阻檔，測量完時應(yīng)將量程開關(guān)撥回低檔。以 確保下次開機時量程開關(guān)處在低阻量程檔。

北京華測表面體積電阻率測試儀可以測量各種材料的高電阻，又可測微電流，測量精度達到 3‰。同時儀器具有體積小、重量輕、顯示迅速、性能穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點。

測試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 1410-2006 固體絕緣材料 體積電阻率和表面電阻率試驗方法

HEST-200A表面體積電阻率測試儀既可測量高電阻，又可測微電流。在進行高阻測量時一定要嚴(yán)格按使用方法步驟進行，否則有可能損壞儀器或者電人 。

１、 應(yīng)在“Ｒｘ”兩端開路時調(diào)零  如接在電阻箱或被測量物體上時調(diào)零后測量會產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測試過程中不需再調(diào)零，但改變測量電壓后可能要重新調(diào)零。  

２、 禁止將“Ｒｘ”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊  。

３、 在測試過程中不要隨意改動測量電壓，因為這樣可能因電壓過高或電流過大導(dǎo)致被測試器件或測試儀器的損壞，且有的材料是非線性的（即電壓與電流是不符合歐姆定律），有改變電壓時由于電流不是線性變化，因此測量的電阻也會產(chǎn)生相應(yīng)的變化。 

４、 測量時從低次檔逐漸拔往高次檔  每撥一次稍停留1～2秒以便觀察顯示數(shù)字，當(dāng)有顯示值時應(yīng)停下，記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測電阻值。若顯示“1”時，表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時為止。當(dāng)有顯示數(shù)字時不能再往高次檔撥，否則有可能損壞儀器（機內(nèi)有過電流保護電路）。除104 Ω檔之外，當(dāng)顯示低于1.99，表示過量程應(yīng)換低檔。

５、 大部分絕緣材料，特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會有一定變化而引起數(shù)字變化   由于本儀器的分辨率很高，因而顯示值的末尾幾位數(shù)也會產(chǎn)生變化，這不是儀器本身的問題，而是被測量對象的導(dǎo)電機理復(fù)雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。  

６ 、接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分   本儀表有二連根線：高壓線（紅）和微電流測試線。在使用時要注意高壓線，開機后人不能觸及高壓線，以免電人或麻手。 

７ 、測試過程中不能觸摸微電流測試端      微電流測試端Z怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開機后和測試過程中不能與微電流測試端接觸，以免損壞儀表。  

８、 在測量高阻時，應(yīng)采用屏蔽盒將被測物體屏蔽。 在測量大于1010 Ω以上時，為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。 

９、 每次測量完后應(yīng)將量程開關(guān)撥回“１０４ ”檔再進行下次測試  在測量時應(yīng)逐漸將量程開關(guān)撥到高阻檔，測完后應(yīng)將量程開關(guān)撥回低檔，以確保下次開機時量程開關(guān)處在低阻量程檔。

絕緣材料的電極應(yīng)是一種易于涂股到試樣表面的材料,能與試樣緊密接觸,不會因電極電阻或試樣污染而出現(xiàn)不可預(yù)見的誤差。電極材料在試驗條件下還應(yīng)具有抗腐蝕性。在給定的時間及電壓下，注L根據(jù)IEC"電導(dǎo)率”被定義為標(biāo)資或張童，它與電場強度的乘積是傳導(dǎo)電流密度；“電阻率”是“電導(dǎo)率”的倒數(shù).體積電阻率是在測量時單位體積內(nèi)可能存在的各向異性的數(shù)量的平均值，注在實際中，絕緣材料通常用于將電氣系統(tǒng)中各組件之間或組件對地之間進行電氣隔離。固體絕緣材料還起到機械支撐的作用。因此，在應(yīng)用絕緣材料時，體積電阻率可作為選用合適的絕緣材料的一個輔助方法，其可能隨測量溫度和濕度的變化而顯著變化，因此在選用材料時，當(dāng)直流電壓施加到兩電極之間的試樣上時。

通過試樣的電流會逐漸減小到一個穩(wěn)定值,電流隨時間的減小可能是由于介質(zhì)的極化和載流子遷移到電極所致.對于體積電阻率小于io10n?m的材料,電流通常在1min內(nèi)即可達到穩(wěn)定狀態(tài).對于具有更高體積電阻率的材料，電流減小并趨于穩(wěn)定的過程可能會持續(xù)幾分鐘、幾小時、幾天甚至幾周。因此，對于這樣的材料，可采用較長的施加電壓時間。注：當(dāng)電場強度非常高時，一般方法給出了可被普遍用于各類材料的測量方法，對于一個特定類型的材料，體積電阻和體積電阻率的測量應(yīng)考慮測量電路的特性以及該材料的特有電性能。試驗時，所施加的試驗電壓很高，應(yīng)注意防止觸電。試驗施加電壓所產(chǎn)生的極化效應(yīng)會影響下一次的測量結(jié)果，因此連續(xù)兩次測量期間應(yīng)保證足夠長的時間間隔。