PHI CHINA在2020年3月19日至26日開辦的“PHI CHINA表面分析技術(shù)網(wǎng)絡(luò)講堂之飛行時間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）ZT”講座圓滿落下帷幕。

       本期TOF-SIMSZT網(wǎng)絡(luò)講堂進(jìn)行了理論知識講解、并結(jié)合實際案例分享了實驗技術(shù)內(nèi)容。

       從3月19日起，分別由PHI CHINAZS應(yīng)用專家魯?shù)馒P女士和主任工程師辛國強先生為大家系統(tǒng)、深入地講解了TOF-SIMS的基本原理、硬件及儀器功能的相關(guān)理論知識，同時邀請了ULVAC-PHI原廠應(yīng)用科學(xué)家張薰勻博士為大家講解了TOF-SIMS在樣品制備、測試和分析的實驗技術(shù)內(nèi)容。參加課程的老師和同學(xué)們在直播平臺和微信交流群內(nèi)積極留言和反饋，講課老師在每一節(jié)課程的Z后進(jìn)行了現(xiàn)場答疑。

       PHI CHINA始終秉持為廣大客戶提供Z優(yōu)質(zhì)服務(wù)的初心！在這特殊的抗疫時期，PHI CHINA通過創(chuàng)新的學(xué)習(xí)方式，為大家?guī)矶鄨鲋R和技術(shù)分享交流的盛宴，從2月11日開課到3月26日結(jié)課，共舉辦了XPS、AES和TOF-SIMS三個ZT講座，總計18節(jié)課程。至此，PHI CHINA表面分析技術(shù)網(wǎng)絡(luò)講堂系列課程就告一段落了！

       在此，感謝廣大客戶以及來自百余所高校和科研院所的千余名師生積極的支持以及給予我們的鼓勵。春已暖，花已開，PHI CHINA將會繼續(xù)努力，為大家?guī)砀泳实募夹g(shù)交流活動，請持續(xù)關(guān)注我們！

       PHI CHINA表面分析技術(shù)網(wǎng)絡(luò)講座已經(jīng)成功開辦了三期，感謝廣大客戶及師生一直以來的關(guān)注及支持。為了將更多更好的技術(shù)分享給大家，本周將開展“飛行時間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）”ZT講座。

       飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer 簡稱ToF-SIMS），使用初級脈沖離子入射固體材料表面，通過探測表面激發(fā)出的二次離子的飛行時間分辨其質(zhì)量，以表征材料表面的元素成分、分子結(jié)構(gòu)、分子鍵接等信息。

01 3月19日15:00

PHI CHINAZS應(yīng)用專家魯?shù)馒P

TOF-SIMS基本原理、主要功能和應(yīng)用

1、SIMS的基本原理（包括D-SIMS和TOF-SIMS）；

2、TOF-SIMS的主要功能；

3、TOF-SIMS在材料分析中的主要應(yīng)用。

02 3月20日15:00

PHI CHINA主任工程師辛國強

TOF-SIMS硬件簡介、儀器功能及特性

1、TOF-SIMS儀器結(jié)構(gòu)及其功能；

2、TRFIT能量分析器原理；

3、LMIG離子槍原理；

4、深度剖析離子槍；

5、PHI NanoTOF II特性。

03 時間待定

ULVAC-PHI原廠應(yīng)用科學(xué)家張熏勻

TOF-SIMS的樣品制備、測試和分析過程演示以及數(shù)據(jù)分析

1、不同樣品不同測試需求的樣品制備；

2、樣品測試和分析過程的演示；

3、如何使用軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析（圖譜解析、MAPPING、深度剖析曲線&3D成像等）。

       本次為期三天的講座將以網(wǎng)絡(luò)直播結(jié)合現(xiàn)場答疑的方式進(jìn)行，由PHI CHINAZS專家及ULVAC-PHI原廠應(yīng)用科學(xué)家共同為您解析TOF-SIMS系列別樣的精彩。疫情尚未結(jié)束，學(xué)習(xí)不能止步。歡迎掃描下方公眾號二維碼，回復(fù)網(wǎng)絡(luò)講堂進(jìn)行報名。請繼續(xù)關(guān)注我們，更多的干貨和技術(shù)分享，敬請期待。