全部評論(2條)
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- 快樂的熊貓娃娃 2015-11-09 00:00:00
- 標(biāo)準(zhǔn)版測試怎么樣
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- obgmijsgve 2015-12-24 00:00:00
- 我的也不準(zhǔn),只有實(shí)際的百分之七十,得除以0.7,才能算出實(shí)際厚度。
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德國FISCHER菲希爾 FMP30涂層測厚儀儀器功能介紹:
測量方式
? 連續(xù)測量模式下,測量數(shù)據(jù)可在上下限公差范圍內(nèi)模擬顯示
? 可使用矩陣測量模式進(jìn)行大量測量
? 取平均值:只儲存若干個測量數(shù)據(jù)的平均值
? 區(qū)域測量:提起探頭后才儲存測量過程中的平均值
? 自動測量:無需提起探頭,儀器自動獲得數(shù)值
? 離奇值控制:儀器可自動排除錯誤的測量值
? 外部觸發(fā)測量(例如:測量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁)
? 使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)(于磁感應(yīng)法)
? USB接口可以連接計算機(jī)和打印機(jī)
? 電池供電和交流電源(可選件)供電
應(yīng)用程式存儲
? 可以儲存100個應(yīng)用程式,包括校準(zhǔn)信息。
? 可以儲存 20,000 個讀數(shù)
? 可以儲存 4,000 個數(shù)據(jù)組
? 數(shù)據(jù)組包含日期和時間信息
? 糾正已儲存的讀數(shù)
? 應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能:多個應(yīng)用程式能使用相同的歸一化/校準(zhǔn)信息
? 通過電腦計算機(jī)可以編輯應(yīng)用程式名稱(可選件:MP-Name軟件)
統(tǒng)計和計算
? 數(shù)據(jù)組統(tǒng)計值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計值
? 測量數(shù)據(jù)直方圖顯示
? 可輸入上下限公差并估算 cp 和 cpk值
? 測量結(jié)果超出公差范圍時儀器發(fā)出視覺和聲音警告
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- 這個好像是常識,測量普通物體表面用的紅外測溫儀測量人體溫會偏低,如果要量體溫必須使用人體專用的,但是這是為什么呢?!是因?yàn)榘l(fā)射率么?如果是,那用普通紅外測溫儀測量人體溫發(fā)射率應(yīng)該調(diào)多少?!
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白光干涉測厚儀怎么測量
白光干涉測厚儀作為一種高精度的表面測量工具,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子制造、光學(xué)檢測等領(lǐng)域。其核心原理是利用干涉效應(yīng)來測量薄膜或涂層的厚度。通過白光干涉技術(shù),能夠在不接觸表面的情況下,精確測量不同厚度的薄膜層,尤其適用于高精度、微小尺寸的測量任務(wù)。本文將詳細(xì)介紹白光干涉測厚儀的工作原理、測量步驟及其應(yīng)用范圍,幫助讀者深入理解這一技術(shù)的優(yōu)勢與實(shí)際操作方法。
白光干涉測厚儀的工作原理
白光干涉測厚儀利用的是光的干涉現(xiàn)象。當(dāng)白光照射到待測物體的表面時,光線會發(fā)生反射,部分光線從物體的上表面反射,部分光線從物體的底部反射。當(dāng)這兩束反射光重合時,因波長差異產(chǎn)生干涉。通過分析干涉條紋的變化,可以精確計算出物體表面與底層之間的厚度。其優(yōu)點(diǎn)在于白光干涉測量可以在不接觸物體的情況下進(jìn)行,并且具有非常高的精度,適合微米級甚至納米級的薄膜厚度測量。
白光干涉測厚儀的測量步驟
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準(zhǔn)備工作:確保白光干涉測厚儀的光源和探測器正常工作,并進(jìn)行設(shè)備的校準(zhǔn),以確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
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樣品放置:將待測物體穩(wěn)固地放置在儀器的測量平臺上,確保樣品表面平整,避免因表面不規(guī)則導(dǎo)致測量誤差。
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光源照射:儀器發(fā)出寬譜的白光照射到樣品表面。待測物體的上表面和底部表面會分別反射光線。
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干涉條紋分析:通過儀器內(nèi)的探測器接收反射回來的光信號,并進(jìn)行干涉條紋的分析。干涉條紋的變化與待測物體的厚度成正比。
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厚度計算:系統(tǒng)會根據(jù)干涉條紋的變化,通過計算分析,輸出樣品的厚度數(shù)據(jù)。此時,儀器已經(jīng)完成了整個測量過程。
白光干涉測厚儀的應(yīng)用
白光干涉測厚儀廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域,特別是在半導(dǎo)體、光學(xué)薄膜、涂層和納米技術(shù)領(lǐng)域。其優(yōu)勢在于能夠提供非接觸、高精度的測量,避免了傳統(tǒng)接觸式測量可能帶來的表面損傷。由于其高分辨率,能夠滿足不同精度需求的測量任務(wù),特別是在要求薄膜厚度非常精確的場合,如光學(xué)元件的制造、電子器件的測試等。
專業(yè)總結(jié)
白光干涉測厚儀憑借其無接觸、高精度的特點(diǎn),成為了測量薄膜厚度的理想工具。通過干涉效應(yīng),儀器能夠提供精確的厚度數(shù)據(jù),廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)制造等多個領(lǐng)域。其操作流程簡便、測量精度高,尤其適合微米至納米級別的薄膜測量需求,是現(xiàn)代科技領(lǐng)域中不可或缺的高精度測量設(shè)備。
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* 原因:滴定過早終止,樣品量加入不合理,樣品在溶液中不能溶解,形成乳濁液,水分沒有充分釋放,比如黃油、奶酪等含脂肪類樣品;
處理:可在分析方法增大滴定延時的時間,確保加入樣品中含足夠純水量,對粘性等附著力較強(qiáng)的樣品一定要保證樣品加入液體中。對于難溶解的樣品需要加入輔助溶劑增強(qiáng)樣品的溶解能力,比如油性樣品可在溶劑中加入適量二甲苯或氯仿。
* 原因:試劑滴定度變化,滴定試劑失效;
處理:及時重新標(biāo)定試劑,對于滴定度過低試劑進(jìn)行更換。
* 原因:加樣時樣品附著在反應(yīng)杯內(nèi)壁上,沒有落入溶劑中;
處理:垂直加樣,可采用樣品舟等附件,確保樣品完全溶到反應(yīng)杯的溶劑中,如果固體樣品顆粒較大可先碾碎樣品。
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