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簡(jiǎn)介
分析產(chǎn)品中混入的或附著的異物是判明混入途徑及故障原因的重要信息來(lái)源。X射線熒光分析儀(ED -XRF)對(duì)任何狀態(tài)的樣品不管是固體、液體或是粉末,都能提供快速、無(wú)損的元素分析,因而可以作為預(yù)篩選儀器使用。
ED-XRF
根據(jù)ED-XRF元素分析的結(jié)果,能夠確認(rèn)存在Sn和Cu。但不存在和FP法簡(jiǎn)便定量分析結(jié)果一致的基底材料。為了具體分析該異物,下面利用SEM-EDS進(jìn)行了EDS元素面分布。
SEM-EDS
從SEM-EDS的背散射電子像中能夠確認(rèn)存在兩種不同的顆粒。根據(jù)每種顆粒的EDS面分布圖,判明小顆粒是Cu,大顆粒是Sn。
ED-XRF能簡(jiǎn)便、快速地提供有關(guān)所含元素的信息,對(duì)判斷異物很有幫助。對(duì)類似這樣混合了兩種以上元素的合金,利用SEM-EDS元素面分布便是異物分析的有效分析方法。多利用X射線螢光分析能夠獲得有關(guān)異物的元素種類、附著狀態(tài)等信息,對(duì)判明異物附著的原因很有幫助。
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