優(yōu)尼康攜filmetrics膜厚儀F40首次參加2019BCEIA展會

2019年10月23-26日，第十八屆北京分析測試學(xué)術(shù)報告會暨展覽會“BCEIA2019”將在北京·國家會議ZX隆重開幕，展出國內(nèi)外500余家參展企業(yè)帶來的數(shù)千項新的產(chǎn)品和技術(shù)，如儀器設(shè)備、試劑、軟件和分析測試服務(wù)等；

優(yōu)尼康也秉著相互交流促進發(fā)展的目標首次參加了這次展會。帶來展示的為美國Flmetrics公司的膜厚儀F40(見下圖)

展會現(xiàn)場圖

優(yōu)尼康科技有限公司提供的設(shè)備包括膜厚測量；表面輪廓測量；薄膜力學(xué)性能測量以及減震消磁系統(tǒng)等多個領(lǐng)域，本次參展由于展位空間限制，未能帶更多的實物展品加入展出，實在遺憾。

在4天的參展時間內(nèi)，優(yōu)尼康和很多用戶和經(jīng)銷商進行了成功的交流，也向大家展示和介紹了我們的產(chǎn)品，下一屆BCEIA，我們會攜更豐富的產(chǎn)品和更好的服務(wù)等待大家的到來。

Filmetrics膜厚儀 車燈行業(yè)解決方案

在車燈加工行業(yè)，車燈在成型后，如不做處理，直接裝置與汽車上，其表面會較容易出現(xiàn)刮痕損傷，影響汽車照明性能，為了防止此類損傷，現(xiàn)在的車燈加工廠往往會在車燈燈具表面噴涂或浸涂一層加硬涂層（Hardcoat），以保護車燈表面。對于硬涂層的厚度需要嚴格控制，如果加硬涂層太厚，涂層成本會相對升高，涂層太薄，防損傷效果又會減弱。而且在實際應(yīng)用中發(fā)現(xiàn)，加硬涂層涂在車燈PC樹脂基材上，時間久了，可能會有脫落現(xiàn)象，所以在涂完加硬層后，會再新增一道工藝，將涂了加硬涂層的燈具再進行高溫固化處理，這道工藝的目的是增加加硬層與燈具底材PC上的結(jié)合，在高溫處理之后，加硬涂層與PC基材接觸的部分會滲入PC樹脂基材，這樣會大大增加加硬涂層與底材PC樹脂基材的結(jié)合力，從而加硬涂層不會輕易的脫落。但是對于滲入的厚度，廠家需要嚴格的監(jiān)控，如果滲入太多，表層的加硬涂層就相對減少，造成加硬材料的浪費及加硬效果減少，如果滲入太少，又起不到增加結(jié)合的作用。

在車燈內(nèi)表面，也需要做防霧處理，會在內(nèi)表面涂上一層防霧層，這樣會防止車燈內(nèi)壁起霧，影響照明效果。

Filmetrics膜厚儀F10-HC型號作為一款精度高、測試速度快、操作簡便的高性能設(shè)備，可以很好的測量加硬涂層、滲透層及防霧涂層的厚度，已經(jīng)在眾多車燈行業(yè)得到廣泛的應(yīng)用，我們的客戶包括：小糸車燈、江蘇彤明高科汽車電器有限公司、臨海軒金汽車部件有限公司、大茂偉世通車燈有限公司、格爾翰汽車（東莞）有限公司、東莞致誠橡膠制品有限公司、邁圖高新材料、滕倉化成等。

Filmetrics測試應(yīng)用：

（1） 加硬膜的厚度測量

（2） 加硬膜、滲透層的厚度測量

（3） 防霧層的厚度測量

例：

光學(xué)膜厚儀（SpectraThick series）的特點是非接觸, 非破壞方式測量，無需樣品的前處理，軟件支持Windows操作系統(tǒng)等。

Filmetrics的光學(xué)膜厚儀使用的是白光干涉的原理，從而對樣品表面的膜層進行測量，基本上所有光滑的、半透明的或者地吸收洗漱的薄膜都可以進行測量。

不管是打算測量薄膜厚度，還是光學(xué)常數(shù)，或者是打算知道材料的反射率和透過率，優(yōu)尼康科技有限公司提供的儀器都可以滿足你的需求，通過簡單安裝，連接電腦，就可以很快測量出結(jié)果。

這種產(chǎn)品主要應(yīng)用在，

半導(dǎo)體行業(yè)如：光刻膠的厚度測量；加工膜層的厚度測量，介電層的厚度測量等。

液晶顯示器行業(yè)如：OLED領(lǐng)域各種透明薄膜的厚度測量，玻璃上面涂層的厚度測量等

光學(xué)鍍層行業(yè)如：硬涂層，抗反射層等涂層厚度測量。

生物醫(yī)學(xué)行業(yè)如：聚對二甲苯，YL器械等領(lǐng)域可透光涂層膜厚的測量。

光學(xué)膜厚儀應(yīng)用領(lǐng)域極其廣闊，適用于多種行業(yè)以及大學(xué)實驗室等，提供低至納米級別的薄膜厚度測量可能。

優(yōu)尼康科技有限公司還提供專業(yè)的膜厚測量咨詢服務(wù)，可以免費測樣，幫助企業(yè)或?qū)W校定制解決方案，更有更多產(chǎn)品等你咨詢了解。

反射膜厚儀的測試原理基于白光干涉原理工作，光源發(fā)出的寬帶光入射至待測薄膜表面后，經(jīng)薄膜上下表面反射形成的兩束反射光會因光程差產(chǎn)生干涉，干涉信號中包含薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)等關(guān)鍵信息，設(shè)備通過探頭采集干涉后的反射光譜，對特定波段范圍內(nèi)的光譜進行模型擬合后，即可反演解析出薄膜的厚度、光學(xué)常數(shù)及粗糙度等參數(shù)，整個系統(tǒng)由高強度組合光源提供寬光譜入射光，經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)傳輸至樣品，反射光返回后由高速光譜模塊采集信號，最后通過上位機軟件完成數(shù)據(jù)處理與結(jié)果輸出。