紅外熱成像技術(shù)是一項(xiàng)應(yīng)用廣闊的高新技術(shù)，它集光電成像技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、圖像處理技術(shù)于一身，能夠準(zhǔn)確、實(shí)時(shí)、快速地展現(xiàn)物體表面的溫度分布情況。因此，對(duì)于鋰電池的研發(fā)、生產(chǎn)、儲(chǔ)存、回收，紅外熱像儀具有先天優(yōu)勢(shì)。

研發(fā)優(yōu)化-動(dòng)力電池研究：

動(dòng)力電池裝置由于設(shè)計(jì)及功能要求不同，從而使得各部位散熱并不均衡，利用紅外熱像儀的實(shí)時(shí)成像功能，能夠精準(zhǔn)展現(xiàn)熱能變化。將紅外熱成像技術(shù)和實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)熱像分析系統(tǒng)、熱場(chǎng)和流場(chǎng)分析技術(shù)、熱傳導(dǎo)系數(shù)分析技術(shù)、快速精確的量熱測(cè)試技術(shù)應(yīng)用于電池?zé)峁芾砗蜔岚踩阅艿脑u(píng)價(jià)之中。

實(shí)際應(yīng)用案例：

美國(guó)可再生能源研究所在混合動(dòng)力電動(dòng)車的電池?zé)崞胶夥矫?，通過紅外熱像儀記錄電池表面溫度，并通過在電池內(nèi)部布置熱電偶測(cè)量，開展了溫度場(chǎng)分布特征研究。

日本 Toyota公司通過熱成像技術(shù)開展了電池模塊內(nèi)的冷卻氣流參數(shù)和矢量的研究及熱評(píng)估，改進(jìn)了電池模塊設(shè)計(jì)中的一些重要參數(shù)，制定了熱管理方案，有效減小了電池模塊不同部位的溫度差異。

一、物相分析

根據(jù)晶體對(duì)X射線的衍射特征－衍射線的位置、強(qiáng)度及數(shù)量來鑒定結(jié)晶物質(zhì)之物相的方法，就是X射線物相分析法。一張衍射圖譜上衍射線的位置(方向)僅和原子排列周期性有關(guān)；衍射線的強(qiáng)度則取決于原子種類、含量、相對(duì)位置等性質(zhì)；衍射線的位置和強(qiáng)度就完整地反映了晶體結(jié)構(gòu)的二個(gè)特征，從而成為辨別物相的依據(jù)。

1、定性分析方法

(1)圖譜直接對(duì)比法：直接比較待測(cè)樣品和已知物相的譜圖，該法可直觀簡(jiǎn)單的對(duì)物相進(jìn)行鑒定，但相互比較的譜圖應(yīng)在相同的實(shí)驗(yàn)條件下獲取，該法比較適合于常見相及可推測(cè)相的分析。

(2)數(shù)據(jù)對(duì)比法：將實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)(2θ、d、I/I1)與標(biāo)準(zhǔn)衍射數(shù)據(jù)比較，可對(duì)物相進(jìn)行鑒定。

(3)計(jì)算機(jī)自動(dòng)檢索鑒定法：建立標(biāo)準(zhǔn)物相衍射數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)庫(PDF卡片)，將樣品的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)輸入計(jì)算機(jī)，由計(jì)算機(jī)按相應(yīng)的程序進(jìn)行檢索，但這種方法還在不斷地完善。

2、定量分析方法

每種物相的衍射線強(qiáng)度隨其相含量的增加而提高，由強(qiáng)度值的計(jì)算可確定物相的含量。定量分析可用來確定混合物中某一化合物的含量。

對(duì)于多相樣品，當(dāng)通過定性相分析確定了樣品中所存在的物相后，就需要更深入的了解各相的相對(duì)百分含量。目前定量方法有：外標(biāo)法、內(nèi)標(biāo)法、標(biāo)準(zhǔn)加入法、RIR值法，其中RIR值法最為簡(jiǎn)單方便。

RIR法定量是利用各種純物質(zhì)與α三氧化二鋁按照重量比1:1混合，測(cè)試二者強(qiáng)度的比值K，制作成一個(gè)數(shù)據(jù)庫，在日常多組分混合物定量分析時(shí)，將K值引入利用計(jì)算機(jī)擬合計(jì)算各物相組分含量。

需要說明的是此定量結(jié)果為半定量，當(dāng)然在具體樣品分析時(shí)，可以將ICP-OES、碳硫氧氮等元素分析方法結(jié)合起來，提高定量準(zhǔn)確性。若樣品又含有有機(jī)物，也可將FTIR、TGA、GC-MS結(jié)合起來進(jìn)行定量分析。

測(cè)試樣品：未知化合物成分分析、某化合物中不同物相定量分析（如二氧化鈦中的銳鈦礦物相和金紅石物相含量）、輔助失效分析、輔助礦物分析、輔助高分子材料定量分析。

二、精密測(cè)定點(diǎn)陣參數(shù)

點(diǎn)陣常數(shù)是晶體物質(zhì)的基本結(jié)構(gòu)參數(shù)。點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)定是通過X射線衍射線的位置（θ）的測(cè)定而獲得的。

確定點(diǎn)陣參數(shù)的主要方法是多晶X射線衍射法。

X射線衍射法測(cè)定點(diǎn)陣參數(shù)是利用精確測(cè)得的晶體衍射線峰位2θ角數(shù)據(jù)，然后根據(jù)布拉格定律和點(diǎn)陣參數(shù)與晶面間距d值之間的關(guān)系式計(jì)算點(diǎn)陣參數(shù)的值。

點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)定的應(yīng)用：可用于研究物質(zhì)的熱膨脹系數(shù)、固溶體類型及含量、固相溶解度曲線、宏觀應(yīng)力、化學(xué)熱處理層的分析、過飽和固溶體分解過程等。

三、宏觀應(yīng)力的測(cè)定

宏觀應(yīng)力的存在使部件內(nèi)部的晶面間距發(fā)生改變,所以可以借助X射線衍射方法來測(cè)定材料部件中的應(yīng)力。

按照布拉格定律可知：在一定波長(zhǎng)輻射發(fā)生衍射的條件下，晶面間距的變化導(dǎo)致衍射角的變化，測(cè)定衍射角的變化即可算出宏觀應(yīng)變，因而可進(jìn)一步計(jì)算得到應(yīng)力大小。

X射線衍射法來測(cè)定試樣中宏觀應(yīng)力的優(yōu)點(diǎn):

(1)可以測(cè)量試樣上小面積和極薄層內(nèi)的宏觀應(yīng)力,如果與剝層方法相結(jié)合,還可測(cè)量宏觀應(yīng)力在不同深度上的梯度變化;

(2)不用破壞試樣即可測(cè)量;           

(3)測(cè)量結(jié)果可靠性高；

四、晶粒尺寸大小的測(cè)定

材料中晶粒尺寸小于10nm時(shí)，將導(dǎo)致多晶衍射實(shí)驗(yàn)的衍射峰顯著增寬。故根據(jù)衍射峰的增寬可以測(cè)定其晶粒尺寸。

在不考慮晶體點(diǎn)陣畸變的影響條件下，無應(yīng)力微晶尺寸可以由謝樂(Scherrer)公式計(jì)算 ：

D：晶粒尺寸（nm）

q ：衍射角

b ：衍射峰的半高寬，在計(jì)算的過程中，需轉(zhuǎn)化為弧度（rad）

l ：?jiǎn)紊肷鋁射線波長(zhǎng)

K ：為Scherrer常數(shù)

當(dāng)B為峰的半高寬時(shí) k=0.89

當(dāng)B為峰的積分寬度時(shí) k=0.94

五、取向分析

測(cè)定單晶取向和多晶的結(jié)構(gòu)（擇優(yōu)取向）。測(cè)定硅鋼片的取向就是一例。另外，為研究金屬的范性形變過程，如孿生、滑移、滑移面的轉(zhuǎn)動(dòng)等，也與取向的測(cè)定有關(guān)。

擇優(yōu)取向度F參數(shù)的計(jì)算：

以計(jì)算一般的晶面如(hk1)的F因子為例，需計(jì)算出與該晶面方向平行的所有晶面的強(qiáng)度之和。

六、結(jié)晶度的測(cè)定

結(jié)晶性高聚物中晶體部分所占的百分比叫做結(jié)晶度。是一種重要的工藝指標(biāo)。低分子晶體，由于完全結(jié)晶，沒有結(jié)晶度問題。高分子晶體，由于長(zhǎng)的鏈狀結(jié)構(gòu)不易完全整規(guī)排列，往往導(dǎo)致非完全結(jié)晶。

兩態(tài)分明體系的衍射圖由兩部分簡(jiǎn)單疊加而成。一部分是晶態(tài)產(chǎn)生的衍射峰，另一部分非晶態(tài)產(chǎn)生的彌散隆峰。理論上推導(dǎo)得出如下質(zhì)量的結(jié)晶度公式：

通過軟件計(jì)算的結(jié)晶度為相對(duì)結(jié)晶度，主要是針對(duì)晶態(tài)和非晶態(tài)差別明顯的衍射圖進(jìn)行分析。常見四種結(jié)晶狀態(tài)的XRD圖譜：

（a）結(jié)晶完整的晶體，晶粒較大，內(nèi)部原子的排列比較規(guī)則，衍射譜線強(qiáng)、尖銳且對(duì)稱；（b）非晶樣品沒有衍射峰；

（b）結(jié)晶不完整的晶體，由于晶粒過于細(xì)小，晶體中有缺陷而使衍射峰形寬闊而彌散；

（d）結(jié)晶度越差，衍射能力越弱，峰形越寬。

七、XRD其他方面的應(yīng)用

*對(duì)晶體結(jié)構(gòu)不完整性的研究

包括對(duì)層錯(cuò)、位錯(cuò)、原子靜態(tài)或動(dòng)態(tài)地偏離平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究。

*結(jié)構(gòu)分析

對(duì)新發(fā)現(xiàn)的合金相進(jìn)行測(cè)定，確定點(diǎn)陣類型、點(diǎn)陣參數(shù)、對(duì)稱性、原子位置等晶體學(xué)數(shù)據(jù)。

*液態(tài)金屬和非晶態(tài)金屬

研究非晶態(tài)、液態(tài)金屬結(jié)構(gòu)，如測(cè)定近程序參量、配位數(shù)等。

*合金相變

包括脫溶、有序無序轉(zhuǎn)變、母相新相的晶體學(xué)關(guān)系等。

*特殊狀態(tài)下的分析

在高溫、低溫和瞬時(shí)的動(dòng)態(tài)分析。

*此外，小角度散射用于研究電子濃度不均勻區(qū)的形狀和大?。籜射線形貌術(shù)用于研究近完整晶體中的缺陷如位錯(cuò)線等。

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