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- 冷冷不過人心50 2013-11-08 00:00:00
- 恐恢?賴繾友萇鋍cd照片的倒易尺寸,可以知道是nm還是um級別的衍射嗎?ufoer(站內(nèi)聯(lián)系TA)你沒有用過2100F的吧。如果你要做微衍射的話,就不能再用選區(qū)光欄了。因為Z小的選區(qū)光欄的面積也在200nm見方。這時候通常就是撤掉選區(qū)光欄,直接把聚光鏡光欄打到Z小等級,此時的spot size可以在0.5 ~ 5 nm之間調(diào)諧,能做單個晶粒或晶格的電子衍射:Dhand1980(站內(nèi)聯(lián)系TA)見過2100F做10納米顆粒的選區(qū)衍射沒問題,用NBD模式,會聚束也可以做wph2000(站內(nèi)聯(lián)系TA)如果得到納米晶粒尺寸在1-5nm分布,那么用選區(qū)電子衍射(um)和微區(qū)電子衍射(nm)的結(jié)果是一樣嗎?我的意思是會不會前者范圍大得到衍射環(huán),后者對單個納米晶粒來說衍射是類似單晶的衍射斑點?此外,選區(qū)光闌是不是電鏡照片里面中間那個擋光的棒子或者是那個桿狀的黑色物體,什么時候使用?看見有的單晶點陣照片一般沒有擋著中間斑點。wph2000(站內(nèi)聯(lián)系TA)一般作選區(qū)電子衍射時,CCD照片中中間擋住ZX亮斑的是什么東西?hand1980(站內(nèi)聯(lián)系TA)Originally posted by wph2000 at 2009-4-23 14:11: 如果得到納米晶粒尺寸在1-5nm分布,那么用選區(qū)電子衍射(um)和微區(qū)電子衍射(nm)的結(jié)果是一樣嗎?我的意思是會不會前者范圍大得到衍射環(huán),后者對單個納米晶粒來說衍射是類似單晶的衍射斑點?此外,選區(qū)光闌是不是 ... 你的晶粒那么小,正常衍射肯定是一堆多晶環(huán)。做NBD的話,才會出現(xiàn)單晶的小斑點。另外你說的那個東西不是選區(qū)光欄。選區(qū)光欄在樣品桿或物鏡的下方,有兩層旋鈕。diyi層是物鏡光欄,第二層才是選區(qū)光欄。你說的那個叫遮擋桿。
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當今學(xué)術(shù)實驗室使用掃描電子顯微鏡(SEM)和能量色散X射線光譜儀(EDS)進行材料分析,希望快速獲得可靠結(jié)果。通過使用戶能夠快速、輕松地獲取所需數(shù)據(jù),高??梢詼p少用戶培訓(xùn),服務(wù)更多研究人員,加快研究成果,并確保儀器投資可同時滿足未來需求。
然而,直到最近,大家仍然覺得SEM-EDS微區(qū)成分分析比較困難,而且有些復(fù)雜。獲得結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)后,如果還需要元素數(shù)據(jù),研究人員就要在不同電腦、軟件和用戶界面之間進行切換操作。這樣不僅效率低下,而且操作非常復(fù)雜。實驗室管理人員也需要花費大量的時間,對操作者進行SEM和EDS兩種不同的技術(shù)以及不同軟件的培訓(xùn)。
如果所用系統(tǒng)中集成EDS微區(qū)成分分析和ColorSEM技術(shù),那么研究人員在操作時就可以節(jié)省許多步驟。元素數(shù)據(jù)可以直接從SEM圖像中獲取,從而省去了設(shè)置時間,也無需在兩個不同的系統(tǒng)之間切換。而且,在獲得結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)的同時,ColorSEM始終處于工作狀態(tài),實時采集元素數(shù)據(jù)。研究人員只需單擊圖像即可獲得所需的成分數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)EDS分析相比,集成ColorSEM技術(shù)的EDS分析速度提高了一倍,從而大大提高了學(xué)術(shù)實驗室的工作效率。
將EDS分析與ColorSEM技術(shù)集成在一起,可省去EDS工作流程中的一些步驟,元素信息的獲取速度是傳統(tǒng)EDS的兩倍。
EDS 集成ColorSEM技術(shù)不僅擁有快速和易用性優(yōu)勢,同時也有諸多益處。首先,EDS集成ColorSEM技術(shù)比傳統(tǒng)EDS具有更高的成本效益。不需要再配置兩套系統(tǒng),運營費用降低。所需培訓(xùn)時間縮短,從而節(jié)約資金,也可供更多人使用。實驗室的處理能力得到提高,不用再依賴于大型、昂貴的EDS探測器。
銅鎳鋅(Cu-Ni-Zn)合金前驅(qū)體分析。左圖為SEM黑白圖像,因為背散射襯度差異很小,很難區(qū)分出不同的材料。右圖為ColorSEM圖像,每種元素呈現(xiàn)為不同的顏色,因而易于區(qū)分出樣品中的所有材料。這一信息對于點分析工作流程而言至關(guān)重要,可用于選擇相關(guān)點位作進一步分析。
其次,與傳統(tǒng)SEM或EDS圖像相比,EDS集成ColorSEM技術(shù)能夠提供更多信息。SEM生成的是灰階成分襯度圖像,可能很難顯示出圖像的不同部分是否一樣。相比之下,ColorSEM將元素標識為不同的顏色。通過單擊每種顏色,用戶可以快速確定樣品的元素組成。
硫化銻(SbS)基體上的氧化鉬(MoO)分析。左圖為使用傳統(tǒng)的EDS分析,很難將兩種材料的空間分布與樣品的特征相匹配。右圖為ColorSEM圖像,采用的是基于形態(tài)進行圖像分割的技術(shù),其分析結(jié)果比傳統(tǒng)EDS更加精確。此外,ColorSEM考慮到鉬元素和硫元素的 X射線譜峰重疊情況,能夠準確分析具有挑戰(zhàn)性的樣品。
與傳統(tǒng)的EDS不同,EDS 集成ColorSEM技術(shù)還可基于形態(tài)進行圖像分割,為研究人員提供有關(guān)特定元素分布的更準確信息。人眼使用棒狀和錐形來檢測圖像的輪廓和顏色,ColorSEM系統(tǒng)也采用同樣的方法,識別形狀并賦予不同的顏色。獲得各種元素分布的準確數(shù)據(jù)后,研究人員就可以更為輕松地解答材料失效及污染程度等問題了。
對于日程繁忙的學(xué)術(shù)實驗室而言,SEM-EDS工作流程非常關(guān)鍵,而EDS集成ColorSEM技術(shù)可極大簡化該工作流程,也可滿足更多使用者的分析需求。SEM-EDS技術(shù)將變得像SEM成像一樣快速和直觀,采用該技術(shù)可以幫助高校增強其科研項目并提升卓 越聲譽。
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