納米碳酸鈣又稱超微細(xì)碳酸鈣，是碳酸鈣行業(yè)中的高端明星產(chǎn)品，其應(yīng)用最成熟的行業(yè)是塑料工業(yè)，主要應(yīng)用于塑料制品，可改善塑料母料的流變性，提高其成型性。另外，納米碳酸鈣用于油墨產(chǎn)品中體現(xiàn)出了優(yōu)異的分散性、透明性和極好的光澤、及優(yōu)異的油墨吸收性、高干燥性等優(yōu)點(diǎn)。還有涂料、日化、造紙等行業(yè)，對(duì)納米碳酸鈣的應(yīng)用需求也迅速發(fā)展。納米碳酸鈣的粒度檢測(cè)，不但需要科學(xué)的檢測(cè)方案（針對(duì)團(tuán)聚的有效處理），更需要性能優(yōu)異、分辨能力出眾的高端激光粒度儀。近年來，歐美克儀器在納米碳酸鈣客戶中，積累了連州凱恩斯、江西九峰、湖北科邁、湖北凱龍等行業(yè)典型客戶，靠得就是Topsizer型激光粒度儀在檢測(cè)亞微米、納米顆粒的優(yōu)秀表現(xiàn)以及一套行之有效的檢測(cè)方案。

納米碳酸鈣的生產(chǎn)過程中，碳化后的碳酸鈣漿料，在經(jīng)過脫水、烘干、活化等工序后形成碳酸鈣粉體產(chǎn)品，其粒徑分布將影響后續(xù)其在塑料、橡膠、油墨等產(chǎn)業(yè)的填加量和產(chǎn)品性能，因此，粒徑分布是納米碳酸鈣生產(chǎn)企業(yè)十分關(guān)注的，作為產(chǎn)品質(zhì)控的一個(gè)重要參數(shù)。其中，在納米碳酸鈣的生產(chǎn)中，通過加入適當(dāng)?shù)姆稚⒏男詣┻M(jìn)行改性，增強(qiáng)了碳酸鈣粉的分散性、減少團(tuán)聚，在許多應(yīng)用領(lǐng)域展現(xiàn)了更好的使用性能，在納米碳酸鈣的生產(chǎn)中，改性幾乎成了標(biāo)準(zhǔn)的選擇，不同改性劑種類和用量和改性工藝所生產(chǎn)產(chǎn)品質(zhì)量各有異同，如何通過檢測(cè)納米碳酸鈣在不同分散條件下的粒徑分布情況，以協(xié)助調(diào)整碳化沉淀工藝并預(yù)測(cè)產(chǎn)品的應(yīng)用效果，是近年來熱議的課題。

歐美克儀器深耕碳酸鈣行業(yè)二十余載的歲月里，歐美克的儀器質(zhì)量和品牌口碑，不斷得到行業(yè)客戶們的一致認(rèn)可，行業(yè)儀器占有率領(lǐng)先。Topsizer激光粒度分析儀采用國際先進(jìn)的紅藍(lán)雙光源設(shè)計(jì)，紅光主光源為進(jìn)口氦-氖激光器，波長0.6328μm，并有藍(lán)光輔助半導(dǎo)體光源，波長0.466μm，彌補(bǔ)了常規(guī)設(shè)計(jì)散射光角度的盲區(qū)，極大地提高了對(duì)納米級(jí)顆粒及少量大顆粒的分辨力。其具有量程寬（0.02-2000微米）、重復(fù)性好、精度高、測(cè)試結(jié)果真實(shí)、自動(dòng)化程度高等諸多優(yōu)點(diǎn)，是納米碳酸鈣粒度檢測(cè)的不二之選。

Topsizer型激光粒度儀（濕法）

納米碳酸鈣的檢測(cè)方案與檢測(cè)重鈣、一般輕鈣的主要區(qū)別是顆粒團(tuán)聚的處理，若以檢測(cè)一般改性輕鈣的方法（制樣時(shí)使用十二烷基苯磺酸鈉SDBS作為分散試劑，外置超聲10分鐘），納米碳酸鈣的原生顆粒很難被分散出來，得出的結(jié)果是團(tuán)聚后的二次粒徑，如圖：

測(cè)試結(jié)果基本是穩(wěn)定的，但粒徑分布只有普通重鈣的級(jí)別，在進(jìn)樣器開始內(nèi)置超聲后，部分團(tuán)聚體逐步解聚，測(cè)試結(jié)果如下：

由于納米鈣的改性程度要遠(yuǎn)遠(yuǎn)超越一般的輕鈣、重鈣，采用一般的分散劑（如六偏磷酸鈉、-SDBS、酒精等），難以達(dá)到充分的分散效果以了解樣品一次粒徑情況（或接近一次粒徑的穩(wěn)定結(jié)果）。歐美克儀器測(cè)試人員，經(jīng)過多年的探索和不斷嘗試，選著了一種含有OM7超細(xì)輕鈣專用分散劑的復(fù)配分散劑對(duì)樣品進(jìn)行前處理，并伴隨超聲處理，結(jié)果如下：

測(cè)試結(jié)果有明顯的改善，但仍未符合納米碳酸鈣的粒徑預(yù)期。納米碳酸鈣屬于超細(xì)粉體，不易分散徹底，因此在加入分散解聚劑后以傳統(tǒng)進(jìn)樣器內(nèi)置超聲外，同時(shí)進(jìn)行了細(xì)胞粉碎機(jī)的大功率的超聲分散15分鐘，以純凈水作為測(cè)量介質(zhì)，并以“通用模式”進(jìn)行粒度分析，結(jié)果如下：

針對(duì)于該廣西某公司生產(chǎn)的納米碳酸鈣樣品，仍然有部分的硬團(tuán)聚體的存在，導(dǎo)致結(jié)果出現(xiàn)了第二個(gè)大顆粒小峰，但結(jié)果的穩(wěn)定性和粒徑分布是基本符合預(yù)期的。

采用同樣的測(cè)試方案，同樣的Topsizer型激光粒度儀，我司在早兩年測(cè)試某進(jìn)口的納米碳酸鈣樣品，其結(jié)果是完全符合納米碳酸鈣的粒徑分布要求的，如下。

在我司多年來接觸的一般國產(chǎn)納米碳酸鈣中，或多或少是會(huì)出來粒度分布的“雙峰”狀態(tài)，D90大概在1-2微米間，這主要可能是在生產(chǎn)工藝中，碳化或活化沒有完全做好，導(dǎo)致大量硬團(tuán)聚體的產(chǎn)生，影響了整體粒徑分布。這些硬團(tuán)聚體在使用中難以被分散開，會(huì)影響納米鈣的使用性能，因此，對(duì)于硬團(tuán)聚體含量的檢測(cè)，是納米碳酸鈣產(chǎn)品質(zhì)量控管的關(guān)鍵所在，同時(shí)對(duì)于激光粒度儀的檢測(cè)性能也是較為苛刻的要求。

對(duì)納米碳酸鈣的粒度測(cè)試，到底是將其徹底分散到最小粒徑的結(jié)果可靠，還是選擇與下游生產(chǎn)的分散程度相近地分散樣品，進(jìn)行二次粒徑粒度分布測(cè)試更可靠，一直是一個(gè)有爭論的問題。但如果要對(duì)納米碳酸鈣生產(chǎn)工藝進(jìn)行監(jiān)控，就需要更關(guān)注生產(chǎn)流程中碳化沉淀的一次粒徑情況。同時(shí)通過對(duì)硬團(tuán)聚體二次粒徑的嚴(yán)格控制，以使產(chǎn)品能滿足高端行業(yè)（如油墨等）的應(yīng)用要求。

技術(shù)進(jìn)步，以人為本，歐美克儀器的檢測(cè)技術(shù)和應(yīng)用開發(fā)，是和碳酸鈣行業(yè)同步發(fā)展、偕同并進(jìn)的。歐美克儀器專業(yè)服務(wù)于客戶納米碳酸鈣的檢測(cè)需求，為客戶生產(chǎn)出優(yōu)質(zhì)的納米碳酸鈣產(chǎn)品保駕護(hù)航！

參考文獻(xiàn)

1. 沈興志、吳瑾. 輕鈣、活性鈣、納米鈣產(chǎn)品激光粒度測(cè)試分析探討.

2. 納米碳酸鈣.百度百科.

建筑用硅酮膠在市場(chǎng)上俗稱“玻璃膠”，是目前玻璃幕墻建筑的主要結(jié)構(gòu)粘結(jié)和密封材料。它是一種濕氣固化產(chǎn)品，一般*道工序是捏合混煉過程：將107膠、白油或硅油以及納米碳酸鈣等按一定比例加入到雙軸捏合機(jī)內(nèi)預(yù)混，一定時(shí)間后采取真空密煉3-6小時(shí)。一些企業(yè)會(huì)將納米碳酸鈣等固體填充料預(yù)先烘干脫水，降低真空密煉時(shí)間。該過程完成后得到基料。通過對(duì)基料粘稠性能、揮發(fā)份等檢測(cè)后，進(jìn)行第二道工序——制膠，將基料與交聯(lián)劑、色料、其他功能助劑等進(jìn)一步在真空條件下充分混合，制得密封保存的中性硅酮膠制品。   

納米碳酸鈣在應(yīng)用過程中主要有以下問題：

1.水分

產(chǎn)品水分（硅酮膠企業(yè)以揮發(fā)份為準(zhǔn)）較高，使碳酸鈣顆粒表面的羥基（-OH）增多，其聚集體呈現(xiàn)出現(xiàn)互凝聚的傾向，在液相聚硅烷作用下形成三維網(wǎng)絡(luò)，使膠料的黏度增大，并在基料中形成1～3mm顆粒，造成混煉時(shí)間延長，可通過研磨或篩網(wǎng)過濾進(jìn)行處理，但在研磨過程中大多采用敞開式，因此該團(tuán)粒中水分位能即使脫出只能研磨變小，卻難以消除，而采用80-120目篩網(wǎng)對(duì)基料進(jìn)行過濾處理較為可行。

2.二次粒徑

二次粒徑較大，一般容易出現(xiàn)在粒徑較小的納米碳酸鈣產(chǎn)品中，由于隨著納米碳酸鈣粒徑的范圍小到40-60nm時(shí)，顆粒比表面積增大（22～34m2/g），內(nèi)聚力增強(qiáng)，很容易形成結(jié)合緊密硬團(tuán)聚，分散解聚都相對(duì)較為困難，硅酮膠捏合過程中無法分散該硬團(tuán)聚顆粒，因此只能通過一次或多次研磨將其分散，勢(shì)必增加制造成本。如產(chǎn)品中有較多40nm左右結(jié)晶體，其團(tuán)聚體（二次粒子）粒徑會(huì)達(dá)到30μm以上，在使用過程中兩輥研磨機(jī)也很難分散這種硬團(tuán)聚體，當(dāng)該顆粒數(shù)量足夠多時(shí)，硅酮膠制品表面就容易出現(xiàn)顆粒，甚至“麻面”或“霧面”現(xiàn)象。

3.表面處理

當(dāng)表面處理不足時(shí)，由于碳酸鈣顆粒表面為極性，是親水截面，在硅酮膠這種非極性有機(jī)物中就很難相容，造成分散困難，出現(xiàn)混煉時(shí)難“吃粉”延長捏合時(shí)間，即使充分混合后，由于碳酸鈣表面缺乏足夠有機(jī)物表面活性劑包覆使硅酮膠體系與極性碳酸鈣界面接觸幾率明顯增加，而碳酸鈣表面存在較多的羥基，這些基團(tuán)能與液相硅橡膠分子鏈中的Si-O鍵形成氫鍵（物理吸附），其結(jié)果將會(huì)產(chǎn)生兩種不同的作用：一方面導(dǎo)致硫化膠物理力學(xué)性能的提高，另一方面也會(huì)在體系內(nèi)部產(chǎn)生結(jié)果化現(xiàn)象，導(dǎo)致膠料的儲(chǔ)存穩(wěn)定性下降。

表面處理劑過剩時(shí)，對(duì)硅酮膠的生產(chǎn)同樣產(chǎn)生不利影響，因?yàn)楣柰z是一種粘膠制品，要求必須與施工介質(zhì)表面有良好的黏粘性能，為提高這種黏粘性能，硅酮膠配方中較多采用硅烷偶聯(lián)劑改進(jìn)增強(qiáng)，這種黏粘性能是靠硅烷偶聯(lián)劑中的兩種基團(tuán)與施工介質(zhì)表面以范德華力或氫鍵形成物理吸附或者借助基團(tuán)的反應(yīng)形成化學(xué)鍵，當(dāng)碳酸鈣表面處理劑過量時(shí)，其有機(jī)基團(tuán)數(shù)量明顯增多（尤其以有機(jī)雜合物為主要表面處理劑的納米碳酸鈣產(chǎn)品更為明顯），硅烷偶聯(lián)劑中的部分基團(tuán)會(huì)與碳酸鈣表面活性劑分子中有機(jī)基團(tuán)鍵合，從而影響對(duì)施工界面黏結(jié)性能。

另一方面：表面處理劑過量使碳酸鈣顆粒表面與硅酮膠體系直接氫鍵結(jié)合的幾率減少，主要依靠表面活性劑有機(jī)分子與體系的結(jié)合，因?yàn)樘妓徕}表面活性劑分子以有機(jī)長鏈分子為主，這種有機(jī)分子之間的結(jié)合力表現(xiàn)較為柔性，因此固化后的硅酮膠制品模量較低，如果在碳酸鈣表面有適當(dāng)?shù)囊徊糠直砻婺芘c硅酮膠體系氫鍵結(jié)合，則體系的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)更為牢固，內(nèi)聚力更強(qiáng)。這樣的制品抗撕裂強(qiáng)度會(huì)有所提高。另外，表面處理劑中的短鏈有機(jī)物易揮發(fā)，當(dāng)處理過量時(shí)，產(chǎn)品的揮發(fā)份會(huì)升高，使硅酮膠真空捏合過程中抽出的低沸點(diǎn)有機(jī)物增加。   

4.pH值

貯存穩(wěn)定性是硅酮膠制品的一個(gè)非常重要的質(zhì)量指標(biāo)，脫醇型的貯存穩(wěn)定性稍差，但脫醇型生產(chǎn)成本較為低廉，故企業(yè)較多仍以該類型為主。從目前硅酮膠技術(shù)的發(fā)展看，產(chǎn)品的質(zhì)量性能不斷提高，配方技術(shù)日益完善，也變得越來越復(fù)雜，一些相應(yīng)的功能性助劑增加，加之自動(dòng)化生產(chǎn)線技術(shù)的不斷普及，使一些硅酮膠企業(yè)對(duì)納米碳酸鈣中性能提出更高的要求，產(chǎn)品pH值要求在9.5以下。   

理論上講碳酸鈣是一種弱堿鹽，其pH值在8～10，納米活性碳酸鈣表面包覆劑一般多為弱有機(jī)酸或有機(jī)酸鹽，對(duì)其表面有一定的中和作用，因此一些表面處理較為充分的納米碳酸鈣產(chǎn)品的pH值可以控制在8～9，例如：日本白石公司“白艷華CC”產(chǎn)品PH值控制在8.8以下，但國內(nèi)很多企業(yè)產(chǎn)品pH值都在9～10，甚至達(dá)到10.5左右。pH值過高原因有以下幾個(gè)方面：首先是石灰石純度，當(dāng)石灰石中的MgCO3≥1.5%以后，對(duì)產(chǎn)品的pH值產(chǎn)生不可抗拒的影響，因?yàn)镸gCO3的溶解性比CaCO3好，易電解產(chǎn)生OH-。其次在碳化過程形成Mg(HCO3)2水溶性鹽，雖然在過濾脫水時(shí)大部分排除，但還有10%以上殘留在濾餅內(nèi)，這部分將隨濾餅烘干留在產(chǎn)品中，也會(huì)促使pH值升高。

5.在脫醇型膠中的貯存穩(wěn)定性問題

在一些硅酮膠企業(yè)中曾出現(xiàn)過該問題，給納米碳酸鈣和硅酮膠企業(yè)帶來較大的困惑。由于硅酮膠產(chǎn)品的生產(chǎn)工藝及產(chǎn)品特性決定硅酮膠制品在加入交聯(lián)劑后制得的成品須密封儲(chǔ)存，一旦成品出現(xiàn)質(zhì)量問題則很難對(duì)成品進(jìn)行返工處理，造成的損失較大。據(jù)相關(guān)資料顯示，脫醇型硅酮膠一般多采用高水解活性硅烷偶聯(lián)劑，在沒有引入羥基和水分清除劑情況下很容易造成填料中的微量水分和硅烷偶聯(lián)劑反應(yīng)生成的游離醇，從而引起體系的貯存穩(wěn)定性和硫化性能下降。特別是表面處理不足的產(chǎn)品在儲(chǔ)存過程中吸潮非?？欤又{米碳酸鈣二次粒子表現(xiàn)為多孔狀物質(zhì)，其內(nèi)水分本身就很難排除，因此有理由認(rèn)為該條件下的碳酸鈣顆粒表面具有較多水分和羥基，相應(yīng)形成以碳酸鈣為結(jié)點(diǎn)的局部微觀網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)，嚴(yán)重時(shí)出現(xiàn)局部微觀結(jié)構(gòu)化，應(yīng)力集中現(xiàn)象，形成較多分布均勻的細(xì)小“顆?！保▽?shí)際收縮或突起）。這種“顆?！边€有一個(gè)奇特現(xiàn)象是當(dāng)體系溫度升高時(shí)會(huì)逐漸消失，可以解釋為：由于體系溫度升高，分子熱運(yùn)動(dòng)加劇，使微觀的交聯(lián)結(jié)合被破壞，局部應(yīng)力隨之減弱或消失，故硅酮膠表面和內(nèi)部分子結(jié)構(gòu)恢復(fù)到正常狀態(tài)，出了暫時(shí)的“顆?！毕?。當(dāng)體系溫度降低后，“顆?！痹谠瓉砦恢弥匦嘛@現(xiàn)。

【納米發(fā)電技術(shù)概述】

納米發(fā)電機(jī)，是基于規(guī)則的氧化鋅納米線，在納米范圍內(nèi)將機(jī)械能轉(zhuǎn)化成電能，是世界上最小的發(fā)電機(jī)。目前納米發(fā)電機(jī)可以分為三類：

一類是壓電納米發(fā)電機(jī)；第二類是摩擦納米發(fā)電機(jī)；第三類為熱釋電納米發(fā)電機(jī)。一般被應(yīng)用在生物醫(yī)學(xué)，軍事，無線通信，無線傳感。

【測(cè)試難點(diǎn)】

1、發(fā)電機(jī)產(chǎn)生的電流小

由于納米發(fā)電自身的技術(shù)特點(diǎn)，在研究過程中需要測(cè)試單位面積機(jī)械能產(chǎn)生的電能，測(cè)試產(chǎn)生的電壓，微小的電流及功率信號(hào)，電壓基本在幾伏甚至幾十伏，而電流一般都是uA甚至nA級(jí)別，功率在mW甚至uW級(jí)別。如何精確的測(cè)試微小電流及功率信號(hào)比較困難，對(duì)測(cè)試儀器精度和穩(wěn)定性要求非常高。泰克吉時(shí)利公司專注于微小電信號(hào)測(cè)試，史上多位物理學(xué)諾貝爾獎(jiǎng)獲得者都使用和信賴吉時(shí)利測(cè)試儀器。在納米發(fā)電研究中，吉時(shí)利的產(chǎn)品仍是業(yè)內(nèi)大多數(shù)人的選擇，尤其在微小信號(hào)測(cè)試值得信賴。

2、大電機(jī)的內(nèi)阻大，開路電壓測(cè)不準(zhǔn)

上圖為您介紹了測(cè)量靈敏度的理論極限取決于在電路中的電阻所產(chǎn)生的噪聲。電壓噪聲是與墊著、帶寬和溫度的乘積的平方根成正比的。從圖中可見，源電阻限制了電壓測(cè)量的理論靈敏度，也就是說能準(zhǔn)確測(cè)量一個(gè)1Ω源電阻的1uV信號(hào)時(shí)，如果該信號(hào)的源墊著變成1TΩ，則該測(cè)量就會(huì)變得不可能。因?yàn)樵谠措娮铻?MΩ時(shí)對(duì)于1uV的測(cè)量已經(jīng)接近理論極限了。這時(shí)候采用通常的數(shù)字萬用表是無法完成這類測(cè)量的。了解了這個(gè)原理，選擇合適的儀器是保證準(zhǔn)確測(cè)試微小信號(hào)前提。

3、信號(hào)變化快，很難測(cè)電壓或者電流峰值

由于機(jī)械的拉伸和沖擊碰撞運(yùn)動(dòng)都是在短時(shí)間內(nèi)完成，而評(píng)價(jià)一個(gè)納米發(fā)電機(jī)的性能高低的一個(gè)關(guān)鍵因素是其輸出的峰值電流和峰值電壓，以及峰值功率，而采用傳統(tǒng)的表由于采樣率不足，就可能導(dǎo)致峰值點(diǎn)采集缺失，從而會(huì)誤導(dǎo)實(shí)驗(yàn)人員，導(dǎo)致錯(cuò)失機(jī)遇。

而吉時(shí)利的高阻計(jì)內(nèi)置了模擬輸出端口，通過將測(cè)試信號(hào)轉(zhuǎn)化為一個(gè)2V的模擬電壓信號(hào)進(jìn)行實(shí)時(shí)輸出，這樣只需要在外部再加一個(gè)高速/高ADC的采集系統(tǒng)就可以將快速變化的電流，電壓和電阻進(jìn)行實(shí)時(shí)采集。

【納米發(fā)電測(cè)試方案】

微小電流信號(hào)測(cè)試應(yīng)用

采用高內(nèi)阻的吉時(shí)利靜電計(jì)6517+數(shù)據(jù)采集儀DMM6500+納米發(fā)電采集軟件來進(jìn)行微小納米發(fā)電電流數(shù)據(jù)采集。

納米發(fā)電矩陣應(yīng)用測(cè)試

由于現(xiàn)在納米發(fā)電機(jī)中有一部分已經(jīng)轉(zhuǎn)向?qū)嶋H應(yīng)用研究，其中之一就有壓力傳感方向，而矩陣式壓力傳感器的測(cè)試是很多老師和同學(xué)比較頭疼的一個(gè)問題，為了解決這類問題，我們就根據(jù)要求搭建了一個(gè)測(cè)試方案如下：

測(cè)試配置：

西安安泰測(cè)試作為泰克吉時(shí)利的長期忠誠的綜合服務(wù)商，具備專業(yè)的技術(shù)支持和選型能力；經(jīng)過十多年的發(fā)展，已經(jīng)服務(wù)西安本地乃至西北五省各大研究所院校企業(yè)單位眾多單位，深受客戶廣泛好評(píng)。安泰測(cè)試歡迎各位有需求、有疑問的電子工程師訪問安泰測(cè)試網(wǎng)。

超聲導(dǎo)波檢測(cè)技術(shù)與常規(guī)的無損檢測(cè)方法相比，具有檢測(cè)距離長，檢測(cè)速度快等突出優(yōu)點(diǎn)。超聲波所用的激勵(lì)源采用大功率信號(hào)源驅(qū)動(dòng)激勵(lì)的方法，放大并傳播在管道中接收到的超聲導(dǎo)波回波信號(hào)，利于缺陷檢測(cè)的分析和處理。針對(duì)市場(chǎng)上常規(guī)信號(hào)源輸出電壓低,帶負(fù)載能力弱,無法驅(qū)動(dòng)超聲波探頭、換能器等大功率容性負(fù)載的實(shí)際問題，Aigtek推出了一種可輸出大功率437W，頻率DC-500KHz的功率放大器。

超聲波是聲波的一部分，是人耳聽不見、頻率高于20KHZ的聲波，它和聲波有共同之處，即都是由物質(zhì)振動(dòng)而產(chǎn)生的，并且只能在介質(zhì)中傳播。功率放大器是為超聲換能器提供電能的關(guān)鍵部分，它主要用來激勵(lì)壓電超聲換能器將功率放大器提供的電能轉(zhuǎn)化為機(jī)械能。

超聲激勵(lì)源主要原理：

超聲激勵(lì)源實(shí)質(zhì)上就是一個(gè)功率信號(hào)發(fā)生器，它產(chǎn)生一個(gè)與探頭、換能器、壓電陶瓷諧振頻率一致的正弦波信號(hào)，經(jīng)過功率放大器放大后，使得大功率電信號(hào)激勵(lì)探頭等產(chǎn)生機(jī)械振動(dòng)，從而產(chǎn)生超聲波。

ATA-4052功率放大器介紹：

ATA-4052是一款理想的可放大交、直流信號(hào)的單通道高壓功率放大器。輸出310Vp-p（±155V）電壓，437W功率，可以驅(qū)動(dòng)高壓功率負(fù)載。電壓增益數(shù)控可調(diào)，一鍵保存常用設(shè)置，為您提供了方便簡潔的操作選擇，可與主流的信號(hào)發(fā)生器配套使用，實(shí)現(xiàn)信號(hào)的放大。

基于Aigtek對(duì)功率放大器多年的測(cè)試研究，其主要產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：寬頻帶·高速·高電壓、雙極性、大功率。

ATA-1000的頻帶寬度為DC～24MHz、上升速率為2000V/μs，即使對(duì)于上升迅速的脈沖信號(hào)和復(fù)雜波形信號(hào)也能夠?qū)崿F(xiàn)。

ATA-2000的頻帶寬度為DC～1MHz、輸出電壓為1600Vp-p，即使對(duì)于有高壓需求的壓電元件和顯示元器件，也能夠富富有余地進(jìn)行驅(qū)動(dòng)。

ATA-3000的功率為810W，提供大功率的電磁場(chǎng)線圈驅(qū)動(dòng)，同時(shí)所有的都能從直流開始輸出的, 所以能夠輕松實(shí)現(xiàn)信號(hào)發(fā)生器提供的任意波形的放大。

ATA-4000高壓功率放大器輸出功率為437W，頻率寬度為DC-1MHz，可同時(shí)滿足驅(qū)動(dòng)高壓大功率型負(fù)載，可雙極性輸出，匹配任意型號(hào)品牌的信號(hào)發(fā)生器并放大各種波形。

半導(dǎo)體激光器是光纖通訊，激光顯示，氣體探測(cè)等領(lǐng)域中的核心部件，受到全世界科技人員的廣泛關(guān)注。在半導(dǎo)體激光器的生產(chǎn)、研發(fā)過程中，對(duì)激光器的光電特性的測(cè)量尤為重要，是控制激光器制備工藝的穩(wěn)定性，激光器性能可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。

半導(dǎo)體激光器是半導(dǎo)體光電轉(zhuǎn)換器件。如圖1所示，半導(dǎo)體激光器由多層材料構(gòu)成。自下而上包括背電極，襯底，下光限制層，下波導(dǎo)層，有源層，上波導(dǎo)層，上限制層，上電極。不同層由不同的外延材料組成。如此層狀結(jié)構(gòu)是為了達(dá)到（1）載流子（電子，空穴）的注入復(fù)合發(fā)光，（2）光子橫向限制，形成光波導(dǎo)的目的。外延完成的層狀結(jié)構(gòu)要經(jīng)過刻蝕工藝，形成脊波導(dǎo)，在脊波導(dǎo)上制備接觸電極。

如此脊波導(dǎo)的目的：（1）限制電流側(cè)向擴(kuò)散，（2）形成光子的側(cè)向波導(dǎo)。制備完的圓片經(jīng)過解理，鍍膜，燒焊，壓焊引線等工藝得到待測(cè)量的激光器，如同2所示。當(dāng)向激光器電極注入電流時(shí)，激光器PN結(jié)兩側(cè)的電子和空穴大量的涌入有源區(qū)，在有源區(qū)電子空穴對(duì)復(fù)合，產(chǎn)生大量的光子，光子在波導(dǎo)的作用下沿軸方向傳播，在激光器端面，反射光形成激射條件，透射光則為激光器輸出的激光。

激光器工作特性主要體現(xiàn)在（1）PN結(jié)特性，串聯(lián)電阻，（2）激光器的激射閾值，激光器斜率效率。這些特性決定了激光器的出光功率 ，功率轉(zhuǎn)換效率，工作壽命等性質(zhì)。生產(chǎn)和科研過程中經(jīng)常采用PIV測(cè)量方法獲得這些重要參數(shù)。

ATS-2000V系列是一款高精度、高穩(wěn)定性電壓輸出的電壓源。zui大輸出200V的電壓，最小電壓分辨率可達(dá)2μV，輸出精度高，噪聲低。操作面板液晶顯示，簡潔易懂，易于操作。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單、精度高、可靠性好、速度快，提高生產(chǎn)效率的同時(shí)也增加了測(cè)試精度和可靠性，降低了大量測(cè)試的成本。集成PIV系統(tǒng)由系統(tǒng)主要由ATS-2000V雙通道精密源測(cè)量單元SMU、積分球、夾具及軟件組成。ATS-2000V的一個(gè)通道 作為激光器的電流源同時(shí)測(cè)量激光器的電壓V。LD的激射出光耦合入積分球，由積分球探測(cè)器轉(zhuǎn)化成光電流進(jìn)入 ATS-2000V高精度電壓源的另一個(gè)通道，用ATS-2000V測(cè)得的光電流乘以積分球探測(cè)器功率電流轉(zhuǎn)換系數(shù)就得到了激光器的出光功率。B2900A由USB端口與PIV測(cè)量軟件連接，完成測(cè)量控制和數(shù)據(jù)采集。

集成PIV系統(tǒng)的可擴(kuò)充性也是其在半導(dǎo)體激光器研發(fā)領(lǐng)域應(yīng)用中的突出的優(yōu)點(diǎn)。集成PIV系統(tǒng)的硬件部分，包括ATS-2000V精密測(cè)量單元，測(cè)量平臺(tái)，由GPIB或USB等端口與計(jì)算機(jī)連接。因此，集成PIV系統(tǒng)硬件部分可以配合用戶通過 National Instrument 等軟件平臺(tái)編寫的測(cè)試軟件程序，完成用戶需要的，更為復(fù)雜的測(cè)量任務(wù)。

在半導(dǎo)體激光器的生產(chǎn)和研發(fā)過程中，要對(duì)半導(dǎo)體激光器芯片進(jìn)行大量的PIV測(cè)試。相比傳統(tǒng)的分立復(fù)雜的PIV測(cè)試系統(tǒng)，ATS-2000V精密測(cè)量單元集成的PIV測(cè)試系統(tǒng)具有系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，精度高，可靠性強(qiáng)，測(cè)量迅速等優(yōu)勢(shì)，大大降低了激光器芯片PIV性能測(cè)量的操作成本，時(shí)間成本，同時(shí)增加了PIV測(cè)量的靈活性。ATS-2000V高精度電壓源將會(huì)在半導(dǎo)體激光器生產(chǎn)和科研等領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。

如需了解安泰高精度電壓源ATS-2000V更多產(chǎn)品應(yīng)用及相關(guān)知識(shí)歡迎訪問安泰測(cè)試網(wǎng)。

在現(xiàn)代日常生活中，各類家電的存在為人們提供了各式各樣的便捷。與此同時(shí)，隨著人們生活質(zhì)量的提升，家電的節(jié)能性能等方面的提升成為了家電行業(yè)不可避免的課題之一。在這一系列的研究課題中，探頭同樣起到了不可或缺的作用。

提到家電的性能測(cè)試，能耗測(cè)試必不可少。為了更好的覆蓋能耗測(cè)試需求，電流探頭的精度至關(guān)重要。只有使用更高精度的電流測(cè)試手段，才能更好地測(cè)試待機(jī)情況下的家電功耗。而帶寬則影響著測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，可以有效避免因帶寬不足導(dǎo)致的波形失真。

泰克TCP0030，ZD可測(cè)量30ARMS值，峰值可達(dá)50A?？蓽y(cè)得mA級(jí)別電流，更有DC至120MHz的超大帶寬。滿足小型家電高精度待機(jī)功耗下的電流測(cè)試需求。由于電流量程較大，在測(cè)試家電工作情況下的功率時(shí)也可以充分使用。

附：常見參數(shù)介紹

1. 帶寬，代表了探頭可測(cè)到的zui大信號(hào)頻率

2. 共模YZ比，代表了探頭YZ共模干擾的能力，越大代表YZ能力越強(qiáng)

3. 輸入電容，代表探頭對(duì)于被測(cè)系統(tǒng)的負(fù)載影響，輸入電容越低，影響越小測(cè)試效果越佳。

如需了解示波器探頭更多測(cè)試應(yīng)用歡迎訪問安泰測(cè)試網(wǎng)。

在現(xiàn)代日常生活中，各類家電的存在為人們提供了各式各樣的便捷。與此同時(shí)，隨著人們生活質(zhì)量的提升，家電的節(jié)能性能等方面的提升成為了家電行業(yè)不可避免的課題之一。在這一系列的研究課題中，探頭同樣起到了不可或缺的作用。

提到家電的性能測(cè)試，能耗測(cè)試必不可少。為了更好的覆蓋能耗測(cè)試需求，電流探頭的精度至關(guān)重要。只有使用更高精度的電流測(cè)試手段，才能更好地測(cè)試待機(jī)情況下的家電功耗。而帶寬則影響著測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，可以有效避免因帶寬不足導(dǎo)致的波形失真。

泰克電流探頭TCP0030A，zui大可測(cè)量30ARMS值，峰值可達(dá)50A。可測(cè)得mA級(jí)別電流，更有DC至120MHz的超大帶寬。滿足小型家電高精度待機(jī)功耗下的電流測(cè)試需求。由于電流量程較大，在測(cè)試家電工作情況下的功率時(shí)也可以充分使用。

      附：常見參數(shù)介紹

1. 帶寬，代表了探頭可測(cè)到的ZD信號(hào)頻率

2. 共模yizhi比，代表了探頭yizhi共模干擾的能力，越大代表yizhi能力越強(qiáng)

3. 輸入電容，代表探頭對(duì)于被測(cè)系統(tǒng)的負(fù)載影響，輸入電容越低，影響越小測(cè)試效果越佳。

如需了解示波器探頭更多測(cè)試應(yīng)用歡迎訪問普科科技。

太陽能產(chǎn)業(yè)的成長增加了對(duì)太陽能電池測(cè)試和測(cè)量解決方案的需求，尤其是太陽能性能的測(cè)試顯得尤為重要。太陽能電池從研發(fā)到生產(chǎn)，每個(gè)環(huán)節(jié)都有不同的測(cè)試需求，其光電特性包括伏安I-V特性、光譜響應(yīng)SR特性和量子效率QE特性，其中I-V特性分析對(duì)推導(dǎo)有關(guān)太陽能電池性能的重要參數(shù)至關(guān)重要，主要包括ZD電流Imax和電壓Vmax、開路電壓Voc、短路電流Isc、填充因子ff以及轉(zhuǎn)換效率η等。

為精確完成太陽能電池I-V特性測(cè)試，測(cè)試者需要用太陽能模擬器光源在一定距離內(nèi)輻照到樣品上，然后用精密的電學(xué)儀器來測(cè)量I-V特性曲線，從而得到電池的參數(shù)。

無光照時(shí)，測(cè)量太陽能電池IV特性需提供指定的直流偏壓，測(cè)得正向偏壓時(shí)的IV特性曲線；在不加偏壓時(shí)，用各波長入射光照射測(cè)量太陽能電池在不同負(fù)載條件下IV特性（多片串聯(lián)負(fù)載特性更明顯），測(cè)量短路電流Isc、開路電壓Voc、ZD功率、ZJ工作電流和電壓。吉時(shí)利源表2400系列，集電壓源、電流源、電壓表、電流表和歐姆表一體，提供精密電壓源和電 流源以及測(cè)量功能，可完全滿足太陽能電池IV特性測(cè)試需求。

光譜響應(yīng)SR是評(píng)價(jià)太陽能電池光電轉(zhuǎn)換能力指標(biāo)。提供各波長入射光，接收到入射光后轉(zhuǎn)換成的電流與入射光能量之比即為光譜響應(yīng)SR，吉時(shí)利源表2400系列可JZ測(cè)量光電流完成SR電流特性測(cè)試。

一般電源只提供第1象限和第3象限操作，作為源放出能量，吉時(shí)利源表2400系列可以提供完整的四象限運(yùn)行，當(dāng)工作在第2和第4象限時(shí)，可以作為阱（負(fù)載）吸收能量，在源或阱模式下能測(cè)量電壓、電流和電阻。

高精密源表是太陽能電池測(cè)試中的重要設(shè)備，吉時(shí)利源表的高精度源測(cè)量功能，它集5臺(tái)儀器的功能于一體，是太陽能電池特性測(cè)試的理想選擇。如果您想了解吉時(shí)利源表更多產(chǎn)品應(yīng)用歡迎訪問安泰測(cè)試網(wǎng)。