銅箔是一種陰質(zhì)性電解材料，沉淀于電路板基底層上的一層薄的、連續(xù)的金屬箔， 它作為PCB的導(dǎo)電體。它容易粘合于絕緣層，接受印刷保護(hù)層，腐蝕后形成電路圖樣。銅箔由銅加一定比例的其它金屬打制而成，銅箔一般有90箔和88箔兩種，即為含銅量為90%和88%，尺寸為16*16cm 銅箔，是用途最廣泛的裝飾材料。

測(cè)試方法：

銅箔測(cè)厚儀是用于迅速精確地測(cè)量出規(guī)格銅箔的厚度以及銅箔測(cè)厚的各種范圍的儀器。避免材料報(bào)廢和返工的高成本。能夠有效提升銅箔覆層的制作工藝水平，促進(jìn)電子、金屬、化工等行業(yè)更加良性發(fā)展。

CHY-CA測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

產(chǎn)品特征

嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制

測(cè)試過程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶自由選擇

可選系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)樣，進(jìn)樣步距、測(cè)量點(diǎn)數(shù)和進(jìn)樣速度等相關(guān)參數(shù)均可由用戶自行設(shè)定

實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷

配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性

系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果

5寸觸摸屏操控，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看

標(biāo)準(zhǔn)的USB接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)

技術(shù)指標(biāo)

測(cè)試范圍 0 ~ 2 mm（常規(guī)）

0 ~ 6 mm；12 mm（可選）

分辨率 0.1 μm

測(cè)量壓力 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）

接觸面積 50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）

注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制

進(jìn)樣步距 0 ~ 1000 mm

進(jìn)樣速度 0.1 ~ 99.9 mm/s

電源 AC 220 V 50 Hz

外形尺寸 461 mm (L) × 334 mm (W) × 357 mm (H)

凈　　重 25 kg

濟(jì)南賽成儀器一直致力于為客戶提供高性價(jià)比的整體解決方案，公司的核心宗旨就是持續(xù)創(chuàng)新，打造高精尖檢測(cè)儀器，滿足行業(yè)內(nèi)不同客戶的品控需求，期待與行業(yè)內(nèi)的企事業(yè)單位增進(jìn)交流和合作。

賽成儀器，賽出品質(zhì)，成就未來！

材料性質(zhì)的研究是當(dāng)代材料科學(xué)的重要一環(huán)，,源表SMU 在當(dāng)代材料科學(xué)研究中，起到舉足輕重的作用，吉時(shí)利源表SMU在許多學(xué)科工程師和科學(xué)家中享有盛譽(yù)，以其優(yōu)異的性能為當(dāng)代材料科學(xué)研究提供多種測(cè)試方案，今天安泰測(cè)試就給大家分享一下吉時(shí)利源表在寬禁帶材料測(cè)試的應(yīng)用方案。

一、寬禁帶材料介紹：

寬禁帶材料是指禁帶寬度大于2.3eV的半導(dǎo)體材料，以Ⅲ-Ⅴ族材料，SiC等最為常見。隨著電子電力的發(fā)展，功率器件的使用越來越多，SiC、GaN等被廣泛應(yīng)用于射頻與超高壓等領(lǐng)域。此外，為適應(yīng)特高壓輸電、電動(dòng)汽車充電樁等超高壓應(yīng)用，可以承受更高電壓的超寬禁帶半導(dǎo)體，如碳化硅、氧化鎵等的研究也在逐漸深入，寬禁帶材料一直是研究方向的熱點(diǎn)。在半導(dǎo)體材料的研究中，電阻率、載流子密度和遷移率是測(cè)試的關(guān)鍵參數(shù)。

二、測(cè)試難點(diǎn)：

1、寬禁帶材料的帶隙較大，擊穿電場較高。超禁帶材料擊穿電場更高。因此需要上千伏高壓源表進(jìn)行測(cè)試。

2、功率器件帶隙較寬，穩(wěn)定性好，受溫度影響較小，所以也是高流器件的制備材料。電流特性的測(cè)試，需要用到幾十安培的高流源表。

3、四線法及霍爾效應(yīng)測(cè)試均是加流測(cè)壓的過程，需要設(shè)備能輸出電流并且測(cè)試電壓，這意味著同時(shí)需要電流源和電壓表。

4、電阻率及電子遷移率通常范圍較大，需要電流電壓范圍都很大的設(shè)備。

5、電流源和電壓表精度要高，保證測(cè)試的準(zhǔn)確性。

三、測(cè)試方法及推薦設(shè)備：

電阻率測(cè)試方法:

四探針測(cè)試法

測(cè)試載臺(tái)：四探針測(cè)試臺(tái)

載流子濃度及遷移率測(cè)試方法:

霍爾效應(yīng)測(cè)試法

測(cè)試載臺(tái)：磁場設(shè)備及探針臺(tái)

中功率測(cè)試設(shè)備：

測(cè)試設(shè)備：吉時(shí)利4200A-SCS

高功率測(cè)試方案：

測(cè)試設(shè)備：吉時(shí)利源表2600-PCT

可選:200V/10A低壓基本配置、200V/50A高流配置、3000V/10A高壓配置、3000V/50A高壓高流等配置

四、吉時(shí)利源表方案優(yōu)勢(shì):

1.全面的靜態(tài)/動(dòng)態(tài)測(cè)試方案;

1.高壓3kV，高流100A高精度源表;

3.SMU模塊集電壓源/電壓表/電流源/電流表于一體，集成度高，方便使用;

4.SMU均配有開爾文接口，在測(cè)試小電阻時(shí)可有效消除線纜電阻的影響;

5.4200A設(shè)備電流輸出精度40fA;電流測(cè)試精度10fA;電壓測(cè)試精度80uV;

6.帶有pulse工作模式，使用pulse測(cè)試可以消除自加熱效應(yīng):

7.開放設(shè)備底層指令，附帶編譯軟件，支持自編程;

8.提供高壓高流測(cè)試夾具，保證測(cè)試安全。

泰克吉時(shí)利產(chǎn)品提供各類材料電參數(shù)測(cè)試方案，在高校和研究所的相關(guān)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)幾乎都能看到，如需了解吉時(shí)利源表更多應(yīng)用方案，歡迎訪問安泰測(cè)試網(wǎng)。