全部評(píng)論(5條)
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- THQ之歌 2011-04-09 00:00:00
- http://www.chemyq.com/expert/ep5/49887_94036.htm
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- 糊頭仙 2011-04-15 00:00:00
- 掃描電鏡是利用電子和物質(zhì)的相互作用,可以獲取被測(cè)樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息,如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場(chǎng)或磁場(chǎng)等等,在材料分析上可以獲得材料的表面結(jié)構(gòu)形狀圖像,然后通過(guò)圖像分析軟件進(jìn)行各種分析。
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- 鑹沖疂瀹濃湆鋦 2012-04-13 00:00:00
- 掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測(cè)量。 詳細(xì)的資料,了解可以到 ZG電鏡網(wǎng) 去看看。相信會(huì)幫到你的!
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- 沙源陰暗面該 2011-04-12 00:00:00
- 掃描電鏡主要觀察材料表面形貌。結(jié)合能譜儀可以分析材料的元素組成,分布。利用背散射電子像可以觀察材料中相的組成分布。
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- 抓緊歐胃 2011-04-09 00:00:00
- 可以判斷材料組成,也可以和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比,同時(shí)判斷品質(zhì)是否符合要求。參考ZG儀器超市資料。
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熱門(mén)問(wèn)答
- 掃描電子顯微鏡在材料分析中的應(yīng)用
- 掃描電子顯微鏡在材料科學(xué)研究中都有哪些應(yīng)用
- 掃描電子顯微鏡的應(yīng)用范圍
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- EBL在熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡上的應(yīng)用
簡(jiǎn)介:
電子束曝光技術(shù)(Electron Beam Lithography)指使用電子束在表面上制造圖樣的工藝,是光刻技術(shù)的延伸應(yīng)用。 光刻技術(shù)的精度受到光子在波長(zhǎng)尺度上的散射影響。使用的光波長(zhǎng)越短,光刻能夠達(dá)到的精度越高。根據(jù)德布羅意的物質(zhì)波理論, 電子是一種波長(zhǎng)極短的波。這樣,電子束曝光的精度可以達(dá)到納米量級(jí),從而為制作納米線提供了很有用的工具。電子束曝光技術(shù)在半導(dǎo)體工業(yè)中被廣泛使用于研究下一代超大規(guī)模集成電路。
圖形發(fā)生器及PC機(jī)(中科院電工所 DY-2000A)
電子束曝光的設(shè)備實(shí)現(xiàn)電子束曝光技術(shù)有專(zhuān)門(mén)的儀器—電子束曝光機(jī)。也可以利用掃描電子顯微鏡作為平臺(tái),配置圖形發(fā)生器軟/ 硬件和工作站,按照提前設(shè)計(jì)好的圖形,通過(guò)控制掃描電子顯微鏡的掃描線圈,使電子束按照一定順序在光刻膠上完成曝光動(dòng)作。
日本電子(JEOL)JSM系列熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡在EBL技術(shù)應(yīng)用中的優(yōu)勢(shì):
1.浸沒(méi)式肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)瑝勖L(zhǎng),Z大束流可達(dá)500nA。
2.束流穩(wěn)定度高。
3.ACL(Z優(yōu)角孔徑控制鏡),可在大束流下已經(jīng)保持小電子束斑直徑。 這三者結(jié)合,在保證刻蝕精度和刻蝕尺度的情況下,實(shí)現(xiàn)了GX率。
- 掃描電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)
- 請(qǐng)問(wèn)與普通光學(xué)顯微鏡相比掃描電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)有哪些?
- 掃描電子顯微鏡的簡(jiǎn)介
- 掃描電子顯微鏡分辨率
- 掃描電子顯微鏡分辨率掃描電子顯微鏡的分辨率受哪些因素的影響,用不同的信號(hào)成像時(shí),其分辨率有何不同?所謂掃描電子顯微鏡的分辨率是指何種信號(hào)成像時(shí)的分辨率
- 掃描電子顯微鏡多少錢(qián)
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- 掃描電子顯微鏡的基本原理(一)
自1965年第 一臺(tái)商品掃描電鏡問(wèn)世以來(lái),經(jīng)過(guò)50多年的不斷改進(jìn),掃描電鏡的分辨率已經(jīng)大大提高,而且大多數(shù)掃描電鏡都能與X射線能譜儀等附件或探測(cè)器組合,成為一種多功能的電子顯微儀器。在材料領(lǐng)域中,掃描電鏡發(fā)揮著極其重要的作用,可廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究,如圖1所示的納克微束FE-1050系列場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡。
圖1 納克微束FE-1050系列場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡組成結(jié)構(gòu)可分為鏡體和電源電路系統(tǒng)兩部分,鏡體部分由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集和顯示系統(tǒng)以及真空系統(tǒng)組成,電源電路系統(tǒng)為單一結(jié)構(gòu)組成。
1.1 電子光學(xué)系統(tǒng)
由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室等部件組成。其作用是用來(lái)獲得掃描電子束,作為信號(hào)的激發(fā)源。為了獲得較高的信號(hào)強(qiáng)度和圖像分辨率,掃描電子束應(yīng)具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑。
1.2 信號(hào)收集
檢測(cè)樣品在入射電子作用下產(chǎn)生的物理信號(hào),然后經(jīng)視頻放大作為顯像系統(tǒng)的調(diào)制信號(hào)。1.3 真空系統(tǒng)
真空系統(tǒng)的作用是為保證電子光學(xué)系統(tǒng)正常工作,防止樣品污染,一般情況下要求保持10-4~10-5Torr的真空度。
1.4 電源電路系統(tǒng)
電源系統(tǒng)由穩(wěn)壓,穩(wěn)流及相應(yīng)的安全保護(hù)電路所組成,其作用是提供掃描電鏡各部分所需的電源。
圖3為掃描電鏡工作原理示意圖,具體如下:由電子槍發(fā)出的電子束在加速電壓(通常200V~30kV)的作用下,經(jīng)過(guò)兩三個(gè)電磁透鏡組成的電子光學(xué)系統(tǒng),電子束被聚成納米尺度的束斑聚焦到試樣表面。與顯示器掃描同步的電子光學(xué)鏡筒中的掃描線圈控制電子束,在試樣表面的微小區(qū)域內(nèi)進(jìn)行逐點(diǎn)逐行掃描。由于高能電子束與試樣相互作用,從試樣中發(fā)射出各種信號(hào)(如二次電子、背散射電子、X射線、俄歇電子、陰極熒光、吸收電子等)。
圖3 掃描電鏡的工作原理示意圖
這些信號(hào)被相應(yīng)的探測(cè)器接收,經(jīng)過(guò)放大器、調(diào)制解調(diào)器處理后,在顯示器相應(yīng)位置顯示不同的亮度,形成符合人類(lèi)觀察習(xí)慣的二維形貌圖像或者其他可以理解的反差機(jī)制圖像。
由于圖像顯示器的像素尺寸遠(yuǎn)大于電子束斑尺寸,且顯示器的像素尺寸小于等于人類(lèi)肉眼通常的分辨率,顯示器上的圖像相當(dāng)于把試樣上相應(yīng)的微小區(qū)域進(jìn)行了放大,而顯示圖像有效放大倍數(shù)的限度取決于掃描電鏡分辨率的水平。
早期輸出模擬圖像主要采用高分辨照相管,用單反相機(jī)直接逐點(diǎn)記錄在膠片上,然后沖洗相片。隨著電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,如今掃描電鏡的成像實(shí)現(xiàn)了數(shù)字化圖像,模擬圖像電鏡已經(jīng)被數(shù)字電鏡取代。
掃描電鏡是科技領(lǐng)域應(yīng)用最多的微觀組織和表面形貌觀察設(shè)備,了解掃描電鏡的工作原理及其應(yīng)用方法,有助于在科學(xué)研究中利用好掃描電鏡這個(gè)工具,對(duì)樣品進(jìn)行全面細(xì)致的研究。
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