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X射線的原理及在電子材料研究中的應(yīng)用

zhongmzar27 2018-11-20 22:36:30 347  瀏覽
  • 兩千字的論文

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顯微CT分析可用于牙科研究中的各種應(yīng)用,如牙釉質(zhì)厚度、根管形態(tài)、根管預(yù)備、顱面部骨骼結(jié)構(gòu)、顯微有限元建模、牙體組織工程、牙硬組織礦物密度及種植體等方面。它可以提供高分辨率圖像以及牙齒、骨骼和植入物的定性和定量分析。      

根管是一種孔隙,這種在牙齒中間的低密度空間對牙髓病的研究起了可探索的方向。顯微CT在牙科填料的研究上,特別適用于三維定量評價(jià)根管充填物。

牙釉質(zhì)厚度在人類進(jìn)化中具有分類學(xué)和系統(tǒng)發(fā)育價(jià)值。顯微CT有效且無損的技術(shù)特性被用于測量各種考古標(biāo)本的牙釉質(zhì)厚度。在臨床研究中,牙釉質(zhì)厚度被認(rèn)為對于咬合負(fù)荷方案的解釋具有重要意義。

 

實(shí)例2:大鼠下頜骨和舀齒

大鼠或小鼠下頜骨和臼齒在牙周病和其他牙科相關(guān)領(lǐng)域的許多研究模型中有著重要價(jià)值。通過顯微CT對動(dòng)物下頜骨和牙齒的測量研究,可進(jìn)一步分析牙周生物型各特征之間的相關(guān)性,為口腔美學(xué)修復(fù)、種植ZL方案的選擇、ZL預(yù)后的判斷以及LX的評估提供理論基礎(chǔ)

 

實(shí)驗(yàn)設(shè)備:VENUS? Micro-CT 

            中文名:桌面型高分辨顯微CT

            型號:VNC-100

影像軟件:Avatar 1.3 (平生YL科技)


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會(huì)議通知:X射線光電子能譜之準(zhǔn)原位/原位分析的研究應(yīng)用ZT

X射線光電子能譜儀是一種有效的表面分析技術(shù),已經(jīng)廣泛應(yīng)用于基礎(chǔ)科研、先進(jìn)材料研究、高精尖技術(shù)等領(lǐng)域。XPS作為表面分析領(lǐng)域重要的大型科學(xué)儀器,已經(jīng)成為材料分析中離不開的利器,而XPS在準(zhǔn)原位/原位上的分析應(yīng)用,一直是大家做分析研究時(shí)關(guān)心的一個(gè)重.點(diǎn)。

為了促進(jìn)大家對XPS準(zhǔn)原位/原位分析有更深入、直觀的了解,蘭州大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院的吳劍峰老師邀請PHI CHINA2020813(星期四)開展“X射線光電子能譜之準(zhǔn)原位/原位分析的研究應(yīng)用ZT”講座。報(bào)告摘要如下:

  • XPS在原位的4觸點(diǎn)冷熱樣品臺(原位通電和原位加熱冷卻)的詳細(xì)介紹;

  • 可以實(shí)現(xiàn)高溫高壓的催化反應(yīng)的準(zhǔn)原位氣體反應(yīng)裝置介紹;

  • 光催化研究(用鹵燈或者其他光源輻照樣品,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)原位XPS/UPS/LEIPS測量);

  • 原位的XPS、UPS、LEIPSGCIB技術(shù)介紹;

  • 近常壓XPS技術(shù)的介紹。

此次講座將由PHI CHINA應(yīng)用科學(xué)家鞠煥鑫博士作為主講,通過騰訊會(huì)議與大家進(jìn)行交流討論。屆時(shí)歡迎大家積極參與,積極互動(dòng),讓我們一起云學(xué)習(xí)吧!

參與會(huì)議


1、會(huì)議時(shí)間:

2020年8月13日(星期四) 14:30-16:00

2、預(yù)約會(huì)議:

a 騰訊會(huì)議 ID:116 594 336b 點(diǎn)擊以下鏈接: https://meeting.tencent.com/s/48rg1TATHsXfc 點(diǎn)擊文末下方“閱讀原文”。


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2020-08-10 18:45:36 483 0
會(huì)議回顧:X射線光電子能譜之準(zhǔn)原位/原位分析的研究應(yīng)用ZT

應(yīng)蘭州大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院吳劍峰老師邀請,PHI CHINA開展的“X射線光電子能譜之準(zhǔn)原位/原位分析的研究應(yīng)用ZT”講座在8月13日順利結(jié)束了。X射線光電子能譜是利用X射線激發(fā)樣品,探測樣品表面出射光電子,來獲得樣品表面組成和化學(xué)態(tài)信息的分析技術(shù)。鞠煥鑫博士從XPS最核心的激發(fā)源X射線、研究對象和探測信息三個(gè)方面,系統(tǒng)地講解了XPS最.新的發(fā)展和應(yīng)用:

  • 基于高能量X-ray的XPS的發(fā)展,不僅實(shí)現(xiàn)了無損深度分析,也為原位實(shí)驗(yàn)提供更多可能性;

  • 近常壓XPS的發(fā)展及其在固-氣界面和固-液界面的原位研究;

  • 小束斑的X-ray為不均勻樣品和微區(qū)樣品XPS分析提供了可能;

  • XPS和外場環(huán)境(高溫高壓、電壓和光照等)的結(jié)合,實(shí)現(xiàn)原位工況條件下測試;

  • 原位全面電子結(jié)構(gòu)信息的探測,深入探索半導(dǎo)體樣品特性。

下面是本次講座的PPT要點(diǎn),快來與小助手一起回顧一下吧~

☆課件已精簡,欲了解更多請關(guān)注“PHI與高德”公眾號觀看視頻

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