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- hytt1039 2017-07-24 00:00:00
- 謝勒公式D=kλ/FWHM cosθ計算 D：晶粒尺寸（不叫離子尺寸的） k：0.89 λ：XRD測試的x射線的波長，一般分kα1和kα2，具體用那種需要問測試?yán)蠋煛?FWHM:半高寬 θ：衍射角 具體方法：選定Z強的衍射峰，測量其衍射角和半高寬（可用jade讀取），然后帶入公式計算即可。
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- X射線熒光分析儀-利用薄膜FP法測試膜厚
簡介
利用薄膜FP法測試膜厚為了提高產(chǎn)品部件的耐腐蝕性、裝飾性和功能性，電鍍等表面處理技術(shù)被廣泛地應(yīng)用于各個行業(yè)。由于鍍膜的厚度與產(chǎn)品的特性、質(zhì)量及生產(chǎn)成本有關(guān)，因此管理非常重要，對鍍層厚度有著多種測試、分析和評定方法。X射線熒光光譜儀可以進(jìn)行無損、無標(biāo)樣分析，Z多能夠測試5層鍍膜。
各種標(biāo)準(zhǔn)樣品的測試實例
1.金鍍層
樣品
測試條件
管電壓：50 kV
準(zhǔn)直器直徑：0.9 mm Φ
氣氛：大氣
測試時間：60秒
譜圖
分析結(jié)果
2.鎳鍍層
樣品
測試條件
管電壓：50 kV
準(zhǔn)直器直徑：0.9 mm Φ
氣氛：大氣
測試時間：60秒
譜圖分析結(jié)果
3、鋅鍍層
樣品
測試條件
管電壓：50 kV
準(zhǔn)直器直徑：0.9 mm Φ
氣氛：大氣
測試時間：60秒
譜圖分析結(jié)果
4、銀鍍層
樣品
測試條件
管電壓：50 kV
準(zhǔn)直器直徑：0.9 mm Φ
氣氛：大氣
測試時間：60秒
譜圖分析結(jié)果
使用儀器：JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀
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