全部評論(2條)
-
- 曾經(jīng)的大奔 2017-04-11 00:00:00
- 如何根據(jù)反射和折射來測量介電常數(shù) 液體介電常數(shù)εr可以用靜電場用如下方式測量:首先在其兩塊極板之間為空氣的時(shí)候測試電容器的電容C0.然后,用同樣的電容極板間距離但在極板間加入電介質(zhì)液體后側(cè)得電容Cx.然后液體的介電常數(shù)可以用下式計(jì)算 εr=Cx/C0
-
贊(4)
回復(fù)(0)
-
- 雪無痕老大 2017-04-12 00:00:00
- 電磁波與材料介質(zhì)相互作用的時(shí)候,會(huì)發(fā)生反射,透射,散射等物理現(xiàn)象,通過測量研究這些現(xiàn)象,可以獲得介質(zhì)的相關(guān)參數(shù)。 從總體來說,目前測量介電常數(shù)的方法主要有集中電路法、傳輸線法、諧振法、自由空間波法等等。其中,傳輸線法、集中電路法、諧振法等屬于實(shí)驗(yàn)室測量方法,測量通常是在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行,要求具有相應(yīng)的樣品采集技術(shù)。另外對于已知介電常數(shù)材料發(fā)泡后的介電常數(shù)通常用經(jīng)驗(yàn)公式得到
-
贊(4)
回復(fù)(0)
登錄或新用戶注冊
- 微信登錄
- 密碼登錄
- 短信登錄
請用手機(jī)微信掃描下方二維碼
快速登錄或注冊新賬號(hào)
微信掃碼,手機(jī)電腦聯(lián)動(dòng)
注冊登錄即表示同意《儀器網(wǎng)服務(wù)條款》和《隱私協(xié)議》
熱門問答
- 如何根據(jù)反射和折射來測量介電常數(shù)
2017-04-10 14:18:48
503
2
- 如何測量電介質(zhì)的介電常數(shù)
2017-06-01 08:41:20
714
1
- 如何測量陶瓷的高溫介電常數(shù)?
2017-09-24 11:24:14
683
1
- 折反射望遠(yuǎn)鏡的分類及用途
2018-12-05 12:30:51
389
0
- 問:如何測量高分子薄膜的介電常數(shù)
2018-07-10 20:48:06
799
1
- 如何測量兩層或兩層以上的織物各自的介電常數(shù)
2017-11-08 23:30:47
1297
5
- 試樣厚度對介電常數(shù)測量有何影響
2017-10-14 22:51:02
1391
1
- 如何根據(jù)光譜
2017-11-01 07:55:37
629
1
- 介電常數(shù)測試儀
- 想找一下比較厲害的介電常數(shù)測試儀,Z好是高溫的,可以測居里溫度點(diǎn)的。
2017-10-23 09:10:40
427
1
- 用LCR如何測量固體的介電常數(shù)(設(shè)備剛進(jìn)來,不怎么會(huì)用,謝過)
2007-10-08 15:08:02
704
1
- 平行板電容法測量介電常數(shù)有什么缺點(diǎn)
2017-03-24 16:29:08
596
1
- 如何根據(jù)外表來區(qū)分硅膠管和橡膠管?
2012-02-27 00:47:39
420
2
- 如何根據(jù)吸附自由能確定物理吸附和化學(xué)吸附
2012-06-12 05:23:02
340
3
- 介電常數(shù)和電導(dǎo)率關(guān)系(固體物理/電磁學(xué))
- 在學(xué)固體物理的時(shí)候,書上不加說明地給出了這么一個(gè)關(guān)系: 分析固體對交流電的電阻,按照傅立葉分析,分析其中的ω頻率電流。 其中,有ε(ω)=1+i(4πσ(ω))/ω i是虛數(shù)單位,ε是介電常數(shù),σ是電導(dǎo)率。 我想知道這個(gè)式子是怎么得到的?在什么情況下適用?... 在學(xué)固體物理的時(shí)候,書上不加說明地給出了這么一個(gè)關(guān)系: 分析固體對交流電的電阻,按照傅立葉分析,分析其中的ω頻率電流。 其中,有ε(ω)=1+i(4πσ(ω))/ω i是虛數(shù)單位,ε是介電常數(shù),σ是電導(dǎo)率。 我想知道這個(gè)式子是怎么得到的?在什么情況下適用?謝謝! 展開
2018-11-21 17:30:34
2067
0
- 如何根據(jù)轉(zhuǎn)速換擋
- 如何根據(jù)轉(zhuǎn)速換擋... 如何根據(jù)轉(zhuǎn)速換擋 展開
2010-10-20 08:08:46
338
4
- 介電常數(shù)的測量方法
2018-12-03 05:24:17
399
0
- 激光測距儀能不能通過鏡子反射測量距離
2017-09-04 22:30:33
586
1
- 反射膜厚儀的測量原理是什么?
反射膜厚儀的測試原理基于白光干涉原理工作,光源發(fā)出的寬帶光入射至待測薄膜表面后,經(jīng)薄膜上下表面反射形成的兩束反射光會(huì)因光程差產(chǎn)生干涉,干涉信號(hào)中包含薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)等關(guān)鍵信息,設(shè)備通過探頭采集干涉后的反射光譜,對特定波段范圍內(nèi)的光譜進(jìn)行模型擬合后,即可反演解析出薄膜的厚度、光學(xué)常數(shù)及粗糙度等參數(shù),整個(gè)系統(tǒng)由高強(qiáng)度組合光源提供寬光譜入射光,經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)傳輸至樣品,反射光返回后由高速光譜模塊采集信號(hào),最后通過上位機(jī)軟件完成數(shù)據(jù)處理與結(jié)果輸出。
2026-03-11 09:55:46
54
0
4月突出貢獻(xiàn)榜
推薦主頁
最新話題





參與評論
登錄后參與評論