法國可替代能源和原子能委員會(The French Alternative Energies and Atomic Energy Commission，CEA) 是法國重要的研發(fā)機構，旨在協(xié)調和推動法國在低碳能源(核能和可再生能源)、國防和安全（數字科學）、工業(yè)技術、自然科學和生命科學方面的研究和發(fā)展。CEA與許多研究機構、高校、地方當局和企業(yè)建立了緊密的合作關系，在法國的產業(yè)競爭戰(zhàn)略中發(fā)揮著關鍵作用。CEA Tech 作為CEA的技術研究部門，憑借其廣泛認可的專業(yè)知識和獨特的文化理念和創(chuàng)新能力，為企業(yè)提供由CEA運營部門開發(fā)的核心產能技術，有效地彌合了科研（學術）和商業(yè)化（應用）之間的差距，為工業(yè)開發(fā)和新技術傳播做出了巨大貢獻。[1]

CEA Tech擁有三個實驗室：Leti、Liten和List，主要開發(fā)信息通訊技術（Information and Communication Technologies，ICTs）、能源和醫(yī)療領域的一系列技術產品。其中，CEA-Leti（Laboratoire d’ èlectronique des technologies de I’information）成立于1967年，是CEA Tech下屬的一家技術科研機構，也是法國的39個卡諾研究所之一，與來自不同領域多達220家的公司開展研發(fā)項目，主研方向涉及微納技術，微納機電系統(tǒng)(MEMS和NEMS)。Leti提供廣泛的技術服務，涵蓋MEMS和NEMS的整個開發(fā)周期，解決傳感器、開關、射頻組件、3D集成、表征和可靠性測試等問題，打破學術與產業(yè)之間的壁壘，成功地將研究成果轉移到工業(yè)世界。[2]

毋庸置疑，科研產業(yè)化離不開先進分析技術的支持。由CEA-Liten、CEA-Leti等聯(lián)合運營的納米表征平臺（Nanocharacterization Platform，PFNC）擁有大約50臺先進的表征設備，包括XPS、TOF-SIMS、Nano Auger、WAXS、SAXS 、EBSD SEM、TEM、HR-TEM、FIB SEM (3D) 、Raman和FTIR等，涉及樣品制備、表面和離子束分析、掃描和透射電子顯微鏡、x射線成像以及分子光譜學等，以此獲取材料表面、界面和內部特性的信息，研究人員結合多個信息源可以創(chuàng)建多尺度分析，并通過關聯(lián)來自不同工具的數據做出更可靠的分析，在CEA的成果轉化中起著重要作用。[3] 特別地，CEA-Leti先后在ULVAC-PHI購買了AES（PHI 700）、XPS（PHI VersaProbe Ⅱ和Quantes）以及TOF-SIMS（nano TOF Ⅱ）,這些設備為CEA的研究工作提供了強有力的技術支持。

Olivier Renault博士是CEA-Leti計量與物理表征部門的首席科學家，也是納米表征平臺表面分析小組的負責人，主要致力于光電發(fā)射技術、分析設備以及相關材料表征方法的研究，包括利用X射線光電子能譜(XPS)、硬X射線光電子光譜學(HAXPES)、光電發(fā)射電子顯微鏡(PEEM)和同步輻射技術進行元素、化學態(tài)、功函數和能帶結構成像分析等，在相關領域已發(fā)表SCI文章60余篇。Olivier Renault博士利用PHI Quantes 設備的Cr Kα (5414.8 eV) X射線源開展了大量HAXPES測試工作。[4]

ULVAC-PHI作為全 球技術領先的表面分析儀器廠商，一直致力于開發(fā)最 先進的儀器設備和提供最 優(yōu)質的技術服務，力圖幫助用戶解決科研和生產中的相關難題，共同推動表面分析技術的發(fā)展。

參考資料：

[1]https://www.cea-tech.fr/cea-tech/english

[2]https://www.leti-cea.fr/cea-tech/leti

[3]https://liten.cea.fr/cea-tech/liten/english/Pages/Work-with-us/Technology-platforms/Nanocharacterisation.aspx

[4]DOI:10.1116/6.0001508, DOI:10.1116/6.0001509, 

DOI:10.1116/6.0001510, DOI:10.1116/6.0001511, 

DOI:10.1116/6.0001512, DOI: 10.1116/6.0001513