實驗室有臺Agilent E4990A，如何測試薄膜高溫介電常數(shù)？
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實驗室有臺Agilent E4990A，需要測試薄膜從室溫到300℃的介電常數(shù)和介電損耗。
全部評論(1條)
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- 樂觀的糖糖20 2017-10-23 00:00:00
- 1.首先，Agilent E4990A可以測量材料的電容C、介電損耗D，電感L、電阻R等參數(shù)值。 2.如果需要測薄膜材料的介電常數(shù)和介電損耗，只需在儀器上設(shè)置電容C和介電損耗D值兩個參數(shù)，之后再通過樣品的尺寸信息（樣品厚度、樣品直徑）計算介電常數(shù)值。 3.如果需要測薄膜材料的高溫介電常數(shù)和介電損耗，則需要配合高溫測試平臺、高溫介電夾具、以及高溫介電溫譜測量系統(tǒng)軟件來完成測量任務(wù)，也就是一整套高溫介電溫譜測量系統(tǒng)來完成實驗。 4.三琦高溫介電溫譜測量系統(tǒng)是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電性能測量需求而設(shè)計的。它由硬件設(shè)備和測量軟件組成，包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統(tǒng)軟件四個組成部分。
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