隨著納米材料在生活生產(chǎn)各方面應用的日趨廣泛，研究的愈加深入，乃至相應標準與法規(guī)的建立與完善；對納米材料的研究與檢測的需求，也從單純的形貌、結構等微觀因素的表征分析，更進一步到需求在更大區(qū)域上獲得更具體統(tǒng)計意義和科學意義的大量數(shù)據(jù)，這就要求更加穩(wěn)定的電鏡平臺、更加便捷的數(shù)據(jù)獲取方式、更具有重復性的數(shù)據(jù)結果、以及更加gao效的數(shù)據(jù)分析工具。

針對上述需求，基于我們目前現(xiàn)代化的高穩(wěn)定性電鏡平臺、全自動的數(shù)據(jù)采集軟件Maps、智能化的數(shù)據(jù)自動分析平臺Avizo2D，我們開發(fā)了一套完整的納米顆粒材料分析解決方案: APW (Automated NanoPartical Workflow)。它可以搭載在我們所有的電鏡平臺上，在無人值守的情況下，完成自定義大區(qū)域的在線全自動數(shù)據(jù)采集與數(shù)據(jù)分析工作，極大提高了數(shù)據(jù)的采集與分析效率，并且極大降低了人為因素的干擾，可以方便快捷地獲得大量納米顆粒各方面特性的準確統(tǒng)計數(shù)據(jù)，對相應的檢驗檢測與科學研究意義重大。

賽默飛將于8月19日上午舉辦一場關于“zui新納米顆粒材料分析解決方案”的直播講座，歡迎掃碼注冊觀看直播！