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  造物我知道 2007-08-12 00:00:00

  SEM通過電子來使樣本放大50萬倍，相當(dāng)于將1毫米放大到500米。同時(shí)，SEM也可以分析樣品的組成元素。SEM產(chǎn)生電子束撞擊樣品原子的電子層，產(chǎn)生X射線，釋放不同程度的能力，從而判斷原子的種類。這項(xiàng)技術(shù)也被稱為X射線微探技術(shù)，對(duì)于分析槍擊痕跡非常有用。

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  蘆晶aima 2007-08-12 00:00:00

  補(bǔ)充匿名 8-12 13:43 優(yōu)點(diǎn): 與光學(xué)顯微鏡相比，電子顯微鏡為電子束為介質(zhì)，由于電子束波長遠(yuǎn)較可見光小，故電子顯微鏡分辨率遠(yuǎn)比光學(xué)顯微鏡高.光學(xué)顯微鏡放大倍率Z高只有約1500倍，掃描式顯微鏡可放大到10000倍以上. 掃描電子顯微鏡有一重要特色是具有超大的景深(depth of field)，約為光學(xué)顯微鏡的300倍，使得掃描式顯微鏡比光學(xué)顯微鏡更適合觀察表面起伏程度較大的試片. 可進(jìn)行多種功能的分析.與 X 射線譜儀配接，可在觀察形貌的同時(shí) 進(jìn)行微區(qū)成分分析;配有光學(xué)顯微鏡和單色儀等附件時(shí)，可觀察陰極熒光圖像和進(jìn)行陰極熒光光譜分析等. 可使用加熱，冷卻和拉伸等樣品臺(tái)進(jìn)行動(dòng)態(tài)試驗(yàn)，觀察在不同環(huán)境 條件下的相變及形態(tài)變化等. 缺點(diǎn):大部分電子掃描顯微鏡的抗污染能力低，必須提供真空系統(tǒng)和電源穩(wěn)壓系統(tǒng). 基本功能和用途： 二次電子象，背散射電子象，圖象處理及分析，能做各種固體材料樣品表面形貌及組織結(jié)構(gòu)的分析.

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  中英鍛造廠 2016-12-02 00:19:02

  掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆 粒，成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是Z主要的成像信號(hào)。由電子槍發(fā)射的能量為 5 ～ 35keV 的電子，以其交 叉斑作為電子源，經(jīng)二級(jí)聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強(qiáng)度和束斑直徑的微細(xì)電子束，在掃描線圈驅(qū)動(dòng)下，于試樣表面按一定時(shí)間、空間順 序作柵網(wǎng)式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用，產(chǎn)生二次電子發(fā)射（以及其它物理信號(hào)），二次電子發(fā)射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號(hào)被探測(cè)器收集 轉(zhuǎn)換成電訊號(hào)，經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極，調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。 示意圖： http://www.science.globalsino.com/1/images/1science9682.jpg

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