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- BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta 電位儀
BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta 電位儀
——90°散射粒度 + Zeta 電位二合一型
儀 器 簡(jiǎn) 介
BeNano 90 Zeta 納 米 粒 度 及 Zeta 電 位 儀 是 BeNano 90 +BeNano Zeta 二合一的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。
指標(biāo)與性能
粒徑測(cè)試
粒徑范圍:0.3 nm – 15 μm*
樣品量:3 μL – 1 mL*
檢測(cè)角度:90 ° & 12°
分析算法:Cumulants、通用模式、CONTIN
Zeta 電位測(cè)試
技術(shù):相位分析光散射
檢測(cè)角度:12°
Zeta 范圍:無(wú)實(shí)際限制
電泳遷移率范圍:> ±20 μm.cm/v.s
電導(dǎo)率范圍:0 – 260 mS/cm
最小樣品量:0.75 mL – 1.0 mL
Zeta 測(cè)試粒徑范圍:2 nm – 110 μm
分子量測(cè)試
分子量范圍:342 Da – 2 x 10 7 Da*
趨勢(shì)測(cè)量
模式:時(shí)間和溫度
粘度測(cè)試
粘度范圍:0.01 cp – 100 cp*
系統(tǒng)參數(shù)
溫控范圍:-10° C - 110° C,精度 ±0.1° C
激光光源:50 mW 高性能固體激光器, 671 nm
相關(guān)器:最多 4000 通道,1011 動(dòng)態(tài)線性范圍
檢測(cè)器:APD ,高性能雪崩光電二極管
光強(qiáng)控制:0.0001% - 100%,手動(dòng)或自動(dòng)
*取決于樣品和選件
原理圖
儀器檢測(cè)
檢測(cè)參數(shù)
顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
顆粒體系的 Zeta 電位及其分布
分子量
分布系數(shù) PD.I
擴(kuò)散系數(shù) D
流體力學(xué)直徑 D H
顆粒間相互作用力因子 k D
溶液粘度
檢測(cè)技術(shù)
動(dòng)態(tài)光散射
電泳光散射
相位分析光散射
靜態(tài)光散射
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