篩分分析方法*簡(jiǎn)單的也是應(yīng)用*早的粒度分析方法是篩分法。但是，由于現(xiàn)今的標(biāo)準(zhǔn)篩*細(xì)一般只到400目，因此，對(duì)于小于10μm的超細(xì)粉體來說，不可能用標(biāo)準(zhǔn)篩進(jìn)行粒度分析和檢測(cè)。雖然新發(fā)展的電沉積篩網(wǎng)可以篩分小至5μm的粉體物料，但這種篩分技術(shù)由于篩分時(shí)間長(zhǎng)和經(jīng)常發(fā)生堵塞，很少在分析中使用。篩分分析是利用篩孔大小不同的一套篩子進(jìn)行粒度分級(jí)。對(duì)于粒度小于100mm而大于0.038mm的松散物料，一般用篩分法測(cè)定其粒度組成和粒度分布。

??篩分分析采用的套篩一般有兩種：一種為非標(biāo)準(zhǔn)篩，實(shí)驗(yàn)室可以自己制造，用于篩分粗粒物料。篩孔大小一般為150，120，100，80，70，50，25，15，12，6，3，2，1(mm)等，根據(jù)需要確定。另一種為標(biāo)準(zhǔn)套篩，用于篩分細(xì)度物料，標(biāo)準(zhǔn)套篩是由一套篩孔大小有一定比例的、篩孔寬度和篩絲直徑都是按標(biāo)準(zhǔn)制造的篩子組。上層篩子的篩孔大，下層篩子的篩孔小，另外還有一個(gè)上蓋(防止試樣在篩分的過程中損失)和篩底(用來直接接取*層篩子的篩下產(chǎn)物)。

??將標(biāo)準(zhǔn)篩按篩孔由大到小，從上到下排列起來，各個(gè)篩子所處的層位叫篩序；在疊好的篩序中，每?jī)蓚€(gè)相鄰的篩孔尺寸之比叫篩比。有些標(biāo)準(zhǔn)篩有一個(gè)作為基準(zhǔn)的篩子叫基篩，如泰勒標(biāo)準(zhǔn)篩以200目篩子作為基篩

顆粒度檢測(cè)儀如何？

顆粒的大小叫做顆粒的粒度。度量顆粒大小的單位一般用微米或納米，個(gè)別領(lǐng)域也用毫米。在粒度測(cè)試中通常用顆粒的直徑（粒徑）來描述顆粒的粒度。

由固體顆粒堆積而成的集合體叫粉體。固體顆粒是組成粉體的基本單元。

用特定方法測(cè)定的不同粒徑區(qū)間內(nèi)的顆粒占總量的百分?jǐn)?shù)稱為粒度分布。粒度分布有多種基準(zhǔn)，如數(shù)量分布、長(zhǎng)度分布、面積分布、體積分布、重量分布等。激光法的基準(zhǔn)是體積分布，沉降法的基準(zhǔn)是重量分布，電阻法的基準(zhǔn)是數(shù)量分布。不同基準(zhǔn)的粒度分布數(shù)值不同，理論上不同基準(zhǔn)的粒度分布可以通過數(shù)學(xué)方法轉(zhuǎn)換，但由于粉體形狀千差萬別，有時(shí)這種轉(zhuǎn)換的誤差較大

    納米粒度和zeta電位的測(cè)試方法有很多種，粒度可以采用動(dòng)態(tài)光散射原理、超聲波衰減法、電鏡等來做測(cè)試，zeta電位測(cè)試方法主要有相位分析光散射（PALS）法、電聲法、流動(dòng)電位法、顯微電泳法等。每種方法都有其各自的優(yōu)劣勢(shì)。今天就動(dòng)態(tài)光散射測(cè)試納米粒度和相位分析光散射（PALS）法測(cè)試zeta電位做個(gè)介紹。

一、納米粒度及zeta電位分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域：

隨著科技的發(fā)展納米粒度及zeta電位分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域很廣泛，比如：醫(yī)藥、材料、鋰電、涂料、化妝品、航天、環(huán)保等。在制造過程中的質(zhì)量控制，可以采用在線納米粒度儀，藥物輸送系統(tǒng)優(yōu)化等；zeta電位的測(cè)試可以用來評(píng)價(jià)樣品狀態(tài)穩(wěn)定性，化妝品和工業(yè)乳液穩(wěn)定性研究；納米顆粒制備和合成工藝優(yōu)化，先進(jìn)的膠體穩(wěn)定性分析和優(yōu)化，聚合物的表征。

今天小編以蔗糖鐵溶液為案例，給大家簡(jiǎn)單介紹下動(dòng)態(tài)光散射測(cè)試納米粒度及相位分析光散射法測(cè)試zeta電位。

檢測(cè)前準(zhǔn)備

（1）樣品展示：

蔗糖鐵溶液主要為呈現(xiàn)深褐色，顏色比較深，對(duì)于zeta電位的測(cè)試是很有挑戰(zhàn)的。粒度測(cè)試也有難度。這對(duì)于儀器的精度和技術(shù)有比較高的要求。

（2）分析儀器：動(dòng)態(tài)光散射DLS納米粒度及zeta電位分析儀 

型號(hào)：ZS 920

二、檢測(cè)步驟：

通過之前的文章我們知道有流動(dòng)電位法，流動(dòng)電流法，顯微電泳法，電泳光散射法等測(cè)量方法，其中流動(dòng)電位法，流動(dòng)電流法可以測(cè)量幾乎所有尺寸的宏觀固體表面上的zeta電位，特別適合于測(cè)量膜等大尺寸平面樣品的zeta電位；顯微電泳法，電泳光散射法適于測(cè)量膠體顆粒的zeta電位，我們的蔗糖鐵溶液就是通過電泳光散射法來測(cè)量的。下面就是具體的檢測(cè)步驟。

1）打開儀器后面的開關(guān)及電腦顯示器。

2）打開操作軟件，選擇所要保存數(shù)據(jù)的文件夾

3）將待測(cè)溶液加入粒度樣品池比色皿（水相用塑料，有機(jī)相用玻璃）中，插入樣品槽，蓋上儀器外蓋。

4）設(shè)定測(cè)試參數(shù)

5）開始測(cè)量

6）數(shù)據(jù)分析

三、測(cè)試數(shù)據(jù)：

1）粒度測(cè)試結(jié)果展示

2. zeta電位測(cè)試結(jié)果展示

四、我們的優(yōu)勢(shì)：

梓夢(mèng)科技的納米粒度及zeta電位分析儀具有以下幾點(diǎn)優(yōu)勢(shì)：

（1）高效的信噪比和抗干擾能力，它是利用光纖技術(shù)集成發(fā)射光路和接收光路，從而有效地提高了信噪比和抗干擾能力。

（2）先對(duì)散射光信號(hào)進(jìn)行頻譜預(yù)分析，獲取需要細(xì)化分析的頻譜范圍，然后在窄帶范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨率的頻譜細(xì)化分析，從而獲得準(zhǔn)確的散射光頻移。

（3）基于雙電層理論模型，求解顆粒的雙電層厚度，獲得準(zhǔn)確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值，再利用最小二乘擬合算法獲得精確的Henry函數(shù)表達(dá)式，進(jìn)而有效提高了納米粒度及zeta電位分析儀的測(cè)量精度。

（4）Henry函數(shù)的取值：使用最小二乘曲線擬合算法對(duì)Wiersema計(jì)算的精確Henry函數(shù)值進(jìn)行擬合， 得到優(yōu)化Henry函數(shù)表達(dá)式.

（5）強(qiáng)大易用的控制軟件；ZS-920系列納米粒度及zeta電位分析儀的控制軟件具有納米顆粒粒度和zeta電位測(cè)量功能，一鍵式測(cè)量，具有符合21CFR Part11要求的軟件，滿足制藥企業(yè)用戶對(duì)數(shù)據(jù)管理的要求。

   如對(duì)動(dòng)態(tài)光散射納米粒度和zeta電位分析儀有更多疑問隨時(shí)歡迎來電咨詢。