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FS-Pro 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹-安泰測(cè)Agitek

西安安泰測(cè)試設(shè)備有限公司 2023-07-07 11:25:23 377  瀏覽
  • S-Pro 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析設(shè)備,在一個(gè)系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)了電流電壓 (IV) 測(cè)試、電容電壓 (CV) 測(cè)試、脈沖式 IV 測(cè)試、任意線(xiàn)性波形發(fā)生與測(cè)量、高速時(shí)域信號(hào)釆集以及低頻噪聲測(cè)試能力。幾乎所有半導(dǎo)體器件的低頻特性表征都可以在 FS-Pro 測(cè)試系統(tǒng)中完成。其全面而強(qiáng)大的參數(shù)測(cè)試分析能力極大地加速了半導(dǎo)體器件與工藝的研發(fā)和評(píng)估進(jìn)程,并可與概倫 9812 系列噪聲測(cè)試系統(tǒng)無(wú)縫集成,其快速 DC 測(cè)試能力進(jìn)一步提升了 9812 系列產(chǎn)品的噪聲測(cè)試效率。

    FS-Pro 釆用工業(yè)通用的 PXI 模塊化硬件架構(gòu),系統(tǒng)擴(kuò)展性強(qiáng), 還支持多通道并行測(cè)試,可進(jìn)一步提升測(cè)試效率。系統(tǒng)內(nèi)置專(zhuān)業(yè)測(cè)試軟件 LabExpress 為用戶(hù)提供了豐富的測(cè)試預(yù)設(shè)和強(qiáng)大的測(cè)試功能,可實(shí)現(xiàn)非常友好的用戶(hù)即插即用體驗(yàn)。

    FS-Pro 可廣泛應(yīng)用于各種半導(dǎo)體器件、LED 材料、二維材料器 件、金屬材料、新型先進(jìn)材料與器件測(cè)試等。

    基于在產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試與科研應(yīng)用方面的優(yōu)異表現(xiàn),F(xiàn)S-Pro 不僅被眾 多芯片設(shè)計(jì)公司和代工廠、IDM 公司釆用,其全面的測(cè)試能力更在科研學(xué)術(shù)界受到了廣泛關(guān)注和認(rèn)可,目前已被數(shù)十所國(guó)內(nèi)外高校及科學(xué)研究機(jī)構(gòu)所選用。

    應(yīng)用范圍:

    被半導(dǎo)體工業(yè)界和眾多知名大學(xué)及科研機(jī)構(gòu)釆用作為標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀器

    集成功能:

    高速高精度 IV/CV測(cè)試能力

    脈沖式 IV測(cè)試能力

    任意線(xiàn)性波形發(fā)生與測(cè)量能力

    高速時(shí)域信號(hào)釆集能力

    與 9812 對(duì)準(zhǔn)的低頻噪聲測(cè)試能力

    使用方式:

    通過(guò)內(nèi)置專(zhuān)業(yè)軟件 LabExpress 的豐富功能實(shí)現(xiàn)測(cè)試

    操作簡(jiǎn)單靈活,無(wú)需編程即可實(shí)現(xiàn)自由的波形發(fā)生或電壓同步與跟隨

    系統(tǒng)架構(gòu):

    PXI標(biāo)準(zhǔn)機(jī)箱,可擴(kuò)展架構(gòu),支持通過(guò)多機(jī)箱擴(kuò)展SMU卡數(shù)量

    支持并行測(cè)試:

    內(nèi)置功能強(qiáng)大的測(cè)試算法

    支持多通道并行測(cè)試

    成倍提升測(cè)試效率

    硬件規(guī)格:

    寬量程:200V 電壓,1A 直流電流

    高精度:30fA 精度,0.1fA 靈敏度

    噪聲測(cè)試帶寬:高精度最高 100kHz,超低頻最高 40Hz

    噪聲測(cè)試速度:<10s/bias(大于 0.5Hz 頻率分辨率)

    內(nèi)置脈沖測(cè)試:200V 電壓,3A 脈沖電流,最小 50us 脈寬

    內(nèi)置 CV測(cè)試:200V/10kHz,最低可測(cè)至 20fF

    外置 CV 測(cè)試模塊:40V/2MHz(高精度型)

    40V/10MHz(高帶寬型)

    高速時(shí)域信號(hào)采集:最小采樣時(shí)間 < 1us,10 萬(wàn)點(diǎn)數(shù)據(jù)

    噪聲測(cè)試最小阻抗:500Ω

    噪聲測(cè)試分辨能力:最低 2e-28A2/Hz

    噪聲測(cè)試頻率分辨率:高精度 0.1Hz,超低頻 0.001Hz

    高精度快速波形發(fā)生與測(cè)量套件 :2 通道,SMA 接口

    快速 IV 測(cè)試:±10V 電壓,最大 10mA 電流

    SMU 直通:±25V 電壓輸入,最大 100mA 電流

    100MSa/s 采樣率,最小推薦脈沖寬度可達(dá) 130ns

    軟件功能:

    FS-Pro 系列內(nèi)置 LabExpress 測(cè)量軟件具有強(qiáng)大的測(cè)試和分析功能,該軟件提供友好的圖形化用戶(hù)使用界面和靈活的設(shè)定,具有下列主要功能:

    • 完整支持直流、脈沖、瞬態(tài)、電容、噪聲測(cè)試、任意波形發(fā)生與測(cè)量功能

    • 支持長(zhǎng)程 Stress 測(cè)試,和 HCI,BTI,TDDB,GOI(V-Ramp, J-Ramp)可靠性測(cè)試

    • 內(nèi)置的常見(jiàn)器件測(cè)試預(yù)設(shè)可大大提高測(cè)試設(shè)置效率,幫助新手操作者快速完成測(cè)試

    • 強(qiáng)大的自定義設(shè)定功能可以靈活編輯電信號(hào)

    • 內(nèi)置強(qiáng)大數(shù)據(jù)處理能力可測(cè)試后直接展幵器件特性分析多種數(shù)據(jù)保存方式,導(dǎo)出數(shù)據(jù)可供用戶(hù)后續(xù)分析研究也可直接導(dǎo)入建模軟件 BSIMProPlus 和 MeQLab 進(jìn)行模型提取 和特性分析

    • LabExpress 專(zhuān)業(yè)版支持對(duì)主流探針臺(tái)和矩陣幵關(guān)設(shè)備的控制,支持晶圓映射、并行測(cè)試實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試功能,進(jìn)—步提升測(cè)試效率

    產(chǎn)品應(yīng)用:

    新型材料與器件測(cè)試

    半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試

    半導(dǎo)體器件超短脈沖測(cè)試

    半導(dǎo)體器件無(wú)損探傷與測(cè)試

    光電器件和微電子機(jī)械系統(tǒng)測(cè)試

    半導(dǎo)體器件超低頻噪聲領(lǐng)域測(cè)試

    應(yīng)用實(shí)例:

    以上內(nèi)容由西安安泰測(cè)試分享,如在選型/使用過(guò)程中有任何問(wèn)題咨詢(xún)安泰測(cè)試,安泰測(cè)試國(guó)內(nèi)測(cè)量?jī)x器綜合服務(wù)商。https://www.agitek.cn/cp/1166.html


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FS-Pro 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹-安泰測(cè)Agitek

S-Pro 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析設(shè)備,在一個(gè)系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)了電流電壓 (IV) 測(cè)試、電容電壓 (CV) 測(cè)試、脈沖式 IV 測(cè)試、任意線(xiàn)性波形發(fā)生與測(cè)量、高速時(shí)域信號(hào)釆集以及低頻噪聲測(cè)試能力。幾乎所有半導(dǎo)體器件的低頻特性表征都可以在 FS-Pro 測(cè)試系統(tǒng)中完成。其全面而強(qiáng)大的參數(shù)測(cè)試分析能力極大地加速了半導(dǎo)體器件與工藝的研發(fā)和評(píng)估進(jìn)程,并可與概倫 9812 系列噪聲測(cè)試系統(tǒng)無(wú)縫集成,其快速 DC 測(cè)試能力進(jìn)一步提升了 9812 系列產(chǎn)品的噪聲測(cè)試效率。

FS-Pro 釆用工業(yè)通用的 PXI 模塊化硬件架構(gòu),系統(tǒng)擴(kuò)展性強(qiáng), 還支持多通道并行測(cè)試,可進(jìn)一步提升測(cè)試效率。系統(tǒng)內(nèi)置專(zhuān)業(yè)測(cè)試軟件 LabExpress 為用戶(hù)提供了豐富的測(cè)試預(yù)設(shè)和強(qiáng)大的測(cè)試功能,可實(shí)現(xiàn)非常友好的用戶(hù)即插即用體驗(yàn)。

FS-Pro 可廣泛應(yīng)用于各種半導(dǎo)體器件、LED 材料、二維材料器 件、金屬材料、新型先進(jìn)材料與器件測(cè)試等。

基于在產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試與科研應(yīng)用方面的優(yōu)異表現(xiàn),F(xiàn)S-Pro 不僅被眾 多芯片設(shè)計(jì)公司和代工廠、IDM 公司釆用,其全面的測(cè)試能力更在科研學(xué)術(shù)界受到了廣泛關(guān)注和認(rèn)可,目前已被數(shù)十所國(guó)內(nèi)外高校及科學(xué)研究機(jī)構(gòu)所選用。

應(yīng)用范圍:

被半導(dǎo)體工業(yè)界和眾多知名大學(xué)及科研機(jī)構(gòu)釆用作為標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀器

集成功能:

高速高精度 IV/CV測(cè)試能力

脈沖式 IV測(cè)試能力

任意線(xiàn)性波形發(fā)生與測(cè)量能力

高速時(shí)域信號(hào)釆集能力

與 9812 對(duì)準(zhǔn)的低頻噪聲測(cè)試能力

使用方式:

通過(guò)內(nèi)置專(zhuān)業(yè)軟件 LabExpress 的豐富功能實(shí)現(xiàn)測(cè)試

操作簡(jiǎn)單靈活,無(wú)需編程即可實(shí)現(xiàn)自由的波形發(fā)生或電壓同步與跟隨

系統(tǒng)架構(gòu):

PXI標(biāo)準(zhǔn)機(jī)箱,可擴(kuò)展架構(gòu),支持通過(guò)多機(jī)箱擴(kuò)展SMU卡數(shù)量

支持并行測(cè)試:

內(nèi)置功能強(qiáng)大的測(cè)試算法

支持多通道并行測(cè)試

成倍提升測(cè)試效率

硬件規(guī)格:

寬量程:200V 電壓,1A 直流電流

高精度:30fA 精度,0.1fA 靈敏度

噪聲測(cè)試帶寬:高精度最高 100kHz,超低頻最高 40Hz

噪聲測(cè)試速度:<10s/bias(大于 0.5Hz 頻率分辨率)

內(nèi)置脈沖測(cè)試:200V 電壓,3A 脈沖電流,最小 50us 脈寬

內(nèi)置 CV測(cè)試:200V/10kHz,最低可測(cè)至 20fF

外置 CV 測(cè)試模塊:40V/2MHz(高精度型)

40V/10MHz(高帶寬型)

高速時(shí)域信號(hào)采集:最小采樣時(shí)間 < 1us,10 萬(wàn)點(diǎn)數(shù)據(jù)

噪聲測(cè)試最小阻抗:500Ω

噪聲測(cè)試分辨能力:最低 2e-28A2/Hz

噪聲測(cè)試頻率分辨率:高精度 0.1Hz,超低頻 0.001Hz

高精度快速波形發(fā)生與測(cè)量套件 :2 通道,SMA 接口

快速 IV 測(cè)試:±10V 電壓,最大 10mA 電流

SMU 直通:±25V 電壓輸入,最大 100mA 電流

100MSa/s 采樣率,最小推薦脈沖寬度可達(dá) 130ns

軟件功能:

FS-Pro 系列內(nèi)置 LabExpress 測(cè)量軟件具有強(qiáng)大的測(cè)試和分析功能,該軟件提供友好的圖形化用戶(hù)使用界面和靈活的設(shè)定,具有下列主要功能:

  • 完整支持直流、脈沖、瞬態(tài)、電容、噪聲測(cè)試、任意波形發(fā)生與測(cè)量功能

  • 支持長(zhǎng)程 Stress 測(cè)試,和 HCI,BTI,TDDB,GOI(V-Ramp, J-Ramp)可靠性測(cè)試

  • 內(nèi)置的常見(jiàn)器件測(cè)試預(yù)設(shè)可大大提高測(cè)試設(shè)置效率,幫助新手操作者快速完成測(cè)試

  • 強(qiáng)大的自定義設(shè)定功能可以靈活編輯電信號(hào)

  • 內(nèi)置強(qiáng)大數(shù)據(jù)處理能力可測(cè)試后直接展幵器件特性分析多種數(shù)據(jù)保存方式,導(dǎo)出數(shù)據(jù)可供用戶(hù)后續(xù)分析研究也可直接導(dǎo)入建模軟件 BSIMProPlus 和 MeQLab 進(jìn)行模型提取 和特性分析

  • LabExpress 專(zhuān)業(yè)版支持對(duì)主流探針臺(tái)和矩陣幵關(guān)設(shè)備的控制,支持晶圓映射、并行測(cè)試實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試功能,進(jìn)—步提升測(cè)試效率

產(chǎn)品應(yīng)用:

新型材料與器件測(cè)試

半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試

半導(dǎo)體器件超短脈沖測(cè)試

半導(dǎo)體器件無(wú)損探傷與測(cè)試

光電器件和微電子機(jī)械系統(tǒng)測(cè)試

半導(dǎo)體器件超低頻噪聲領(lǐng)域測(cè)試

應(yīng)用實(shí)例:

以上內(nèi)容由西安安泰測(cè)試分享,如在選型/使用過(guò)程中有任何問(wèn)題咨詢(xún)安泰測(cè)試,安泰測(cè)試國(guó)內(nèi)測(cè)量?jī)x器綜合服務(wù)商。https://www.agitek.cn/cp/1166.html


2023-07-07 11:25:23 377 0
安泰ATA-2048高壓放大器產(chǎn)品介紹-安泰測(cè)試Agitek

ATA-2048高壓放大器簡(jiǎn)介 Introduction


ATA-2048是一款可放大交直流信號(hào)的單通道高壓放大器。最大帶寬1MHz,最大輸出400Vp-p電壓,輸入輸出電阻兩檔切換,電壓增益數(shù)控可調(diào),設(shè)置參數(shù)自動(dòng)保存,還具有程控功能,操作簡(jiǎn)潔方便,可與信號(hào)發(fā)生器配套使用,實(shí)現(xiàn)信號(hào)的放大。

輸入 Input

輸入為BNC接口,輸入電阻50Ω、10kΩ兩檔可選,匹配高低內(nèi)阻信號(hào)源。

輸出 Output

輸出為香蕉插座,最大輸出電壓400Vp-p(±200Vp),最大輸出電流80mAp。

液晶顯示

操作面板液晶顯示,設(shè)備狀態(tài)及參數(shù)動(dòng)態(tài)顯示,交互界面一目了然,簡(jiǎn)潔易懂。

電壓增益

ATA-2048高壓放大器電壓增益數(shù)控0~60倍可調(diào),具體分為粗調(diào)(1step)和細(xì)調(diào)(0.1step)兩種。結(jié)合液晶面板增益的顯示,能夠快速調(diào)整至需要的電壓值。

監(jiān)測(cè)口 Monitor

10mV/V Monitor:此端口電壓為輸出端口的1/100,監(jiān)測(cè)口為BNC接頭,可以直接連接到示波器進(jìn)行輸出電壓的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

10V/A Monitor:監(jiān)測(cè)口電壓為輸出端口電流的10倍,監(jiān)測(cè)口為BNC接頭,可直連示波器進(jìn)行輸出電流的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

技術(shù)參數(shù):

以上內(nèi)容由西安安泰測(cè)試分享,如在選型/使用過(guò)程中有任何問(wèn)題咨詢(xún)安泰測(cè)試,安泰測(cè)試國(guó)內(nèi)測(cè)量?jī)x器綜合服務(wù)商。https://www.agitek.cn/cp/2086.html

2023-07-07 11:31:07 247 0
安泰測(cè)試Agitek-9812DX低頻噪聲測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹

9812DX作為單一完整的低頻噪聲測(cè)試系統(tǒng),支持多種半導(dǎo)體器件類(lèi)型在各種工作條件下(如200V高壓、10pA極低電流等)的高精度噪聲測(cè)試。通過(guò)低頻噪聲測(cè)試,可以幫助芯片制造廠檢測(cè)和排除工藝制造缺陷,確保芯片質(zhì)量符合預(yù)期,提高芯片穩(wěn)定性。

  • 晶圓級(jí)噪聲測(cè)試精度和高測(cè)試帶寬,最低測(cè)試噪聲的電流精度低至10-27A2/Hz。

  • 典型噪聲測(cè)試速度提高至一個(gè)偏置條件僅需20s、最高測(cè)試電壓提高到200V。

  • 通過(guò)并行測(cè)試架構(gòu)解決方案以及協(xié)同F(xiàn)S-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)等方式大幅度提高測(cè)試效率和吞吐量。

  • 用于28/14/10/7/5/3nm等各工藝節(jié)點(diǎn)的先進(jìn)工藝研發(fā)和高端集成電路設(shè)計(jì)。

  • 內(nèi)置功能強(qiáng)大的NoiseProPlus軟件,支持1/f噪聲、RTN噪聲測(cè)試和數(shù)據(jù)分析。


產(chǎn)品亮點(diǎn):

行業(yè)黃金標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體行業(yè)低頻噪聲測(cè)試“黃金標(biāo)準(zhǔn)”系統(tǒng)

廣泛采用:已被眾多行業(yè)領(lǐng)先半導(dǎo)體公司所采用的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)

并行測(cè)試:經(jīng)頭部客戶(hù)驗(yàn)證的高精度、高測(cè)試吞吐率并行測(cè)試能力

寬量程:晶圓級(jí)高精度和測(cè)試帶寬寬電壓、寬電流、寬阻抗測(cè)量范圍

系統(tǒng)架構(gòu):系統(tǒng)體系架構(gòu)經(jīng)行業(yè)認(rèn)可并不斷完善兼具高精度和可靠性

覆蓋廣泛:同時(shí)覆蓋從10Ω到10MΩ的高阻抗器件和低阻抗器件測(cè)試能力

技術(shù)參數(shù):

寬量程: 最大器件端電壓和電流 : 200V, 200mA

高精度: 最高 DC 電流精度 : 10pA、 系統(tǒng)噪聲電流精度 : <10-27A2 /Hz

測(cè)試速度:典型 1/f 噪聲測(cè)試速度可達(dá) 10 秒 /bias

抗阻范圍:阻抗匹配范圍 : 10?-10 M? Gate/Base

電阻多達(dá) 16 個(gè)選擇

Drain/Collector 電阻多達(dá) 15 個(gè)選擇

系統(tǒng)參數(shù): 電壓放大器:0.03-10MHz, 0.65nV/Hz(@5kHz)

電流放大器:0.03-1MHz, 0.7pA/ Hz(@5kHz)

寬帶電流放大器:0.03-10MHz, 5pA/ √Hz (@5KHz)

高精度電流放大器:0.03-20KHz, 60fA/ √Hz (@5KHz)

可編程偏置濾波器 、ESD 保護(hù)

內(nèi)置 16 位 DSA

支持多臺(tái)并行測(cè)試

產(chǎn)品應(yīng)用:

先進(jìn)工藝質(zhì)量/工藝評(píng)估和品質(zhì)監(jiān)控

低頻噪聲特性測(cè)試和噪聲數(shù)據(jù)分析

半導(dǎo)體器件SPICE模型庫(kù)開(kāi)發(fā)

高端集成電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證

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2023-07-07 11:24:21 279 0
E4980AL 是德LCR表-安泰測(cè)試Agitek

Keysight E4980ALCR表可提供的度和速度,并且具有多種功能,可應(yīng)用于各種元件測(cè)量。無(wú)論是低阻抗范圍還是高阻抗范圍,E4980A均能提供極快的測(cè)量速度和測(cè)量性能,是元件和材料的常規(guī)研發(fā)測(cè)試及制造過(guò)程測(cè)試的理想工具。LAN、USB和GPIB PC連通性能夠提高設(shè)計(jì)和測(cè)試的生產(chǎn)率。

Keysight E4980A LCR表主要特性與技術(shù)指標(biāo)

頻率●在20Hz至2MHz范圍內(nèi)提供4位分辨率顯示

基本精度●對(duì)高低阻抗的重復(fù)性測(cè)量基本精度為0.05%

直流偏置●內(nèi)置40V直流偏置

(選件001)●Rdc測(cè)量(選件001)

更多特性

●20Vrms測(cè)試信號(hào)(選件001)

●高速測(cè)量:5.6ms

●201點(diǎn)列表掃描

●多功能電腦連接(LAN、USB和GPIB)\

規(guī)格參數(shù)

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2023-06-13 15:28:22 270 0
SR850鎖相放大器代理商-西安安泰測(cè)試Agitek

概述

SR850 是一款基于創(chuàng)新 DSP(數(shù)字信號(hào)處理)架構(gòu)的數(shù)字鎖定放大器。相比,SR850 擁有許多顯著的性能優(yōu)勢(shì)——更高的動(dòng)態(tài)儲(chǔ)備、更低的漂移、更低的失真和顯著更高的相位分辨率。


信號(hào)通道

電壓輸入單端或差分
靈敏度2nV 至 1V
電流輸入10 6或 10 8 V/A
輸入阻抗
電壓輸入10 MΩ + 25 pF,交流或直流耦合
電流輸入1 kΩ 到虛擬接地
獲得準(zhǔn)確度±1 % (±0.2 % 典型值)
噪音1 kHz 時(shí)為6 nV/√Hz 1 kHz 時(shí)
為 0.13 pA/√Hz (10 6 V/A)
100 Hz 時(shí)為 0.013 pA/√Hz (10 8 V/A)
線(xiàn)路過(guò)濾器50/60 赫茲和 100/120 赫茲 (Q=5)
CMRR10 kHz 時(shí)為 100 dB。
在 10 kHz 以上降低 6 dB/oct
動(dòng)態(tài)儲(chǔ)備>100 dB(無(wú)前置濾波器)

參考頻道

頻率范圍0.001 Hz 至 102.4 kHz
參考輸入TTL 或正弦波(最小 400 mVpp)
輸入阻抗1 兆歐,25 pF
相位分辨率0.001°
絕對(duì)相位誤差<1°
相對(duì)相位誤差<0.001°
正交性90° ± 0.001°
相位噪聲
詮釋。參考1 kHz 時(shí) <0.0001° rms
分機(jī)。參考1 kHz、100 ms、12 dB/oct 時(shí)為 0.005° rms
相位漂移<0.01°/°C,低于 10 kHz,
<0.1°/°C,10 kHz 至 100 kHz
諧波檢測(cè)2F、3F、... nF 至 102.4 kHz
采集時(shí)間(2 個(gè)周期 + 5 毫秒)或 40 毫秒,以較大者為準(zhǔn)

解調(diào)器

穩(wěn)定
數(shù)字輸出無(wú)漂移
模擬輸出對(duì)于所有動(dòng)態(tài)儲(chǔ)量,<5 ppm/°C
諧波抑制-90 分貝
偏移/擴(kuò)展±100 % 偏移,擴(kuò)展至 256×
時(shí)間常數(shù)10 μs 至 30 ks(6、12、18、24 dB/oct 滾降)。
低于 200 Hz 的同步濾波可用。

內(nèi)部振蕩器

范圍1 mHz 至 102.4 kHz
準(zhǔn)確性25 ppm + 30 μHz
解析度0.01 % 或 0.1 mHz
(以較大者為準(zhǔn))
失真-80 dBc (f < 10 kHz)
-70 dBc (f > 10 kHz) 在 1 Vrms
振幅0.004 至 5 Vrms 至 10 kΩ
(2 mV 分辨率)
輸出阻抗50Ω
幅度精度1%
幅度穩(wěn)定性50 ppm/°C
輸出正弦波和 TTL(都可以鎖相到外部參考)
掃地線(xiàn)性和對(duì)數(shù)

保修一年零件和人工材料和工藝缺陷

輸入和輸出

接口IEEE-488.2、RS-232 和 Centronics 接口標(biāo)準(zhǔn)。所有儀器功能都可以通過(guò)接口進(jìn)行控制和讀取。
X、Y 輸出±10 V,以 256 ksamples/s 更新
CH1輸出X、R 或跡線(xiàn) 1 至 4 的 ±10 V 輸出
CH2輸出Y、Θ 或跡線(xiàn) 1 至 4 的 ±10 V 輸出
輔助。A/D 輸入4 個(gè) BNC 輸入,1 mV 分辨率,±10 V
輔助。數(shù)模輸出4 個(gè) BNC 輸出,1 mV 分辨率,±10 V(固定或掃描幅度)
正弦輸出內(nèi)部振蕩器模擬輸出
TTL 輸出內(nèi)部振蕩器 TTL 輸出
觸發(fā)輸入TTL 信號(hào)啟動(dòng)內(nèi)部振蕩器掃描或觸發(fā)儀器數(shù)據(jù)采集(速率為 512 Hz)。
遠(yuǎn)程前置放大器為可選的 SR550、SR552 和 SR554 前置放大器供電

顯示器

屏幕格式單顯示器或雙顯示器
顯示數(shù)量每個(gè)顯示屏顯示一條跡線(xiàn)。軌跡定義為 A×B/C 或 A×B/C 2,其中 A、B、C 選自 X、Y、R、Θ、X 噪聲、Y 噪聲、R 噪聲、輔助 1 到 4 或頻率。
顯示類(lèi)型大型數(shù)字讀數(shù)、條形圖、極坐標(biāo)圖或條形圖
數(shù)據(jù)緩沖區(qū)64k 數(shù)據(jù)點(diǎn)。緩沖器可以配置為具有 64k 點(diǎn)的單條跡線(xiàn)、每條 32k 點(diǎn)的 2 條跡線(xiàn)或每條 16k 點(diǎn)的 4 條跡線(xiàn)。
采樣率0.0625 Hz 至 512 Hz,外部至 512 Hz

分析功能

平滑5、9、17、21、25 點(diǎn)。(薩維茨基-戈萊)
曲線(xiàn)擬合線(xiàn)性、指數(shù)或高斯
計(jì)算器算術(shù)、三角函數(shù)和對(duì)數(shù)計(jì)算
統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)平均值和標(biāo)準(zhǔn)差

規(guī)格

硬拷貝屏幕轉(zhuǎn)儲(chǔ)到點(diǎn)陣或 LaserJet 打印機(jī)。繪圖到 HP-GL 繪圖儀(RS-232 或 GPIB)。
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)USB驅(qū)動(dòng)器。存儲(chǔ)數(shù)據(jù)和儀器設(shè)置(二進(jìn)制或 ASCII)。屏幕可以保存為 PCX 文件。
功率60 瓦,100/120/220/240 伏交流電,50/60 赫茲
尺寸17" × 6.25" × 19.5" (WHL)
重量40 磅。
保修

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2022-11-28 20:26:25 202 0
SR570低噪聲電流前置放大器-西安安泰測(cè)試Agitek

概述

SR570 是一款低噪聲電流前置放大器,電流增益高達(dá) 1 pA/V。高增益和帶寬、低噪聲以及許多方便的特性使 SR570 成為各種光子、低溫和其他測(cè)量的理想選擇。

SR570 規(guī)格



輸入



輸入虛擬零值或用戶(hù)設(shè)置的偏置 (±5 V)

輸入偏移±1 pA 至 ±1 mA 可調(diào)直流偏移電流

最大輸入±5毫安

噪音見(jiàn)下表

靈敏度1 pA/V 至 1 mA/V 以 1-2-5 順序(游標(biāo)調(diào)整以 0.5 % 步進(jìn))

頻率響應(yīng)±0.5 dB 至 1 MHz。源電容的可調(diào)前面板頻率響應(yīng)補(bǔ)償。

接地放大器接地完全浮動(dòng)。后面板提供放大器和機(jī)箱接地。輸入接地可以浮動(dòng)高達(dá) ±40 V。

過(guò)濾器



信號(hào)濾波器2 個(gè)可配置(低通或高通)6 dB/oct 滾降濾波器。-3 dB 點(diǎn)可在0.03 Hz 至 1 MHz的1-3-10序列中設(shè)置。

收益分配


低噪聲增益分配給前端以獲得最佳噪聲性能。

高帶寬降低前端增益以獲得最佳頻率響應(yīng)。

低漂移低偏置電流放大器用于在高靈敏度下降低漂移。

過(guò)濾器重置可以使用前面板按鈕重置長(zhǎng)時(shí)間常數(shù)過(guò)濾器。

輸出



獲得準(zhǔn)確度±0.5 % 輸出 + 10 mV
(25 °C)


直流漂移見(jiàn)下表

最大輸出±5 V 進(jìn)入高阻抗負(fù)載

規(guī)格



外部消隱TTL 輸入將增益設(shè)置為零

外部切換TTL 輸入反轉(zhuǎn)增益極性

后面板偏置±12 VDC @ 200 mA,參考放大器接地

電腦接口RS-232,9600 波特,僅接收

功率100/120/220/240 VAC,充電 6 瓦,充電時(shí) 30 瓦。內(nèi)部電池可在兩次充電之間提供 15 小時(shí)的運(yùn)行時(shí)間。電池在連接到線(xiàn)路時(shí)充電。

尺寸8.3" × 3.5" × 13.0" (WHL)

重量15 磅。(已安裝電池)

保修單材料和工藝缺陷零件和人工保修一年





靈敏度
(A/V)
帶寬
(-3 dB)*
噪聲/vHz**溫度。系數(shù)±(%輸入+偏移)/°C直流輸入
阻抗

高體重低噪聲高體重低噪聲低漂移(11 至 28 °C)所有模式
10 -31.0兆赫1.0兆赫150 帕150 帕0.01 % + 20 nA
10 -41.0兆赫500kHz100 帕60 帕0.01 % + 2 nA
10 -5800 kHz200kHz60 帕2 帕0.01 % + 200 帕100Ω
10 -6200kHz20kHz2 帕600 fA0.01 % + 20 pA100Ω
10 -720kHz2kHz600 fA100 毫安0.01 % + 2 pA10 kΩ
10 -82kHz200赫茲100 毫安60 毫安0.01 % + 400 fA10 kΩ
10 -9200赫茲15赫茲60 毫安10 毫安0.025 % + 40 fA1兆歐
10 -10100赫茲10赫茲10 毫安5 法安0.025 % + 20 fA1兆歐
10 -1120赫茲10赫茲10 毫安5 法安0.040 % + 20 fA1兆歐
10 -1210赫茲10赫茲5 法安5 法安0.040 % + 20 fA1兆歐


* 為平坦的頻率響應(yīng)調(diào)整頻率補(bǔ)償
** 低于 3 dB 點(diǎn)但高于 1/f 噪聲顯著的頻率范圍內(nèi)的平均噪聲


2022-11-28 20:46:01 274 0
半導(dǎo)體測(cè)試制程介紹

 《半導(dǎo)體測(cè)試制程介紹》

   測(cè)試制程乃是于IC構(gòu)裝后測(cè)試構(gòu)裝完成的產(chǎn)品之電性功能以保證出廠IC 功能上的完整性,并對(duì)已測(cè)試的產(chǎn)品依其電性功能作分類(lèi)(即分Bin),作為 IC不同等級(jí)產(chǎn)品的評(píng)價(jià)依據(jù);Z后并對(duì)產(chǎn)品作外觀檢驗(yàn)(Inspect)作業(yè)。

   電性功能測(cè)試乃針對(duì)產(chǎn)品之各種電性參數(shù)進(jìn)行測(cè)試以確定產(chǎn)品能正常運(yùn)作,用于測(cè)試之機(jī)臺(tái)將根據(jù)產(chǎn)品不同之測(cè)試項(xiàng)目而加載不同之測(cè)試程序;而 外觀檢驗(yàn)之項(xiàng)目繁多,且視不同之構(gòu)裝型態(tài)而有所不同,包含了引腳之各項(xiàng)性質(zhì)、印字(mark)之清晰度及膠體(mold)是否損傷等項(xiàng)目。而隨表面黏著技術(shù)的發(fā)展,為確保構(gòu)裝成品與基版間的準(zhǔn)確定位及完整密合,構(gòu)裝成品接腳之諸項(xiàng)性質(zhì)之檢驗(yàn)由是重要。以下將對(duì)測(cè)試流程做一介紹

上圖為半導(dǎo)體產(chǎn)品測(cè)試之流程圖,其流程包括下面幾道作業(yè):

 

 1.上線(xiàn)備料  

 

  上線(xiàn)備料的用意是將預(yù)備要上線(xiàn)測(cè)試的待測(cè)品,從上游廠商送來(lái)的 包箱內(nèi)拆封,并一顆顆的放在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)容器(幾十顆放一盤(pán),每一盤(pán)可以放的數(shù)量及其容器規(guī)格,依待測(cè)品的外形而有不同)內(nèi),以利在上測(cè) 試機(jī)臺(tái)(Tester)時(shí),待測(cè)品在分類(lèi)機(jī)(Handler)內(nèi)可以將待測(cè)品定位,而使其內(nèi)的自動(dòng)化機(jī)械機(jī)構(gòu)可以自動(dòng)的上下料。

 2.測(cè)試機(jī)臺(tái)測(cè)試(FT1、FT2、FT3)  

  待測(cè)品在入庫(kù)后,經(jīng)過(guò)入庫(kù)檢驗(yàn)及上線(xiàn)備料后,再來(lái)就是上測(cè)試機(jī) 臺(tái)去測(cè)試;如前述,測(cè)試機(jī)臺(tái)依測(cè)試產(chǎn)品的電性功能種類(lèi)可以分為邏輯 IC測(cè)試機(jī)、內(nèi)存IC測(cè)試機(jī)及混合式IC(即同時(shí)包含邏輯線(xiàn)路及模擬線(xiàn) 路)測(cè)試機(jī)三種,測(cè)試機(jī)的主要功能在于發(fā)出待測(cè)品所需的電性訊號(hào)并接受待測(cè)品因此訊號(hào)后所響應(yīng)的電性訊號(hào)并作出產(chǎn)品電性測(cè)試結(jié)果的判 斷,當(dāng)然這些在測(cè)試機(jī)臺(tái)內(nèi)的控制細(xì)節(jié),均是由針對(duì)此一待測(cè)品所寫(xiě)之測(cè)試程序(Test Program)來(lái)控制。

   即使是同一類(lèi)的測(cè)試機(jī),因每種待測(cè) 品其產(chǎn)品的電性特性及測(cè)試機(jī)臺(tái)測(cè)試能力限制而有所不同。一般來(lái)說(shuō),待測(cè)品在一 家測(cè)試廠中,會(huì)有許多適合此種產(chǎn)品電性特性的測(cè)試機(jī)臺(tái)可供其選擇;除了測(cè)試機(jī) 臺(tái)外,待測(cè)品要完成電性測(cè)試還需要一些測(cè)試配件:

 1)分類(lèi)機(jī)(Handler)

  承載待測(cè)品進(jìn)行測(cè)試的自動(dòng)化機(jī)械結(jié)構(gòu),其內(nèi)有機(jī)械機(jī)構(gòu)將 待測(cè)品一顆顆從標(biāo)準(zhǔn)容器內(nèi)自動(dòng)的送到測(cè)試機(jī)臺(tái)的測(cè)試頭(Test Head)上接受測(cè)試,測(cè)試的結(jié)果會(huì)從測(cè)試機(jī)臺(tái)內(nèi)傳到分類(lèi)機(jī)內(nèi), 分類(lèi)機(jī)會(huì)依其每顆待測(cè)品的電性測(cè)試結(jié)果來(lái)作分類(lèi)(此即產(chǎn)品分 Bin)的過(guò)程;此外分類(lèi)機(jī)內(nèi)有升溫裝置,以提供待測(cè)品在測(cè)試 時(shí)所需測(cè)試溫度的測(cè)試環(huán)境,而分類(lèi)機(jī)的降溫則一般是靠氮?dú)?,以達(dá)到快速降溫的目的。不同的Handler、測(cè)試機(jī)臺(tái)及待測(cè)品的搭配下,其測(cè)試效果 會(huì)有所同,因此對(duì)測(cè)試產(chǎn)品而言,對(duì)可適用的Handler與Tester就會(huì)有喜好的選擇現(xiàn)象存在。測(cè)試機(jī)臺(tái)一般會(huì)有很多個(gè)測(cè)試頭(Test Head),個(gè)數(shù)視測(cè)試機(jī)臺(tái)的機(jī)型規(guī)格而定,而每個(gè)測(cè)試頭同時(shí)可以上一部分類(lèi)機(jī)或針測(cè)機(jī), 因此一部測(cè)試機(jī)臺(tái)可以同時(shí)的與多臺(tái)的分類(lèi)機(jī)及針測(cè)機(jī)相連,而依連接的方式又可分為平行 處理,及乒乓處理,前者指的是在同一測(cè)試機(jī)臺(tái)上多臺(tái)分類(lèi)機(jī)以相同的測(cè)試程試測(cè)試同一批 待測(cè)品,而后者是在同一測(cè)試機(jī)臺(tái)上多臺(tái)分類(lèi)機(jī)以不同的測(cè)試程序同時(shí)進(jìn)行不同批待測(cè)品的 測(cè)試。

 

 2)測(cè)試程序(Test Program)

  每批待測(cè)產(chǎn)品都有在每個(gè)不同的測(cè)試階段(FT1、FT2、FT3) ,如果要上測(cè)試機(jī)臺(tái)測(cè)試,都需要不同的測(cè)試程序,不同品牌的測(cè)試機(jī)臺(tái),其測(cè)試程序的語(yǔ)法并不相同,因此即使此測(cè)試機(jī)臺(tái)有 能力測(cè)試某待測(cè)品,但卻缺少測(cè)試程序,還是沒(méi)有用;一般而言,因?yàn)闇y(cè)試程序的內(nèi)容與待測(cè)品的電性特性+息息相關(guān),所以大多 是客戶(hù)提供的。

 

 3)測(cè)試機(jī)臺(tái)接口

  這是一個(gè)要將待測(cè)品 接腳上的訊號(hào)連接上測(cè)試 機(jī)臺(tái)的測(cè)試頭上的訊號(hào)傳送接點(diǎn)的一個(gè)轉(zhuǎn)換接口, 此轉(zhuǎn)換接口,依待測(cè)品的 電性特性及外形接腳數(shù)的不同而有很多種類(lèi),如:Hi-Fix(內(nèi)存類(lèi)產(chǎn)品)、Fixture Board(邏輯類(lèi)產(chǎn)品)、Load Board(邏輯類(lèi)產(chǎn) 品)、Adopt Board + DUT Board(邏輯類(lèi)產(chǎn)品)、Socket(接腳器 ,依待測(cè)品其接腳的分布位置及腳數(shù)而有所不同)。

 

   每批待測(cè)品在測(cè)試機(jī)臺(tái)的測(cè)試次數(shù)并不相同,這完全要看客戶(hù)的要求,一般而言邏輯性的產(chǎn)品,只需上測(cè)試機(jī)臺(tái)一次(即FT2)而不用FT1 、FT3,如果為內(nèi)存IC則會(huì)經(jīng)過(guò)二至三次的測(cè)試,而每次的測(cè)試環(huán)境溫度要求會(huì)有些不同,測(cè)試環(huán)境的溫度選擇,有三種選擇,即高溫、常溫 及低溫,溫度的度數(shù)有時(shí)客戶(hù)也會(huì)要求,升溫比降溫耗時(shí)許多,而即于那一道要用什么溫度,這也視不同客戶(hù)的不同待測(cè)品而有所不同。

   每次測(cè)試完,都會(huì)有測(cè)試結(jié)果報(bào)告,若測(cè)試結(jié)果不佳,則可能會(huì)產(chǎn)生Hold住本批待測(cè)品的現(xiàn)象產(chǎn)生。

 

3.預(yù)燒爐(Burn-In Oven)(測(cè)試內(nèi)存IC才有此程序)  

  在測(cè)試內(nèi)存性產(chǎn)品時(shí),在FT1之后,待測(cè)品都會(huì)上預(yù)燒爐里去 Burn In,其目的在于提供待測(cè)品一個(gè)高溫、高電壓、高電流的環(huán)境,使生命周期較短的待測(cè)品在Burn In的過(guò)程中提早的顯現(xiàn)出來(lái),在Burn In后 必需在96個(gè)小時(shí)內(nèi)待測(cè)品Burn In物理特性未消退之前完成后續(xù)測(cè)試機(jī)臺(tái) 測(cè)試的流程,否則就要將待測(cè)品種回預(yù)燒爐去重新Burn In。在此會(huì)用到 的配件包括Burn-In Board及Burn In Socket..等。

4.電性抽測(cè)  

  在每一道機(jī)臺(tái)測(cè)試后,都會(huì)有一個(gè)電性抽測(cè)的動(dòng)作(俗稱(chēng)QC或Q貨) ,此作業(yè)的目的在將此完成測(cè)試機(jī)臺(tái)測(cè)試的待測(cè)品抽出一定數(shù)量,重回測(cè)試機(jī)臺(tái)在測(cè)試程序、測(cè)試機(jī)臺(tái)、測(cè)試溫度都不變下,看其測(cè)試結(jié)果是 否與之前上測(cè)試機(jī)臺(tái)的測(cè)試結(jié)果相一致,若不一致,則有可能是測(cè)試機(jī)臺(tái)故障、測(cè)試程序有問(wèn)題、測(cè)試配件損壞、測(cè)試過(guò)程有瑕疵..等原因, 原因小者,則需回測(cè)試機(jī)臺(tái)重測(cè),原因大者,將能將此批待測(cè)品Hold住,等待工程師、生管人員與客戶(hù)協(xié)調(diào)后再作決策。

 

5.卷標(biāo)掃描(Mark Scan)  

  利用機(jī)械視覺(jué)設(shè)備對(duì)待測(cè)品的產(chǎn)品上的產(chǎn)品Mark作檢測(cè),內(nèi)容包括 Mark的位置歪斜度及內(nèi)容的清晰度..等。

 

6.人工檢腳或機(jī)器檢腳  

  檢驗(yàn)待測(cè)品IC的接腳的對(duì)稱(chēng)性、平整性及共面度等,這部份作業(yè)有 時(shí)會(huì)利用雷射掃描的方式來(lái)進(jìn)行,也會(huì)有些利用人力來(lái)作檢驗(yàn)。

 

 

7.檢腳抽檢與彎腳修整  

  對(duì)于彎腳品,會(huì)進(jìn)行彎腳品的修復(fù)作業(yè),然后再利用人工進(jìn)行檢腳 的抽驗(yàn)。

 

8.加溫烘烤(Baking)  

  在所有測(cè)試及檢驗(yàn)流程之后,產(chǎn)品必需進(jìn)烘烤爐中進(jìn)行烘烤,將待測(cè)品上水氣烘干,使產(chǎn)品在送至客戶(hù)手中之前不會(huì)因水氣的腐蝕而影響待測(cè)品的質(zhì)量。

 

9.包裝(Packing)

  將待測(cè)品依其客戶(hù)的指示,將原來(lái)在標(biāo)準(zhǔn)容器內(nèi)的待測(cè)品的分類(lèi)包 裝成客戶(hù)所指定的包裝容器內(nèi),并作必要的包裝容器上之商標(biāo)粘貼等。

 

10.出貨的運(yùn)送作業(yè)

  由于Z終測(cè)試是半導(dǎo)體IC制程的Z后一站,所以許多客戶(hù)就把測(cè)試 廠當(dāng)作他們的成品倉(cāng)庫(kù),以避免自身工廠的成品存放的管理,另一方面也減少不必要的成品搬運(yùn)成本,因此針對(duì)客戶(hù)的要求,測(cè)試廠也提供所 謂的「Door to Door」的服務(wù),即幫助客戶(hù)將測(cè)試完成品送至客戶(hù)指定的地方(包括客戶(hù)的產(chǎn)品買(mǎi)家),有些客戶(hù)指的地點(diǎn)在海外者,便需要考慮船期的安排,如果在國(guó)內(nèi)者,則要考慮貨運(yùn)的安排事宜。  

   半導(dǎo)體組件制造過(guò)程可概分為晶圓處理制程(Wafer Fabrication;簡(jiǎn)稱(chēng) Wafer Fab)、晶圓針測(cè)制程(Wafer Probe)、封裝(Packaging)、測(cè)試制程(Initial Test and Final Test)等幾個(gè)步驟。一般稱(chēng)晶圓處理制程與晶圓針測(cè)制程為前段(Front End)制程,而構(gòu)裝、測(cè)試制程為后段(Back End)制程


2020-05-11 14:47:40 880 0
是德頻譜分析儀E4443A租賃 -西安安泰測(cè)試Agitek

Agilent E4443A PSA 高性能頻譜分析儀可測(cè)量和監(jiān)測(cè)頻率高達(dá) 6.7 GHz 的復(fù)雜射頻信號(hào)。

產(chǎn)品參數(shù):

頻率:3 Hz 至 6.7 GHz

最大分析帶寬:80 MHz

帶寬選項(xiàng):10 個(gè)標(biāo)準(zhǔn)、40、80 MHz

DANL @1 GHz:-169 dBm

相位噪聲@1 GHz(10 kHz 偏移):-118 dBc/Hz

相位噪聲@1 GHz(1 MHz 偏移):-147 dBc/Hz

整體幅度精度:± 0.19 dB

TOI @1 GHz(三階截距):+19 dBm

最大動(dòng)態(tài)范圍三階@1 GHz:116 dB

標(biāo)準(zhǔn)衰減器范圍:70 dB

標(biāo)準(zhǔn)衰減器步長(zhǎng):2 dB

Agilent E4443A 提供高達(dá) 6.7 GHz 的高性能頻譜分析,具有強(qiáng)大的一鍵式測(cè)量、通用功能集以及靈活性、速度、精度和動(dòng)態(tài)范圍的領(lǐng)先組合。

E4443A頻譜分析儀租賃選西安安泰測(cè)試Agitek,現(xiàn)貨,價(jià)格優(yōu)惠,型號(hào)齊全,

儀器租賃的好處:

1.節(jié)約成本:減少開(kāi)支,提高資金的利用率;

2.無(wú)需保養(yǎng):根據(jù)合同約定,租賃方負(fù)責(zé)維修維護(hù),不需承擔(dān)維修保養(yǎng)費(fèi)用,避免儀器重大問(wèn)題帶來(lái)的維修費(fèi)用;

3.隨租隨用:應(yīng)對(duì)緊急的生產(chǎn)及客戶(hù)審核需要,應(yīng)對(duì)緊急的訂單,免去進(jìn)口儀器交貨周期長(zhǎng)的問(wèn)題;

4.方便靈活:可以根據(jù)自身經(jīng)營(yíng)情況,選擇短租、長(zhǎng)租、變租為購(gòu);

5.省時(shí)省事:免除儀器選購(gòu)的煩惱,貨物周期長(zhǎng)以及可能選錯(cuò)儀器的風(fēng)險(xiǎn)。

以上內(nèi)容由西安安泰測(cè)試分享,如在選型/使用過(guò)程中有任何問(wèn)題咨詢(xún)安泰測(cè)試,安泰測(cè)試國(guó)內(nèi)測(cè)量?jī)x器綜合服務(wù)商。www.agitek.cn


2023-06-06 15:16:31 268 0
安泰ATA-1372A寬帶放大器技術(shù)參數(shù)-西安安泰測(cè)試Agi

ATA-1372A寬帶放大器簡(jiǎn)介


ATA-1372A是一款可放大交直流信號(hào)的單通道寬帶放大器。其最大輸出電壓70Vp-p(±35Vp),最大輸出電流2Ap(>50Hz)。電壓增益數(shù)控可調(diào),一鍵保存設(shè)置,提供了方便簡(jiǎn)潔的操作選擇,可與主流的信號(hào)發(fā)生器配套使用,實(shí)現(xiàn)信號(hào)的放大。

輸入Input

輸入為BNC接口,輸入電阻50Ω、10kΩ兩檔可選,匹配高低內(nèi)阻信號(hào)源。

輸出Output

輸出為BNC接口,最大輸出電壓70Vp-p(±35Vp),輸出電流2Ap。

液晶面板顯示

ATA-1372A采用液晶面板顯示,設(shè)備狀態(tài)及參數(shù)動(dòng)態(tài)顯示,操作界面一目了然,簡(jiǎn)潔易懂。

電壓增益

電壓增益數(shù)控0~40倍可調(diào),具體分為粗調(diào)(1step)和細(xì)調(diào)(0.1step)兩種。結(jié)合液晶面板增益的顯示,能夠快速調(diào)整至需要的電壓值。

ATA-1372A寬帶放大器監(jiān)測(cè)口M.out

輸出電壓監(jiān)測(cè)端口(100mV/V):監(jiān)測(cè)口為BNC接口,可以直接連接到示波器進(jìn)行輸出電壓的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

輸出電流監(jiān)測(cè)端口(1V/A):監(jiān)測(cè)口為BNC接口,可以直接連接到示波器進(jìn)行輸出電流的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

ATA-1372A寬帶放大器主要指標(biāo):

以上內(nèi)容由西安安泰測(cè)試分享,如在選型/使用過(guò)程中有任何問(wèn)題咨詢(xún)安泰測(cè)試,安泰測(cè)試國(guó)內(nèi)測(cè)量?jī)x器綜合服務(wù)商。https://www.agitek.cn/cp/323.html

2023-07-07 11:21:46 246 0
安泰ATA-2021B高壓放大器產(chǎn)品資料-安泰測(cè)試Agite

ATA-2021B高壓放大器簡(jiǎn)介


ATA-2021B是一款可放大交直流信號(hào)的單通道高壓放大器。最大輸出200Vp-p電壓,輸出電壓范圍可根據(jù)輸出軌調(diào)節(jié);直流偏置電壓三檔可調(diào),連續(xù)變化最大可輸出±160V,可以實(shí)現(xiàn)輸出非對(duì)稱(chēng)信號(hào)需求,驅(qū)動(dòng)高壓型負(fù)載。輸入輸出電阻兩檔切換,電壓增益數(shù)控可調(diào),設(shè)置參數(shù)自動(dòng)保存,具有程控功能,操作簡(jiǎn)潔方便,可與信號(hào)發(fā)生器配套使用,實(shí)現(xiàn)信號(hào)的放大。寬范圍供電電源,可兼容不同地區(qū)的電源標(biāo)準(zhǔn)要求。

電壓增益

0~60倍數(shù)控可調(diào),具體分為粗調(diào)(1step)和細(xì)調(diào)(0.1step)兩種。結(jié)合液晶面板增益的顯示,能夠快速、準(zhǔn)確調(diào)整至需要的電壓值。

液晶顯示

ATA-2021B采用液晶顯示屏,設(shè)備狀態(tài)及參數(shù)動(dòng)態(tài)顯示,不同色彩的提示使人機(jī)交互更高效,操作界面一目了然,簡(jiǎn)潔易懂。

監(jiān)測(cè)口 Monitor

20mV/AMonitor:監(jiān)測(cè)口電壓為輸出端口電壓的1/50,監(jiān)測(cè)口為BNC接頭,可直連示波器進(jìn)行輸出電壓的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

2V/AMonitor:監(jiān)測(cè)口電壓為輸出端口電流的2倍,監(jiān)測(cè)口為BNC接頭,可直連示波器進(jìn)行輸出電流的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

輸出 Output

輸出為香蕉插座,最大輸出電壓200Vp-p,最大輸出電流500mAp。

輸出電壓軌三檔可調(diào)

技術(shù)參數(shù):

以上內(nèi)容由西安安泰測(cè)試分享,如在選型/使用過(guò)程中有任何問(wèn)題咨詢(xún)安泰測(cè)試,安泰測(cè)試國(guó)內(nèi)測(cè)量?jī)x器綜合服務(wù)商。https://www.agitek.cn/cp/2094.html


2023-07-07 11:28:07 222 0
電容、電阻參數(shù)單片機(jī)測(cè)試系統(tǒng)
設(shè)計(jì)要求: 用電阻、電容充、放電電路可計(jì)算電路時(shí)間常數(shù)。用A/D轉(zhuǎn)換器測(cè)量電壓值,能測(cè)得時(shí)間常數(shù)值,經(jīng)單片機(jī)計(jì)算,算出電阻或電容值,并在LCD或LED上顯示。 mcs51 是否自帶ad轉(zhuǎn)換器 adc0809 怎么使用 急 ??!
2011-04-25 17:44:20 493 3
誰(shuí)能介紹半導(dǎo)體二極管參數(shù)符號(hào) CT- Cj的意思?
 
2014-04-09 21:26:39 418 1
安泰ATG-2021H功率信號(hào)源產(chǎn)品資料-西安安泰測(cè)試Agi

簡(jiǎn)介

ATG-2021H是一款理想的可輸出正弦波、方波、三角波、脈沖波的單通道功率信號(hào)源??蛻?hù)可根據(jù)使用情況選擇信號(hào)內(nèi)置、或外置輸入。最大輸出200Vp-p (±100V)電壓,可以驅(qū)動(dòng)高壓型負(fù)載。電壓增益數(shù)控可調(diào),一鍵保存常用設(shè)置,為您提供了方便簡(jiǎn)潔的操作選擇。

輸入Input

外置信號(hào)輸入端為BNC接口。當(dāng)信號(hào)內(nèi)置輸入,此時(shí)為功率信號(hào)源模式,設(shè)置波形,頻率,電壓等參數(shù)即可;當(dāng)信號(hào)外置接入,此時(shí)為放大器模式,輸入電阻為5kΩ,輸出電阻可切換,調(diào)節(jié)電壓增益即可實(shí)現(xiàn)信號(hào)放大。

輸出 Output

輸出接口為香蕉插座,輸出電壓0~200Vp-p(±100V),最大輸出電流(峰值)500mA。

液晶面板顯示

操作面板液晶顯示,設(shè)備狀態(tài)及參數(shù)動(dòng)態(tài)顯示,交互界面一目了然,簡(jiǎn)潔易懂。

電壓增益

外置輸入信號(hào)時(shí)為放大器工作模式,此時(shí)電壓增益是數(shù)控0~60倍(1step)可調(diào)。結(jié)合液晶面板增益的顯示,能夠快速調(diào)整至需要的電壓值。

監(jiān)測(cè)口Monitor

1/100 Monitor:此端口電壓為輸出端口的1/100,監(jiān)測(cè)口為BNC接頭,可以直接連接到示波器進(jìn)行輸出電壓的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

ATG-2021H功率信號(hào)源產(chǎn)品規(guī)格參數(shù):

以上內(nèi)容由西安安泰測(cè)試分享,如在選型/使用過(guò)程中有任何問(wèn)題咨詢(xún)安泰測(cè)試,安泰測(cè)試國(guó)內(nèi)測(cè)量?jī)x器綜合服務(wù)商。https://www.agitek.cn/cp/417.html


2023-06-06 15:18:26 243 0
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)量?jī)x可以測(cè)試薄膜的表面電阻嗎
 
2016-05-01 17:21:32 354 1
賽默飛XRD EQ100產(chǎn)品介紹及參數(shù)

產(chǎn)品介紹

 

精巧高性能的賽默飛ARL EQUINOX 100擁有獨(dú)特的超大型實(shí)時(shí)探測(cè)器,可以對(duì)全譜進(jìn)行實(shí)時(shí)同步采集。得益于特定的實(shí)時(shí)檢測(cè)模式,測(cè)量在幾秒鐘內(nèi)即可完成。 該儀器在不影響速度或性能的前提下簡(jiǎn)化了操作流程。這使得其擁有更快的檢測(cè)速度,也特別適用于原位研究和與結(jié)晶/相變相關(guān)的實(shí)驗(yàn)。

 

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

 

? 可靠且耐用,無(wú)活動(dòng)部件

? 高強(qiáng)度微聚焦光源

? 實(shí)時(shí)同步數(shù)據(jù)采集

? 多種樣品臺(tái)與分析模式可選

 

技術(shù)規(guī)格

 

EQ100

高度:545 mm

寬度:680 mm

深度:585 mm

重量:75 kg(根據(jù)附件選擇具體情況而定)

最大功率:50W

氣體供給:P10混合氣

冷卻裝置:無(wú)需外接冷卻裝置

 

應(yīng)用領(lǐng)域

物相分析

精密測(cè)定點(diǎn)陣參數(shù)

宏觀應(yīng)力的測(cè)定

晶粒尺寸大小的測(cè)定

取向分析

結(jié)晶度的測(cè)定


2021-11-23 15:04:18 492 0
普源示波器DS6000產(chǎn)品介紹,普源dai理商Agitek分享?

普源示波器DS6000 是一款多功能、高性能的數(shù)字示波器。它實(shí)現(xiàn)了易用性、優(yōu)異的技術(shù)指標(biāo)及 眾多功能特性的wan美結(jié)合,可幫助用戶(hù)更快地完成工作任務(wù),例如參數(shù)的快速測(cè)量、 遠(yuǎn)程接口配置、方便地連接打印機(jī)等功能。

一、普源示波器DS6000主要特色:

1、 主要指標(biāo):1 GHz或600 MHz帶寬 2通道或4通道 ,Z高5 GSa/s實(shí)時(shí)采樣率,100 GSa/s等效采樣率,180,000 wfms/s(點(diǎn)顯示)的 波形捕獲率 , Z高140 Mpts存儲(chǔ)深度(標(biāo)配);

2、 duchuangUltra Vision技術(shù);

3、 10.1英寸WVGA(800*480)160,000色TFT LCD,超寬屏、色彩逼真,功耗低, 壽命長(zhǎng) ;

4、 自動(dòng)識(shí)別探頭類(lèi)型 ;

5、 模擬通道波形亮度可調(diào) ;

6、 波形顯示可以自動(dòng)設(shè)置(Auto) ;

7、 豐富的觸發(fā)功能,包含多種協(xié)議觸發(fā) ;

8、 標(biāo)配并行解碼,提供多種串行解碼選件 ;

9、 自動(dòng)測(cè)量29種波形參數(shù),帶統(tǒng)計(jì)的測(cè)量功能 ;

10、實(shí)時(shí)波形錄制、波形回放和波形分析功能 ;

11、精細(xì)的延遲掃描功能;

12、內(nèi)嵌FFT功能 ;

13、通過(guò)/失敗檢測(cè)功能 ;

14、多重波形數(shù)學(xué)運(yùn)算功能;

15、標(biāo)準(zhǔn)配置接口:USB DEVICE、雙USB HOST、LAN和GPIB(可選) ;

16、支持U盤(pán)存儲(chǔ)和PictBridge打印機(jī) ;

17、符合LXI-C類(lèi)儀器標(biāo)準(zhǔn),能夠快速、經(jīng)濟(jì)、GX地創(chuàng)建和重新配置測(cè)試系統(tǒng);

18、支持遠(yuǎn)程命令控制 ;

19、嵌入式幫助,方便信息獲取 ;

20、支持多國(guó)語(yǔ)言,中英文輸入 ;

21、提供一鍵測(cè)量,一鍵存儲(chǔ)/打印快捷鍵;

22、提供2小時(shí)以上的鋰電池(可選)供電,方便現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試和使用 ;

23、內(nèi)置1 GBytes的閃存;

二、普源示波器DS6000主要型號(hào)及指標(biāo):


數(shù)字示波器是任何設(shè)計(jì)、制造和維修電子設(shè)備的工程師的必備儀器。為了面對(duì)當(dāng)今的各種設(shè)計(jì)和調(diào)試的挑戰(zhàn),電子工程師們?cè)谌粘9ぷ髦行枰貌僮鞣奖?、測(cè)量jing準(zhǔn)的數(shù)字示波器觀測(cè)各種模擬、數(shù)字信號(hào),以便發(fā)現(xiàn)問(wèn)題和解決問(wèn)題。如何選用性能優(yōu)異、價(jià)格合理的儀器是每位主管和工程師都要面對(duì)的首要課題。

安泰測(cè)試作為普源一級(jí)dai理商,為客戶(hù)提供普源示波器、頻譜分析儀、信號(hào)發(fā)生器、電源等電測(cè)儀器的選型、銷(xiāo)售、維修和培訓(xùn)等一站式服務(wù)。如您在選型或者使用過(guò)程中有任何問(wèn)題,歡迎咨詢(xún)安泰測(cè)試,安泰測(cè)試提供免費(fèi)樣機(jī)演示服務(wù)。


2019-08-05 15:05:35 408 0
高溫直流測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)備參數(shù)

       高溫直流測(cè)試系統(tǒng)主要用于材料高溫條件的直流絕緣電阻的測(cè)量,與軟件配合可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫等測(cè)試,升溫速度可調(diào)。采用紅外加溫,可實(shí)現(xiàn)真空、氣氛環(huán)境測(cè)試。接下來(lái)了解一下設(shè)備參數(shù)。

1、溫度范圍:室溫~1000℃;

2、溫度穩(wěn)定精度:全溫區(qū)穩(wěn)定精度<士1℃;

3、升溫方式:與軟件配合實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫等;

4、采用紅外加溫方式,可以真空、氣氛環(huán)境測(cè)試;

5、多種控溫方式;升溫速度:可調(diào);

6、通信接口:RS232接口與電腦連接;

7、高溫測(cè)試夾具:與絕緣電阻儀配合使用;連接線(xiàn)、采用同軸屏蔽層;

8、樣品尺寸:直徑<100mm,厚度<100mm;

9、降溫方式:采用水循環(huán)制冷技術(shù),極速降溫;

10、測(cè)量導(dǎo)線(xiàn):鉑金;

11、測(cè)試接觸電極:鉑金;

12、測(cè)量方式:兩電極;

13、用于材料高溫條件的直流絕緣電阻的測(cè)量;

14、穩(wěn)壓源:功率7KW;

15、可輸出保存BMP、TXT、XLS等數(shù)據(jù)格式文件;

16、對(duì)測(cè)量的數(shù)據(jù)提供數(shù)據(jù)查詢(xún)與分析功能。


2020-09-18 13:48:36 307 0
金屬腐蝕測(cè)SY什么儀器測(cè)試 測(cè)試參數(shù)是什么
 
2012-08-25 22:58:54 390 1

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