衡量晶體產(chǎn)品的主要指標(biāo)，為什么要進行晶體產(chǎn)品的粒度和粒度分布控制？
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通過使分光晶體和 X 射線檢測器沿著羅蘭圓移動來檢測不同波長的 X 射線。本公司的 EPMA 采用半徑為 140mm 和 100mm 的羅蘭圓。 羅蘭圓的半徑為 140mm 的 XCE·L 形 X 射線譜儀具有分光范圍廣，波長分辨率和 P/B 比的特征，100mm 的 H 形 X 射線譜儀具有 X 射線強度高的特征，可以根據(jù)目的進行選擇。
下面介紹各分光器的 PET, LIF, TAP 分光晶體以及 LDE1 和 LDE2 等輕元素用分光元 件。
一． 分光器模式圖
二． 超輕元素用分光元件的檢出元素 list
LDE1 和 LDE2 由于分光范圍廣式通用性高易于使用的分光元件。LDE5H 與累積膜 (STE)相比，成功地將 N 的 x 射線靈敏度提高 30 倍。另外，LDE6H 對微量 C 和微量 B 有很好的效果。
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