掃描電鏡與原子力顯微鏡
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測定液體中細(xì)微顆粒的形態(tài)，以上兩種顯微鏡的優(yōu)劣如何？哪種可以測定，哪種效果更好？被測液體顆粒大小為納米級。
全部評論(1條)
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- sdlink123 2013-07-16 00:00:00
- 當(dāng)分辨率在納米和原子范圍時，掃描電鏡（SEM）和原子力電鏡（AFM）是我們今天可以獲得的Z有效的兩種顯微技術(shù)，各有優(yōu)劣。它們Z根本的區(qū)別在于它們操作的環(huán)境不同。SEM需要在真空環(huán)境中進(jìn)行，而AFM是在空氣中或液體環(huán)境中操作。因此如果是要測定液體中細(xì)微顆粒的形態(tài)，AFM更為適合一些。通常AFM掃描含水的試樣是把它和掃描探針放在液體中進(jìn)行的，因為AFM不是以導(dǎo)電性為基礎(chǔ)，所以圖像和掃描模件在液體中都不會受干擾。
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