簡介

       分析產(chǎn)品中混入的或附著的異物是判明混入途徑及故障原因的重要信息來源。X射線熒光分析儀(ED -XRF)對任何狀態(tài)的樣品不管是固體、液體或是粉末，都能提供快速、無損的元素分析，因而可以作為預篩選儀器使用。

ED-XRF

       根據(jù)ED-XRF元素分析的結果，能夠確認存在Sn和Cu。但不存在和FP法簡便定量分析結果一致的基底材料。為了具體分析該異物，下面利用SEM-EDS進行了EDS元素面分布。

SEM-EDS

       從SEM-EDS的背散射電子像中能夠確認存在兩種不同的顆粒。根據(jù)每種顆粒的EDS面分布圖，判明小顆粒是Cu，大顆粒是Sn。

       ED-XRF能簡便、快速地提供有關所含元素的信息，對判斷異物很有幫助。對類似這樣混合了兩種以上元素的合金，利用SEM-EDS元素面分布便是異物分析的有效分析方法。多利用X射線螢光分析能夠獲得有關異物的元素種類、附著狀態(tài)等信息，對判明異物附著的原因很有幫助。