皮安計(jì)是針對(duì)各種工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的實(shí)際需求設(shè)計(jì)生產(chǎn)的，它的應(yīng)用十分廣泛，如測(cè)量絕緣材料電阻(率)、光電二極管暗電流測(cè)量、生物電流的測(cè)量等，吉時(shí)利皮安計(jì)是眾多客戶的shouxuan，今天安泰測(cè)試就給大家分享一下吉時(shí)利皮安計(jì)在雪崩光電二極管反向電流測(cè)量的應(yīng)用。

雪崩光電二極管概述：

雪崩光電二極管 (APD) 是一種高靈敏度、高速度的光電二極管。 施加反向電壓時(shí)，能啟動(dòng)其內(nèi)部的增益機(jī)構(gòu)。APD 的增益可以由反向偏置電壓的幅度來控制。反向偏置電壓越大增益就越高。APD 在電場(chǎng)強(qiáng)度的作用下工作，光電流的雪崩倍增類似于鏈?zhǔn)椒磻?yīng)。APD 應(yīng)用于對(duì)光信號(hào)需要高靈敏度的各種應(yīng)用場(chǎng)合，例如光纖通訊、閃爍(scintillation) 探測(cè)等。

對(duì) APD 的測(cè)量一般包括擊穿電壓、響應(yīng)度和反向偏置電流等。 典型 APD 的最大額定電流為 10-4 到 10-2A, 而其暗電流則可低達(dá) 10-12 到 10-13A 的范圍。最大反向偏置電壓隨 APD 的材料而變化，銦砷化鎵(InGaAs) 材料的器件可達(dá) 100V，硅材料的器件則可高達(dá) 500V。

測(cè)試介紹：

測(cè)量 APD 的反向偏置電流需要一種能夠在很寬范圍內(nèi)測(cè)量電流并且能輸出掃描電壓的儀器。由于這種要求，吉時(shí)利皮安計(jì)6487型電壓源或者 6430 型亞飛安 (Sub-Femtoamp) 源 - 表等儀器對(duì)于這類測(cè)量工作是非常理想的。

圖 1. APD 與 吉時(shí)利皮安計(jì)6430 的連接

圖 2. 鋼碑化鎵 (InGaAs) 材料 APD 的電流與反向掃描電壓的關(guān)系曲線

吉時(shí)利皮安計(jì)產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

可測(cè)量元器件中的超低漏電流、光學(xué)器件中的暗電流以及顯微儀器中的射束電流。

可以進(jìn)行高精度電流測(cè)量，即使在源電壓非常低的電路中也可以測(cè)量。

簡(jiǎn)化了分析多通道設(shè)備、監(jiān)視材料上多個(gè)位置的電流以及一次性記錄來自多個(gè)傳感器的數(shù)據(jù)的過程。

確保您可以找到適合應(yīng)用要求的電壓偏置功能。 在 6487 型皮安表/電壓源中通過 500V 源進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試。

允許將測(cè)量結(jié)果傳輸?shù)綌?shù)字萬用表、數(shù)據(jù)采集卡、示波器或帶形圖紙記錄儀等設(shè)備，以進(jìn)行信號(hào)響應(yīng)和趨勢(shì)分析。

支持測(cè)量高電流，比如測(cè)量 4-20mA 傳感器回路。

支持高吞吐量生產(chǎn)測(cè)試需求。

簡(jiǎn)化了通過將六個(gè)獨(dú)立可選的觸發(fā)線路結(jié)合在一個(gè)單一的連接器上，對(duì)系統(tǒng)中的所有儀器進(jìn)行簡(jiǎn)單、直接的控制，從而實(shí)現(xiàn)與其他儀器和電壓源同步的過程。

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光電二極管是一種將光轉(zhuǎn)換成電流或電壓的二極管或光電探測(cè)器， 這取決于它是否在光伏 (zero-bi-as）或光電導(dǎo) ( 反向偏置 ) 模式。當(dāng)光電二極管是在反向偏置模式下，輸出電流與施加在光電二極管結(jié)的光強(qiáng)度成正比。因此，光電二極管可以探測(cè)到非常柔弱小量的光，具有寬泛的應(yīng)用范圍：包括攝影，光探測(cè)器，醫(yī)學(xué)成像儀器和光通信。 當(dāng)光電二極管反向偏置時(shí)，產(chǎn)生的電流為光電流(光獲得) 和暗電流(沒有光)的組合結(jié)果。光電流通常和施加電壓成一個(gè)恒定函數(shù)關(guān)系。然而，暗電流則是施加電壓引起的微小泄露電流。暗電流是由PN熱效應(yīng)激發(fā)的泄露，經(jīng)常作為溫度的函數(shù)來測(cè)量。光電流和暗電流的測(cè)量可以用吉時(shí)利源表進(jìn)行，其能在很大范圍內(nèi)掃描電壓和測(cè)量電流。

圖 1. SMU 源表測(cè)量光電二極管 I-V 特性

測(cè)量配置：

圖 1 顯示了吉時(shí)利源表2635B 型測(cè)量反向偏置光電二極管的光電流。 該儀器可以掃描電壓，測(cè)量電流，具有 < 1fA 的分辨率。它也可以測(cè)量 正向偏置 I-V 特性。在這種情況下，使 Kelvin 連接到 DUT，以防止不 必要的電壓下降從而影響測(cè)量精度。

圖 2：由 吉時(shí)利源表2635B 測(cè)得基于不同的光感度下 PIN 光電二極管的光電導(dǎo)電流反向偏置電壓曲線

吉時(shí)利源表2635B廣泛應(yīng)用于激光二極管 (VCSEL) 生產(chǎn)測(cè)試、LED 簡(jiǎn)化的 I/V 檢定、IDDQ 測(cè)試與待機(jī)電流等測(cè)試，是廣大院校、研究所及研發(fā)型企業(yè)的“新寵”，安泰測(cè)試作為泰克吉時(shí)利產(chǎn)品的長(zhǎng)期合作伙伴，專業(yè)提供設(shè)備選型和測(cè)試方案的提供及售后維修，如您想了解吉時(shí)利源表更多產(chǎn)品應(yīng)用，歡迎訪問安泰測(cè)試網(wǎng)。