氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)是當前高精度密封檢測的核心手段,YP-HLD1優(yōu)云譜氦質(zhì)譜測漏儀針對實驗室研發(fā)、工業(yè)檢測、科研機構(gòu)等場景優(yōu)化設計,具備寬量程、高靈敏度、抗干擾等核心優(yōu)勢。以下結(jié)合其參數(shù)與實際應用展開專業(yè)解析。
| 參數(shù)項 | 具體數(shù)值 | 行業(yè)適配備注 |
|---|---|---|
| 最小可檢漏率 | 1×10?12 Pa·m3/s | 符合ISO 12243標準 |
| 漏率測量精度 | ±10%(滿量程范圍內(nèi)) | 校準后穩(wěn)定,滿足實驗室級要求 |
| 最大檢漏壓力 | 1MPa | 支持正壓/負壓雙模式檢漏 |
| 工作溫度范圍 | 15℃~35℃ | 適配實驗室常規(guī)環(huán)境 |
| 電源要求 | AC 220V±10%,50Hz±1Hz | 無需特殊供電 |
| 外形尺寸 | 450mm×350mm×200mm | 桌面式設計,節(jié)省空間 |
| 重量 | ≤25kg | 便于移動部署(實驗室/現(xiàn)場) |
| 氦氣消耗量 | ≤0.5L/min(檢測時) | 低耗材,年運行成本降低40% |
總結(jié):YP-HLD1優(yōu)云譜氦質(zhì)譜測漏儀憑借寬量程、高靈敏度、低耗材等特點,適配多行業(yè)高精度檢漏需求,是實驗室、科研及工業(yè)檢測領域的實用工具。
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