
inTEST 熱流儀電源管理芯片高低溫沖擊測試
電源管理芯片由于多是在狹小空間內(nèi)工作, 散熱的條件不好, 大多是在高溫的環(huán)境中長時間工作, 電源芯片經(jīng)常經(jīng)歷快速升溫的情況, 甚至經(jīng)歷在電壓不穩(wěn)時快速變溫的情況, 所以電源芯片在出廠時需要經(jīng)過測試芯片在快速變溫過程中的穩(wěn)定性, 這點十分重要. 上海伯東美國 inTEST ThermoStream 高低溫沖擊測試機提供 -100°C 至 +225°C 快速溫度沖擊范圍, 滿足各類電源管理芯片的高低溫沖擊測試.
在電源管理芯片可靠性測試方面, 上海伯東美國 inTEST ThermoStream ATS 系列熱流儀有著不同于傳統(tǒng)高低溫箱的獨特優(yōu)勢:
變溫速率快, 每秒快速升溫 / 降溫18°C
通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證
實時監(jiān)測待測元件真實溫度, 可隨時調(diào)整沖擊氣流溫度
針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊), 單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
滿足研發(fā)和大規(guī)模量產(chǎn)要求
可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等各類測試儀聯(lián)用.
inTEST 型號 | ATS-545 | ATS-710E | ATS-535 |
溫度范圍 °C | -75 至 + 225 | -75至+225 | -60 至 +225 |
變溫速率 | -55 至 +125°C 約 10 S | -55 至 +125°C 約 10 s | -40至+ 125°C < 12 s |
空壓機 | 額外另配 | 額外另配 | 內(nèi)部集成空壓機 |
控制方式 | 旋鈕式 | 觸摸屏 | 旋鈕式 |
氣體流量 scfm | 4 至 18 | 4 至 18 | 5 |
溫度顯示和分辨率 | +/- 0.1°C | ||
溫度精度 | 1.0°C(根據(jù) NIST 標準校準時) | ||
電源管理芯片高低溫沖擊測試案例: 應(yīng)用于電子消費品行業(yè)的電源芯片, 下圖為實際的被測電源芯片, 焊在 PCB 板上. 需要在通電的情況下進行溫度測試.
測試溫度范圍﹣60℃ - 150℃, 進行 12組不同形式的循環(huán)溫度設(shè)定.
使用型號: inTEST ATS-545

電源管理芯片高低溫沖擊測試案例: 應(yīng)用于汽車電子行業(yè)的電源管理芯片, 在電測試時, 同時搭配測試儀, 設(shè)定不同的溫度數(shù)值, 檢查不同溫度下電源芯片各項功能是否正常. 通過使用上海伯東美國 inTEST 熱流儀, 大幅提高工作效率, 并能及時評估研發(fā)過程中的潛在問題.
測試溫度范圍: -40℃ - 80 ℃
使用型號: inTEST ATS-710E 
電源管理芯片高低溫沖擊測試案例: 應(yīng)用于電力系統(tǒng)的電源管理芯片, 因客戶研發(fā)場地受限, 無法使用空壓機, 選用 ATS-535 內(nèi)部集成空壓機的高低溫沖擊機進行測試.
測試溫度范圍: -60℃ - 150 ℃
使用型號: inTEST ATS-535
電源管理芯片 Power Management Integrated Circuits 是在電子設(shè)備系統(tǒng)中擔(dān)負起對電能的變換, 分配, 檢測及其他電能管理職責(zé)的芯片. 在電源的設(shè)計中, 需要用到各種形式的管理芯片, 在電測試下, 隨著電源溫度的變化, 需要保證芯片的正常運轉(zhuǎn), 一般芯片的溫度越高, 可靠度越低, 失效率就會變高. 因此在芯片的設(shè)計之初就要考慮溫度問題.
70年代成立至今, 美國 inTEST Thermal Solutions 超過 50 年的研發(fā)生產(chǎn)經(jīng)驗, 經(jīng)過多年市場實踐的高可靠性和穩(wěn)定性, 滿足各類電子芯片的測試要求. inTEST 已收購 Thermonics 和 Temptronic. 上海伯東是美國 inTEST 中國總代理.
若您需要進一步的了解詳細信息或討論, 請參考以下聯(lián)絡(luò)方式:
上海伯東: 羅先生 臺灣伯東: 王女士
T: +86-21-5046-1322 T: +886-3-567-9508 ext 161
F: +86-21-5046-1490 F: +886-3-567-0049
M: +86 152-0195-1076 M: +886-939-653-958
www.hakuto-china.cn www.hakuto-vacuum.com.tw
伯東版權(quán)所有, 翻拷必究!
全部評論(0條)
inTEST 熱流儀,熱流罩,eco-710,高低溫沖擊
報價:面議 已咨詢 558次
inTEST 熱流儀,熱流罩,ATS-730,高低溫沖擊
報價:面議 已咨詢 736次
inTEST 熱流儀,高低溫沖擊測試,ATS-750
報價:面議 已咨詢 541次
inTEST 熱流儀,ATS-770 熱流罩, 高低溫沖擊測試
報價:面議 已咨詢 381次
上海伯東氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 182 T ASM 182 TD+
報價:面議 已咨詢 248次
深孔板表面親水改性設(shè)備 (高分子材料表面親水改性)
報價:面議 已咨詢 345次
上海伯東 KRI 霍爾離子源 eH 400
報價:面議 已咨詢 299次
上海伯東離子蝕刻機,離子刻蝕機
報價:面議 已咨詢 288次
①本文由儀器網(wǎng)入駐的作者或注冊的會員撰寫并發(fā)布,觀點僅代表作者本人,不代表儀器網(wǎng)立場。若內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益,請及時告訴,我們立即通知作者,并馬上刪除。
②凡本網(wǎng)注明"來源:儀器網(wǎng)"的所有作品,版權(quán)均屬于儀器網(wǎng),轉(zhuǎn)載時須經(jīng)本網(wǎng)同意,并請注明儀器網(wǎng)(m.sdczts.cn)。
③本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明來源的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品來源,并自負版權(quán)等法律責(zé)任。
④若本站內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益,請及時告訴,我們馬上修改或刪除。郵箱:hezou_yiqi
【深度解析】ICH Q2(R2)新規(guī)下,如何重構(gòu)您的離子色譜分析方法驗證策略?
參與評論
登錄后參與評論