電致發(fā)光測量系統(tǒng)NovaLum是東譜科技HiOE穩(wěn)態(tài)綜合光電特性測量平臺(tái)中的重要成員，用于對電致發(fā)光樣品的性能進(jìn)行精確測量。該系統(tǒng)包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，可以便捷、快速地得到電致發(fā)光器件全面的性能參數(shù)，如電致發(fā)光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學(xué)、色度學(xué)、穩(wěn)定性、發(fā)光角度分布等相關(guān)性能參數(shù)。該設(shè)備很好地解決了行業(yè)上：（1）利用分光輻射度計(jì)測試時(shí)，存在低亮度測試速度慢、高亮度過曝的問題，從而不能用于易老化器件的測試，也不適宜用于寬亮度范圍的器件測試；（2）利用積分球系統(tǒng)測試時(shí)，無法得到準(zhǔn)確的前向亮度參數(shù)，且高亮度時(shí)也存在過曝問題，不能對強(qiáng)發(fā)光樣品進(jìn)行測試等的問題。

NovaLum可以得到準(zhǔn)確的亮度，因而適宜OLED、鈣鈦礦LED、量子點(diǎn)LED、顯示屏等面光源的測量；配備自動(dòng)化的角度分辨測試功能，可以快速得到樣品發(fā)光的空間分布特性；配備了穩(wěn)定性測試功能，進(jìn)行老化測試，具有寬的亮度檢測范圍（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）；可以進(jìn)行各種環(huán)境的測試，如氣體氛圍、器件不封裝轉(zhuǎn)移測試等，同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)手套箱內(nèi)快速換樣測試；配備自動(dòng)對焦和觀察、自動(dòng)位移、自動(dòng)子器件切換等系統(tǒng)，可以極大地提升測試效率。

NovaLum擁有多種掃描模式：電壓掃描、電流掃描、角度掃描、時(shí)間掃描； 分段循環(huán)電流、電壓掃描：可以研究器件的遲滯效應(yīng)等；實(shí)時(shí)測量：可以實(shí)時(shí)單點(diǎn)測量，靈活判斷器件的工作情況；兩線/四線測量：四線測量可更加準(zhǔn)確地測量器件的電流電壓；自動(dòng)切換器件：通過軟件選擇測量的子器件；自動(dòng)積分時(shí)間：避免因?yàn)榱炼冗^低導(dǎo)致測不出信號、或亮度過高導(dǎo)致的過曝的問題；配備可視化實(shí)時(shí)觀察及位移系統(tǒng)：在軟件中可以實(shí)時(shí)觀察到器件的表面發(fā)光情況，可軟件操作對焦；自動(dòng)保存數(shù)據(jù)：測量過程中自動(dòng)保存數(shù)據(jù)，避免數(shù)據(jù)丟失狀況等功能。

其廣泛應(yīng)用于量子點(diǎn)發(fā)光二極管（QLED）、有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）、發(fā)光二極管（LED）、鈣鈦礦發(fā)光二極管（PeLED）、其它各種類型的電致發(fā)光器件。