賽默飛Orion?2230XP是針對痕量至微量二氧化硅(SiO?)檢測的高精度專用工具,核心優(yōu)勢聚焦低限檢測、抗干擾與自動化,適配多場景嚴格需求:
| 參數(shù)項 | 具體指標 |
|---|---|
| 檢測范圍(SiO?) | 0.01 ppb ~ 1000 ppb |
| 檢測限(LOD) | ≤0.01 ppb |
| 精度 | ±2% 讀數(shù) 或 ±0.01 ppb(取較小值) |
| 響應(yīng)時間(T??) | ≤15 min(典型值) |
| 樣品體積 | 約10 mL/單次測試 |
| 校準方式 | 自動兩點校準(可選自定義) |
| 數(shù)據(jù)存儲 | 1000組(含時間戳) |
| 輸出接口 | RS232、USB、4-20mA模擬輸出 |
| 操作溫度范圍 | 15-35℃(無冷凝) |
Orion?2230XP通過優(yōu)化的比色系統(tǒng)解決了痕量SiO?檢測的痛點,是實驗室與工業(yè)場景中SiO?檢測的可靠選擇。
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Thermo Scientific? Orion? 8010cX 工藝氨分析儀應(yīng)用領(lǐng)域
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