核心應(yīng)用與合規(guī)場景
來料管控操作流程
關(guān)鍵參數(shù)與方法要點
| 參數(shù)項 | 推薦設(shè)置 | 注意事項 |
|---|---|---|
| 檢測范圍 | EDX-7000:Na~U;EDX-8000:C~U | 輕元素檢測優(yōu)先選 EDX-8000 并啟用真空 / 氦氣 |
| 準(zhǔn)直器 | 3/5/10mmφ | 小樣品 / 異物用小準(zhǔn)直器,減少基體干擾 |
| 測量時間 | 篩查 30–60s;定量 120–300s | 精度優(yōu)先時延長至 300s,批量篩查可縮短至 30s |
| 工作曲線 | 標(biāo)配曲線或自制(≥3 點,覆蓋含量范圍) | 標(biāo)樣與試樣基體、形狀、厚度一致,每兩周用管控樣校驗 |
| 氣氛 | 輕元素:真空 / 氦氣;常規(guī):空氣 | 粉末 / 液體禁用真空,防止飛濺 |
常見問題與對策
| 問題 | 原因 | 對策 |
|---|---|---|
| 輕元素(C/O)結(jié)果偏低 | 無真空 / 氦氣、樣品厚度不足 | 啟用真空 / 氦氣,樣品厚度≥5mm,使用 EDX-8000 |
| 結(jié)果波動大 | 樣品不均、位置偏移、曲線漂移 | 增加測量點,居中放置,每兩周用質(zhì)控樣校準(zhǔn) |
| 異物定位困難 | 照射區(qū)域過大 | 用 3mmφ 準(zhǔn)直器 + 樣品觀察相機精準(zhǔn)定位 |
| 鍍層厚度不準(zhǔn) | 基體干擾、膜厚超出校準(zhǔn)范圍 | 用專用鍍層方法,校準(zhǔn)曲線覆蓋目標(biāo)厚度區(qū)間 |
效率提升建議

全部評論(0條)
二手 AB SCIEX LC-MSMS 5000 液質(zhì)聯(lián)用儀
報價:面議 已咨詢 73次
PE 二手 ICP-MS 300D等離子體質(zhì)譜儀
報價:¥300000 已咨詢 46次
二手 QTRAP? 5500 LC-MS/MS 液質(zhì)聯(lián)用儀
報價:面議 已咨詢 71次
SHIMADZU TGA-50 熱重分析儀
報價:面議 已咨詢 68次
二手 馬爾文 zs90 納米粒度儀
報價:面議 已咨詢 71次
NexlON 1000 二手 PE ICP-MS
報價:面議 已咨詢 15次
PE 二手 ICP-MS 350D 等離子體質(zhì)譜儀
報價:¥450000 已咨詢 44次
島津 AA-7000 原子吸收光譜儀
報價:面議 已咨詢 70次
二手 島津 EDX-GP 熒光光譜儀特點
2026-03-24
二手 島津 EDX-GP 熒光光譜儀參數(shù)
2026-03-24
二手 島津 EDX-GP 熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域
2026-03-24
二手 島津 GC-MSMS TQ 8050特點
2026-03-24
二手 島津 GC-MSMS TQ 8050參數(shù)
2026-03-24
二手 島津 GC-MSMS TQ 8050應(yīng)用領(lǐng)域
2026-03-24
①本文由儀器網(wǎng)入駐的作者或注冊的會員撰寫并發(fā)布,觀點僅代表作者本人,不代表儀器網(wǎng)立場。若內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益,請及時告訴,我們立即通知作者,并馬上刪除。
②凡本網(wǎng)注明"來源:儀器網(wǎng)"的所有作品,版權(quán)均屬于儀器網(wǎng),轉(zhuǎn)載時須經(jīng)本網(wǎng)同意,并請注明儀器網(wǎng)(m.sdczts.cn)。
③本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明來源的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品來源,并自負版權(quán)等法律責(zé)任。
④若本站內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益,請及時告訴,我們馬上修改或刪除。郵箱:hezou_yiqi
參與評論
登錄后參與評論