在現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)、質(zhì)量檢測(cè)以及高端工業(yè)生產(chǎn)中,對(duì)納米材料的精確表征至關(guān)重要。從藥品遞送系統(tǒng)的穩(wěn)定到新型催化劑的性能,再到油墨和涂料的分散性,粒徑分布和表面電荷(Zeta電位)是決定材料功能和應(yīng)用的關(guān)鍵參數(shù)。昊量科技新推出的高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測(cè)量?jī)x,集成了兩大核心納米表征技術(shù),以其的性能和便捷的操作,為廣大從業(yè)者提供了前所未有的洞察力。
傳統(tǒng)的納米粒徑測(cè)量往往需要獨(dú)立進(jìn)行Zeta電位測(cè)試,增加了實(shí)驗(yàn)步驟和潛在的誤差累積。昊量高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測(cè)量?jī)x的突出優(yōu)勢(shì)在于,它將動(dòng)態(tài)光散射(DLS)技術(shù)和激光多普勒技術(shù)(Electrophoretic Light Scattering, ELS)無(wú)縫集成于一體,通過(guò)一次樣品制備和測(cè)量,即可同時(shí)獲取納米顆粒的粒徑分布信息和Zeta電位值。
1. 高分辨率動(dòng)態(tài)光散射(DLS)技術(shù):
2. Zeta電位測(cè)量(ELS):
昊量高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測(cè)量?jī)x的優(yōu)異性能,直接轉(zhuǎn)化為其在各行業(yè)中的廣泛應(yīng)用價(jià)值。
昊量?jī)x器不僅關(guān)注測(cè)量性能,更致力于提升用戶(hù)體驗(yàn)。該二合一測(cè)量?jī)x配備了直觀(guān)易用的軟件界面,能夠自動(dòng)優(yōu)化測(cè)量參數(shù),并提供多種數(shù)據(jù)分析模式,如馬爾可夫模型、非負(fù)矩陣分解(NMF)等,以應(yīng)對(duì)復(fù)雜樣品。儀器的自動(dòng)化程度高,維護(hù)簡(jiǎn)便,顯著降低了操作門(mén)檻,讓更多科研人員能夠輕松掌握納米粒度和Zeta電位的測(cè)量。
通過(guò)集成兩大核心技術(shù),昊量高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測(cè)量?jī)x為納米材料的研究和應(yīng)用打開(kāi)了新的視角,助力用戶(hù)在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中占據(jù)技術(shù)優(yōu)勢(shì)。
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原位測(cè)量!高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測(cè)量?jī)x
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