基于自主可控的雙束電鏡系統(tǒng),成功實(shí)現(xiàn)28nm工藝節(jié)點(diǎn)芯片的透射電鏡(TEM)納米級(jí)樣品制備。經(jīng)TEM驗(yàn)證可清晰解析各結(jié)構(gòu)關(guān)鍵尺寸,為半導(dǎo)體工藝缺陷分析與良率提升提供國產(chǎn)化精密檢測(cè)方案。
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