賽默飛iCAP PRO系列搭載TrueCurve雙向觀測技術(shù)(垂直+水平等離子體觀測),針對不同元素特性優(yōu)化觀測方式:低痕量元素(如As、Hg)采用水平觀測提升靈敏度,高濃度元素(如Na、K)采用垂直觀測抑制基體干擾,無需切換模式即可實現(xiàn)全濃度范圍精準(zhǔn)分析。
同時配備固態(tài)分段電荷檢測器(SCD),替代傳統(tǒng)PMT檢測器,具備無死時間、全波長同步檢測能力,可同時覆蓋165-800nm波長區(qū)間(包含紫外區(qū)As、Se等關(guān)鍵元素),光譜干擾分離效率提升40%以上。
| 參數(shù)維度 | 具體指標(biāo)(典型值) |
|---|---|
| 波長覆蓋 | 165-800nm(全元素分析無盲區(qū)) |
| 分辨率 | <0.008nm(FWHM,200nm處,分離Fe/Mn干擾) |
| 檢出限(μg/L) | Na<0.002、As<0.01、Hg<0.005、Pb<0.003 |
| 動態(tài)范圍 | 7-9個數(shù)量級(1μg/L至1000mg/L,無需稀釋) |
| 分析速度 | 20元素同時分析<30秒/樣品(高通量適配) |
| RF發(fā)生器 | 固態(tài)27.12MHz,功率1000-1600W,穩(wěn)定性±0.1% |
| 霧化效率 | 旋流霧化器+雙通道霧室,達(dá)15%以上(提升30%) |
軟件端搭載Qtegra智能分析平臺,符合21 CFR Part 11數(shù)據(jù)合規(guī)要求,支持方法審計追蹤;前處理兼容微波消解、酸消解等主流方式;維護環(huán)節(jié)采用霧化器自清洗技術(shù),RF發(fā)生器無耗材,年維護成本降低25%以上。
作為ICP-OES領(lǐng)域的成熟機型,賽默飛iCAP PRO系列憑借“精準(zhǔn)、高效、適配廣”的特點,成為實驗室從痕量到常量分析的核心工具,尤其適合對數(shù)據(jù)可靠性有嚴(yán)格要求的行業(yè)場景。
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