2025.9.25 19:00 - 20:00 

網絡研討會

作為全球領先的顯微鏡技術提供商，TESCAN 一直致力于通過創(chuàng)新技術推動微觀分析領域的進步。我們深知，聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）的強大功能不應被操作復雜性所限制。因此，我們引入了先進的人工智能技術，為 FIB-SEM 平臺帶來了革命性的自動化解決方案，讓即使是初學者也能輕松駕馭復雜的樣品制備任務，如復雜的TEM樣品制備方法中的平切與倒切。

在即將到來的 9 月 25 日的網絡研討會中，TESCAN 的資深專家將向您展示兩款我們精心研發(fā)的自動化工具，它們正在重塑樣品制備的工作流程：

AutoSection? 是 TESCAN 的一項創(chuàng)新技術，它能夠根據用戶定義參數，自動完成以下關鍵步驟：

• 聚焦離子束截面切割：精確控制離子束，實現高質量的截面切割。

• 激光-FIB 樣品臺校準：確保樣品臺的精準定位，提高操作的可靠性。

• 搖擺拋光：通過自動化的搖擺運動，實現均勻的表面拋光。

• SEM成像：在切割過程中實時獲取高質量的 SEM 圖像。

• 基于用戶定義參數的終止操作：根據預設條件自動停止操作，確保結果的可重復性。

TEM AutoPrep? Pro 是 TESCAN 的另一項突破性技術，它實現了透射電子顯微鏡（TEM）樣品的全自動制備，包括：

• 平切與倒切：新增的制備功能，進一步拓展了 FIB-SEM 的應用范圍。

• 全自動制備流程：從樣品加載到最終制備完成，全程自動化，減少人為干預，提高制備效率和質量。

這些創(chuàng)新工具不僅提高了樣品制備的效率和精度，還降低了操作門檻，讓更多的科研人員能夠快速上手并高效完成復雜的樣品制備任務。我們期待在 9 月 25 日的網絡研討會中與您共同見證這些技術的強大功能，開啟樣品制備的新時代。