介電常數(shù)及介電損耗測(cè)試儀是一種用于測(cè)量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗的測(cè)量?jī)x器,而且主要的目的是通過(guò)介電常數(shù)和介質(zhì)損耗兩個(gè)參數(shù),能夠反應(yīng)材料的介電性能,常常被應(yīng)用在材料科學(xué)、電子工程、通訊工程和無(wú)機(jī)金屬新材料性能應(yīng)用的研究。
DZ5001介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要測(cè)量絕緣材料,包括:金屬氧化物、板材、瓷器、陶器、云母、玻璃和塑料等,采用的是高頻諧振法,主要的測(cè)量原理是通過(guò)測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值、電感器的電感量和分布電容量、電容器的電容量和損耗角正切值,以及電工材料的高頻介質(zhì)損耗和傳輸線的特性阻抗等參數(shù),來(lái)準(zhǔn)確地測(cè)定介質(zhì)損耗和介電常數(shù)。
介電常數(shù)及介電損耗測(cè)試儀具備哪些優(yōu)勢(shì)?
1、操作便捷。DZ5001采用液晶顯示器,使得測(cè)量過(guò)程可以通過(guò)直觀的數(shù)據(jù)進(jìn)行操控,從而簡(jiǎn)化了操作流程。這種用戶友好的設(shè)計(jì),不僅提高了操作的便利性,也降低了對(duì)操作人員的技術(shù)要求?!?/p>
2、設(shè)計(jì)優(yōu)化。DZ5001具有一體化的機(jī)型設(shè)計(jì),內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容和電源,這不僅便于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試,還減少了外接線的需要。這樣的設(shè)計(jì)使得DZ5001成為一款便攜式、易于現(xiàn)場(chǎng)操作的儀器,極大地提升了其應(yīng)用范圍和靈活性?!?/p>
3、自動(dòng)扣除功能。DZ5001能夠自動(dòng)扣除殘余電感和測(cè)試引線電感,這大大提高了測(cè)量精度。這一特性意味著即使在外部條件變化或存在干擾的情況下,儀器也能保持高精度的測(cè)量結(jié)果。
4、數(shù)顯微測(cè)量裝置。DZ5001配備了數(shù)顯微測(cè)量裝置,可以直接讀值。這種直接顯示測(cè)量結(jié)果的設(shè)計(jì),不僅使數(shù)據(jù)讀取更為便捷,也減少了讀數(shù)誤差,提高了整體的測(cè)量效率?!?/p>
5、精度高。DZ5001由于采用了高頻諧振法,結(jié)合上述的設(shè)計(jì)和技術(shù)特點(diǎn),DZ5001能夠提供高精度的測(cè)量結(jié)果。這對(duì)于科研和工業(yè)應(yīng)用中的材料分析與質(zhì)量控制至關(guān)重要,確保了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。
介電常數(shù)及介電損耗測(cè)試儀的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn):
1、GB/T1409-2006 介電損耗試驗(yàn)
2、GB/T 1693-2007硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法
3、ASTM D150-98 固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測(cè)試方法
全部評(píng)論(0條)
登錄或新用戶注冊(cè)
請(qǐng)用手機(jī)微信掃描下方二維碼
快速登錄或注冊(cè)新賬號(hào)
微信掃碼,手機(jī)電腦聯(lián)動(dòng)
介電常數(shù)儀
報(bào)價(jià):面議 已咨詢(xún) 88次
DZ-DSC400 差示掃描量熱儀
報(bào)價(jià):面議 已咨詢(xún) 0次
差示熱分析法
報(bào)價(jià):面議 已咨詢(xún) 23次
南京大展 差示掃描量熱儀品牌 低溫款
報(bào)價(jià):面議 已咨詢(xún) 0次
熱導(dǎo)率儀
報(bào)價(jià):面議 已咨詢(xún) 0次
熱失重測(cè)試儀
報(bào)價(jià):¥80000 已咨詢(xún) 19次
南京大展 國(guó)產(chǎn)同步熱分析儀 自動(dòng)升降
報(bào)價(jià):面議 已咨詢(xún) 0次
導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試設(shè)備
報(bào)價(jià):面議 已咨詢(xún) 15次
①本文由儀器網(wǎng)入駐的作者或注冊(cè)的會(huì)員撰寫(xiě)并發(fā)布,觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表儀器網(wǎng)立場(chǎng)。若內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益,請(qǐng)及時(shí)告訴,我們立即通知作者,并馬上刪除。
②凡本網(wǎng)注明"來(lái)源:儀器網(wǎng)"的所有作品,版權(quán)均屬于儀器網(wǎng),轉(zhuǎn)載時(shí)須經(jīng)本網(wǎng)同意,并請(qǐng)注明儀器網(wǎng)(m.sdczts.cn)。
③本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明來(lái)源的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性,不承擔(dān)此類(lèi)作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品來(lái)源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
④若本站內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益,請(qǐng)及時(shí)告訴,我們馬上修改或刪除。郵箱:hezou_yiqi
從復(fù)雜基質(zhì)中“捉”出目標(biāo)離子:環(huán)境與食品樣品前處理“避坑”指南
參與評(píng)論
登錄后參與評(píng)論