能譜具有操作簡單、分析速度快以及結(jié)果直觀等特點,Z重要的是其價格相比于高大上的蔡司掃描電鏡來說更為低廉,因此能譜也成為了目前電鏡的標(biāo)配。

今天這篇文章集齊了有關(guān)能譜(EDS)的各種問題,希望能給大家?guī)韼椭?/p>
Q1:能譜的縮寫是EDS還是EDX?
開始的時候能譜的縮寫有很多,比如EDS,EDX,EDAX等,大家對此也都心照不宣,知道ED就是Energy Dispersive,后面因為X-ray Analysis和Spectrum這幾個詞的不同用法,導(dǎo)致了縮寫的不同。而且相應(yīng)的漢譯也有很多,比如能量色散譜,能量散射譜等等。
不過,到了2004年左右,相關(guān)協(xié)會規(guī)定,EDS就是能譜或者能譜儀,EDX就是能譜學(xué),Dispersive就不去翻譯。
這樣EDS就應(yīng)該是文章里的正規(guī)用法,而現(xiàn)在有很多文章仍然使用其他說法,有約定俗成的味道,大家知道怎么回事就行了。
Q2:TEM的能譜誤差比SEM的小嗎?
A2:因為很多人知道TEM的分辨率高,所以認(rèn)為TEM所配能譜的分辨率高于SEM。這可以說是一個非常錯誤的論斷。
同樣廠家的能譜,同一時期的產(chǎn)品,用于TEM的分辨率通常要低于SEM幾個eV,誠然,TEM可能會觀察到更小的細(xì)節(jié),但這只是能譜分析范圍的精準(zhǔn),并不代表能譜的分辨率高。SEM的樣品比較容易制備,而且跟厚度關(guān)系不大,一般電子束深入樣品的高度為幾個微米,定量時可以放相應(yīng)樣品的標(biāo)樣(比如純Si就用純Si標(biāo)樣,MgO就用MgO標(biāo)樣,有很多國級標(biāo)樣供選擇)來做校正。比較重的元素諸如很多金屬和稀土元素的分析結(jié)果可以認(rèn)為是定量的。
上海硅酸鹽研究所的李香庭教授對SEM和電子探針的EDS分析結(jié)果做過比較系統(tǒng)的講述,我摘抄如下:
EDS分析的低含量是0.x%(注:這個x是因元素不同而有所變化的。)
“電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則”國家標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了EDS的定量分析的允許誤差(不包括含超輕元素的試樣)。對平坦的無水、致密、穩(wěn)定和導(dǎo)電良好的試樣,定量分析總量誤差小于±3%。
另外,EDS分析的相對誤差也有相應(yīng)的規(guī)定:
a) 主元素(>20%wt)允許的相對誤差≤±5%。
b) ±3%wt ≤含量≤ 20%wt的元素,允許的相對誤差≤ 10%。
c) ±1%wt≤含量≤ 3%wt的元素,允許的相對誤差≤ 30%。
d) ±0.5%wt≤含量≤ 1%wt的元素,允許的相對誤差≤ 50%。
對于不平坦試樣,可用三點分析結(jié)果的的平均值表示,或在總量誤差小于等于±5%的情況下,如確認(rèn)沒有漏測元素時,允許使用歸一化值作為定量分析結(jié)果。偏差大于±5%,只能作為半定量結(jié)果處理。
但很多時候并沒有相應(yīng)標(biāo)樣,也就用數(shù)據(jù)庫里的標(biāo)樣數(shù)據(jù)直接用來定量,稱為無標(biāo)樣定量?!半m然無標(biāo)樣定量分析方法現(xiàn)在無國家標(biāo)準(zhǔn),但在不平試樣、粉體試樣及要求不高的一般分析研究中,應(yīng)用還比較廣泛,現(xiàn)在正在考慮制定“EDS無標(biāo)樣定量分析方法”國家標(biāo)準(zhǔn)?!?/p>
TEM的樣品多數(shù)是薄樣品,這對于分析來說似乎是件好事,因為可以減少干擾,但定量的時候需要考慮樣品厚度,反而又是個難題,因為很難準(zhǔn)確得出微區(qū)上的樣品厚度,這就給定量帶來了很大難題,而且就是有標(biāo)樣,也因為無法做出相應(yīng)厚度的樣品去對應(yīng)比較,就我所知,國級的TEM標(biāo)樣還沒有一個。
這樣,大家應(yīng)該就能理解,對于很多樣品,TEM的EDS分析就是半定量的,對于輕元素,甚至只能定性,大家能做到的,就是選取適當(dāng)合理的分析工具,盡量找到干擾小的區(qū)域,取多點分析平均(好隨機取20點以上),以盡量減少誤差。
Q3:EDS的譜峰有很多峰位對應(yīng)于一個元素,是不是說明這個元素含量很高?
看了EDS的原理這個問題就會明白。
EDS是一個電子殼層的電子被外來粒子或者能量激發(fā),留下一個空位,然后外層電子躍遷至這個空位,同時就會放出特征X射線,這樣不同殼層之間的電子轉(zhuǎn)移導(dǎo)致的能量差就會有不同的譜線,EDS譜線就是把這些特征X射線脈沖的累積分開得到的。
這樣一來,譜線越多,說明外面的電子占有殼層越多。而定量分析時是根據(jù)不同元素來選擇不同線系的譜峰強度以及這個元素的響應(yīng)值來做計算的,所以譜峰多跟元素含量沒有關(guān)系。
全部評論(0條)
蔡司掃描電鏡Crossbeam 340
報價:¥4000000 已咨詢 331次
卡爾蔡司三次元CALENO
報價:¥300000 已咨詢 621次
蔡司共聚焦顯微鏡搭載Airyscan 2技術(shù)LSM 980
報價:¥2000000 已咨詢 1619次
蔡司三坐標(biāo)培訓(xùn)機構(gòu)
報價:¥300000 已咨詢 960次
MMZ E蔡司龍門式大型三坐標(biāo)測量機
報價:面議 已咨詢 755次
蔡司共聚焦顯微鏡Smartproof 5
報價:¥2000000 已咨詢 451次
X射線計算機斷層掃描系統(tǒng)
報價:¥2000000 已咨詢 2422次
蔡司工業(yè)CT METROTOM 1
報價:¥1000000 已咨詢 472次
①本文由儀器網(wǎng)入駐的作者或注冊的會員撰寫并發(fā)布,觀點僅代表作者本人,不代表儀器網(wǎng)立場。若內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益,請及時告訴,我們立即通知作者,并馬上刪除。
②凡本網(wǎng)注明"來源:儀器網(wǎng)"的所有作品,版權(quán)均屬于儀器網(wǎng),轉(zhuǎn)載時須經(jīng)本網(wǎng)同意,并請注明儀器網(wǎng)(m.sdczts.cn)。
③本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明來源的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
④若本站內(nèi)容侵犯到您的合法權(quán)益,請及時告訴,我們馬上修改或刪除。郵箱:hezou_yiqi
客戶問,為什么他的反應(yīng)釜音叉開關(guān)總出問題?
參與評論
登錄后參與評論