單通道石英晶體微天平的發(fā)展始于上世紀60年代初期，它是一種非常靈敏的質(zhì)量檢測儀器，其測量精度可達納克級，比靈敏度在微克級的電子微天平高1000 倍，理論上可以測到的質(zhì)量變化相當于單分子層或原子層的幾分之一。石英晶體微天平利用了石英晶體的壓電效應(yīng)，將石英晶體電極表面質(zhì)量變化轉(zhuǎn)化為石英晶體振蕩電路輸出電信號的頻率變化，進而通過計算機等其他輔助設(shè)備獲得高精度的數(shù)據(jù)。

       單通道石英晶體微天平芯片清洗裝置。在下壓板上端面和上壓板下端面分別開有相對應(yīng)的與被清洗的單通道石英晶體微天平芯片形狀相同的嵌入槽，兩個U形圈分別嵌裝在上下壓板內(nèi)，且兩個U形圈能分別壓在單通道石英晶體微天平芯片上下兩側(cè)，兩個U形圈的開口方向與單通道石英晶體微天平芯片電極引線方向相反，上下壓板通過固定螺栓固定密封成清洗裝置，上壓板靠近U形圈半圓的嵌 入槽中開有流體入口，下壓板靠近U形圈開口處開有流體出口，流體出入口分別用橡膠塞塞住。

       本發(fā)明可以在單流體出入口的情況下實現(xiàn)兩側(cè)芯片表面同時清洗，且不怕移動或晃動,也可以用于芯片表面生物材料的培育,結(jié)構(gòu)簡單,安裝和操作方便，清洗時完全隔離開單通道石英晶體微天平芯片引線和清洗液。