破解干擾難題：

超高分辨率ICP-OES直接分離譜線干擾

硬件級高分辨率：采用棱鏡+中階梯光柵雙色散系統(tǒng)，光學分辨率高達2pm@200nm，配合高分辨CCD檢測器（2pm/pixel）。從下面列舉的部分稀土元素峰圖可見，標準溶液及實際釹鐵硼樣品的目標峰和干擾峰能從光學層面清晰分離，從根本上減少干擾。無需建立校正模型或使用數(shù)學算法扣除背景，所測即所得。讓儀器的高性能解決分析難題，減少人工經(jīng)驗處理，回歸儀器分析本質(zhì)。

圖 部分海關出口監(jiān)管的中重稀土元素典型峰圖

（藍色為釹鐵硼實際樣品，紅色為標準溶液，黃色為像素積分區(qū)域）

◆ 峰中心對齊功能：可自定義目標峰，選擇最佳基線位置，避開干擾峰；

◆ 可選像素功能：可調(diào)整積分區(qū)域，通過像素大小獲得更高靈敏度或更低背景干擾；

◆ 分析線識別功能：工作站提供了強大的譜線數(shù)據(jù)庫，對未知峰可進行初步識別，確定干擾來源；

◆ 配分量（歸一化）功能：可自定義參與配分計算的譜線，配分量軟件直出配分量結(jié)果，減少分析人員工作量和誤操作。

圖  軟件工作站直接輸出配分量（歸一化）結(jié)果

典型客戶案例：

1、某海關技術中心：

使用耶拿Plasma Quant 9100 Elite測試7個釹鐵硼GSB有證標準樣品，一次測試所有稀土元素測定結(jié)果完全滿足質(zhì)控要求。

7個釹鐵硼有證標準樣品測試結(jié)果      單位：%

注：“/”表示該有證標準樣品不含該元素或未定值

2、國家級別某稀土實驗室：

使用統(tǒng)一的釹鐵硼廢料質(zhì)控樣進行儀器間比對，耶拿Plasma Quant 9100 Elite與實驗室原ICP-OES設備測試結(jié)果一致，符合標準允差范圍，獲得客戶高度認可。

釹鐵硼廢料質(zhì)控樣 儀器間比對       單位：%

不止于儀器：

提供“前處理+上機”全流程解決方案

◆全套方法驗證：除了聚焦儀器分析，我們從高純標準物質(zhì)溶解、標準曲線配制，到樣品粉碎、稱量、消解、定容，形成完整的SOP（標準操作流程）。

◆ 快速賦能客戶：憑借成熟的SOP和整體解決方案，可協(xié)助客戶在3-5天內(nèi)快速建立符合標準的釹鐵硼合金和廢料的檢測能力，縮短方法開發(fā)周期。

高純稀土氧化物（標準物質(zhì)）

釹鐵硼樣品破碎與稱量