在剛剛閉幕的中國植物保護(hù)學(xué)會(huì)2024年學(xué)術(shù)年會(huì)上，北京易科泰生態(tài)技術(shù)有限公司向與會(huì)的專家學(xué)者們展示了植物保護(hù)領(lǐng)域的先進(jìn)儀器技術(shù)和產(chǎn)品方案，包括植物病害檢測與早期診斷技術(shù)、蟲害監(jiān)測與預(yù)警、外來物種入侵研究監(jiān)測技術(shù)、植物對農(nóng)藥的響應(yīng)、抗病蟲害植物育種與表型組學(xué)等等，涉及如下國際先進(jìn)技術(shù)：

√ 葉綠素?zé)晒獬上窦夹g(shù)

√ FluorTron?多功能高光譜成像技術(shù)

√ Thermo-RGB一體式紅外熱成像技術(shù)

√ 無人機(jī)遙感技術(shù)

√ 植物表型分析技術(shù)

√ 昆蟲及嚙齒類能量代謝表型測量技術(shù)等

 自左至右依次為：蚜蟲危害茄葉葉綠素?zé)晒獬上?、小麥雜草高光譜成像檢測、小麥對兩種鐮刀菌的抗性高光譜成像檢測、蚜蟲-植物互作——紅外熱成像溫度檢測（Enhanced heat tolerance of viral-infected aphids leads to niche expansion and reduced interspecific competition. Nature Communications, 2020）

       會(huì)議期間，易科泰工程師與有關(guān)專家進(jìn)行了深入交流，并收到了一些專家、學(xué)者關(guān)于技術(shù)服務(wù)、合作實(shí)驗(yàn)等方面的咨詢和需求。為了響應(yīng)老師們的支持鼓勵(lì)，更好地滿足植物保護(hù)科研監(jiān)測市場需求，易科泰生態(tài)技術(shù)公司決定利用現(xiàn)有EcoTech?實(shí)驗(yàn)室（北京）、西安光譜成像與無人機(jī)遙感研究中心儀器設(shè)備和技術(shù)人員，對外開展植物保護(hù)研究檢測實(shí)驗(yàn)研究合作和技術(shù)服務(wù)，歡迎有關(guān)大學(xué)、科研機(jī)構(gòu)、植物保護(hù)部門就植物病蟲害檢測與早期診斷、種苗健康檢測、植物抗性篩選、植物表型檢測、化學(xué)防 治響應(yīng)研究檢測（植物對除草劑的響應(yīng)及閾值檢測分析、害蟲害鼠代謝響應(yīng)等）、雜草及外來種入侵適應(yīng)性研究等聯(lián)系實(shí)驗(yàn)合作或技術(shù)服務(wù)。EcoTech?實(shí)驗(yàn)室及西安光譜成像與無人機(jī)遙感研究中心目前配備的儀器設(shè)備有：

1. FluorTron多功能高光譜成像系統(tǒng)，有臺式和XYZ掃描式高通量平臺

2. PhenoPlot輕便型大田光譜成像系統(tǒng)

3. 葉綠素?zé)晒獬上裣到y(tǒng)，有便攜式和臺式儀器設(shè)備

4. Thermo-RGB成像系統(tǒng)

5. EcoDrone?無人機(jī)遙感系統(tǒng)

6. 可以提供非損傷、數(shù)字化、可視化研究檢測技術(shù)服務(wù)

您也可以掃描下方二維碼登記您的需求：

也可將需求發(fā)送到易科泰技術(shù)部郵箱：support@eco-tech.com.cn，并盡量附上必要的信息：

用戶信息：姓名、單位

樣本信息：如番茄苗、水稻葉片等等

實(shí)驗(yàn)處理：如高溫脅迫等概述

樣品數(shù)量：大概需要測試多少植株或多少葉片，如3組實(shí)驗(yàn)組+1組對照，共10株等

實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?/p>

您期望的聯(lián)系方式（選填）：如覺郵箱不便，可留下您的微信等聯(lián)系方式

我們負(fù)責(zé)的技術(shù)工程師會(huì)盡快與您聯(lián)系

部分產(chǎn)品及成果展示：

FluorTron?多功能高光譜成像分析系統(tǒng)

左圖：FluorTron?多功能高光譜成像分析系統(tǒng)；右圖：自左至右依次為：健康指數(shù)、PRI指數(shù)、藍(lán)綠熒光與葉綠素?zé)晒獗戎抵笖?shù)、F737/F700（反映葉綠素含量）?？梢钥闯?，隨著自上至下施藥濃度的梯度增大，水培大豆苗受脅迫程度逐漸加重，其中UV-MCF成像最為靈敏（易科泰EcoTech?實(shí)驗(yàn)室與中國農(nóng)科院植保所合作項(xiàng)目）

FluorTron?葉綠素?zé)晒獬上穹治鱿到y(tǒng)

 左圖：模塊式FluorCam葉綠素?zé)晒獬上裣到y(tǒng)和FluorTron葉綠素?zé)晒鈩?dòng)態(tài)成像系統(tǒng)；右圖：獼猴桃彩色成像和葉綠素?zé)晒獬上瘢伸`敏檢測損傷或霉變情況）

PhenoPlot輕便型大田光譜成像系統(tǒng)

 右圖為大田大豆樣地側(cè)面高光譜成像分析，可以看出雜草（中間下部深藍(lán)色葉片）PRI指數(shù)（反映光利用效率）明顯高于大豆