- 2025-01-10 10:53:39TEM/FIB
- TEM/FIB分別指的是透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope）和聚焦離子束（Focused Ion Beam）技術(shù)的結(jié)合。TEM利用高能電子束穿透樣品進(jìn)行成像，具有高分辨率，可觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)。而FIB則通過聚焦的高能離子束對樣品進(jìn)行微納加工，如切割、雕刻和沉積等。TEM/FIB復(fù)合技術(shù)結(jié)合了兩者的優(yōu)點(diǎn)，既可用于樣品的高精度成像分析，又可實(shí)現(xiàn)樣品的微納級加工和改性，是材料科學(xué)、半導(dǎo)體研究和納米技術(shù)領(lǐng)域的重要分析工具。
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