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反射膜厚儀 -無損膜厚測量方案F20
KLA FilmetricsF20是一款高精度薄膜厚度測量儀,采用光譜反射技術(shù),測量范圍覆蓋1納米至3毫米,具備一鍵操作、非接觸測量及多層結(jié)構(gòu)分析能力,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、OLED、光伏、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域,兼具高精度與易用性。
反射式膜厚測量分析系統(tǒng) NanoSense
應(yīng)用領(lǐng)域
NS-20 / NS-20 Pro 桌面式手動膜厚儀
NS-20 / NS-20 Pro 桌面式手動膜厚儀
NS-Touch 彎曲表面膜厚儀(手持)
反射透射測量雙通道膜厚儀NS-Vista
蘇州悉識 NS-OEM系列(膜厚測量套件)